[發(fā)明專利]一種巖石樣品物理模量光學(xué)測量裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310739367.0 | 申請日： | 2013-12-26 |
| 公開（公告）號： | CN104155173B | 公開（公告）日： | 2017-09-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 趙建國;趙嵩卿 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國石油天然氣集團(tuán)公司;中國石油大學(xué)(北京) |
| 主分類號： | G01N3/00 | 分類號： | G01N3/00;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127 | 代理人： | 湯在彥 |
| 地址： | 100007 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 巖石 樣品 物理 光學(xué) 測量 裝置 方法 | ||
1.一種巖石樣品物理模量光學(xué)測量裝置，其特征在于，所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量裝置包括：
高溫高壓倉，其內(nèi)設(shè)置有聲波震源及巖石樣品夾持器，所述巖石樣品夾持器上夾持有巖石樣品，其中，所述聲波震源為1-6000Hz的聲波震源；
壓力控制系統(tǒng)，用于將所述高溫高壓倉加壓到預(yù)置的壓力下；
加熱控制系統(tǒng)，用于將所述高溫高壓倉加熱到預(yù)置的溫度下；
第一光纖光柵傳感器，位于所述高溫高壓倉內(nèi)，粘附于巖石樣品上；
第二光纖光柵傳感器，位于所述高溫高壓倉內(nèi)，未粘附于所述巖石樣品上；
光纖光柵光譜解調(diào)儀，位于所述高溫高壓倉外，并連接所述第一光纖光柵傳感器和第二光纖光柵傳感器，用于在開啟所述聲波震源帶動(dòng)所述巖石樣品震動(dòng)后，通過所述第一光纖光柵傳感器和第二光纖光柵傳感器，測量在所述預(yù)置的壓力和所述預(yù)置的溫度下所述巖石樣品的應(yīng)變參數(shù)；
其中，所述高溫高壓倉上還具有玻璃窗，所述玻璃窗采用法蘭加聚四氟乙烯膠圈密封；所述玻璃窗為石英玻璃窗，厚度為1-10cm；
所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量裝置還包括：便攜式激光測振儀，用于放置于所述高溫高壓倉的玻璃窗外，測量所述巖石樣品的振幅和加速度。
2.如權(quán)利要求1所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量裝置，其特征在于，所述高溫高壓倉采用不銹鋼材質(zhì)；所述預(yù)置的壓力為0.1MP-20MPa；所述預(yù)置的溫度為25℃-120℃；所述巖石樣品至少為如下的一種：砂巖巖石樣品、油頁巖巖石樣品、泥巖巖石樣品。
3.如權(quán)利要求1所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量裝置，其特征在于，所述壓力控制系統(tǒng)包括活塞泵升壓系統(tǒng)；所述加熱控制系統(tǒng)包括：
電爐絲加熱裝置，設(shè)置于所述高溫高壓倉內(nèi)，控溫柜，設(shè)置于所述高溫高壓倉外，并連接所述電爐絲加熱裝置。
4.一種巖石樣品物理模量光學(xué)測量方法，其特征在于，所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量方法包括：
將聲波震源及巖石樣品夾持器設(shè)置于高溫高壓倉內(nèi)，所述巖石樣品夾持器上夾持有巖石樣品，其中，所述聲波震源為1-6000Hz的聲波震源；
將第一光纖光柵傳感器設(shè)置于所述高溫高壓倉內(nèi)，粘附于巖石樣品上；
將第二光纖光柵傳感器設(shè)置于所述高溫高壓倉內(nèi)，未粘附于所述巖石樣品上；
利用壓力控制系統(tǒng)將所述高溫高壓倉加壓到預(yù)置的壓力下，并利用加熱控制系統(tǒng)將所述高溫高壓倉加熱到預(yù)置的溫度下；
將光纖光柵光譜解調(diào)儀設(shè)置于所述高溫高壓倉外，并連接所述第一光纖光柵傳感器和所述第二光纖光柵傳感器；
在開啟所述聲波震源帶動(dòng)所述巖石樣品震動(dòng)后，通過所述第一光纖光柵傳感器和所述第一光纖光柵傳感器，測量在所述預(yù)置的壓力和所述預(yù)置的溫度下所述巖石樣品的應(yīng)變參數(shù)；
其中，所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量方法還包括：
在所述高溫高壓倉上設(shè)置玻璃窗，所述玻璃窗采用法蘭加聚四氟乙烯膠圈密封；所述玻璃窗為石英玻璃窗，厚度為1-10cm；
將便攜式激光測振儀放置于所述高溫高壓倉的玻璃窗外，測量所述巖石樣品的振幅和加速度。
5.如權(quán)利要求4所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量方法，其特征在于，所述高溫高壓倉采用不銹鋼材質(zhì)；所述預(yù)置的壓力為0.1MP-20MPa；所述預(yù)置的溫度為25℃-120℃；所述巖石樣品至少為如下的一種：砂巖巖石樣品、油頁巖巖石樣品、泥巖巖石樣品。
6.如權(quán)利要求4所述巖石樣品物理模量光學(xué)測量方法，其特征在于，所述壓力控制系統(tǒng)包括活塞泵升壓系統(tǒng)；所述加熱控制系統(tǒng)包括：
電爐絲加熱裝置，設(shè)置于所述高溫高壓倉內(nèi)，控溫柜，設(shè)置于所述高溫高壓倉外，并連接所述電爐絲加熱裝置。
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