[發(fā)明專利]對TDC進行非線性校正的方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310738218.2
• 申請日: 2013-12-27
• 公開（公告）號: CN104184473A
• 公開（公告）日: 2014-12-03
• 發(fā)明（設計）人: 呂新宇;安少輝
• 申請（專利權(quán)）人: 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

1.一種對TDC進行非線性校正的方法，其特征在于，包括以下步驟：

a)在探測器的掃描視野內(nèi)放置放射源，并將探測器與電子學的時間偏移初始化歸零；

b)探測輻射事件，記錄每個TDC通道的輸出次數(shù)，以獲得TDC通道的計數(shù)分布；

c)選擇一個TDC通道作為參考通道，使得布置在所選通道兩側(cè)的TDC通道的輸出次數(shù)之和相等；

d)為所述參考通道設置一個時間，并基于所述參考通道的時間計算各TDC通道的時間。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟d)中，基于所述參考通道的時間計算各TDC通道的時間，計算式為：

Ti-1=Ti-Ni×(TΣNi),i=c,c-1,c-2,c-3,...,0;]]>

Ti+1=Ti+Ni×(TΣNi),i=c,c+1,c+2,c+3,...]]>

其中，T_i表示序號為i的TDC通道的時間，c表示參考通道的序號，N_i表示序號為i的TDC通道的輸出次數(shù)，T表示TDC時鐘周期。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下步驟：響應于探測事件，由所述計算式計算得到TDC通道對應的時間。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，還包括以下步驟：由所述計算式計算得到時間與TDC通道的映射關系，生成時間與TDC通道的映射表，響應于探測事件，由所述映射表中查找得到TDC通道對應的時間。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟d)中，設置所述參考通道的時間為T表示TDC時鐘周期。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b)中，當滿足以下條件時，探測輻射事件，記錄每個TDC通道的輸出次數(shù)的步驟停止：對于有效通道，所記錄的TDC通道的平均輸出次數(shù)大于閾值。