[發明專利]一種組合型射頻功放測試用開關矩陣

有效

• 申請號: 201310737356.9
• 申請日: 2013-12-27
• 公開（公告）號: CN103647120A
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發明（設計）人: 黃文建
• 申請（專利權）人: 成都芯通科技股份有限公司
• 主分類號: H01P1/10
• 分類號: H01P1/10;H04B17/00
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 熊曉果;林輝輪

技術領域

本發明涉及射頻功放測試領域，特別涉及一種適用于TD-SCDMA，GSM以及WINMAX等各種移動通信制式的射頻功放模塊的組合型射頻功放測試用開關矩陣。?

背景技術

功放模塊的對外射頻信號端口分為4類：信號上行端口、信號下行端口、信號反饋端口和天線端口，端口數量隨功放的通道數和功放所在系統的接口定義不同而不同，一般來說通道數越多，功放的對外射頻信號端口就越多。?

傳統的功放模塊指標測試，是通過手動方式實現的。每測試一種指標都要按測試要求將功放模塊的相應信號端口連接到儀器的相應端口。這種方式對動則數十上百種的功放指標測試而言，極費時間；且由于人工連接的不一致性，會對射頻信號的插損、駐波等造成影響，導致測試結果不準。?

為了提高測試效率，有的公司采用定制開關鏈路的方式來實現對功放模塊的自動測試。該方式的優點是開關鏈路簡潔、成本低；缺點是針對性太強，不適合普遍性應用，不同的功放模塊接口定義不同，每次都需要重新去根據測試需要定制開關鏈路。?

為了解決自動測試通用性的問題，當前主流的自動測試是通過開關矩陣來連接功放模塊與儀器。開關矩陣主要分為兩種：4×4（4組產品端口/4路儀器端口）全矩陣、6×6（6組產品端口/6路儀器端口）全矩陣。其中4×4開關?矩陣（拓撲關系見圖2）可支持最多16路通信端口與4路儀器端口互連，優點是：可滿足業界主流4通道及以下射頻功放模塊的自動測試；缺點是：不支持日益增多的4通道以上射頻功放模塊的測試需要。6×6開關矩陣（拓撲關系見圖3）可支持最多36路通信端口與6路儀器端口互連，優點是：可滿足幾乎所有業界主流多通道射頻功放的自動測試；缺點是：1、多路開關用量多造成開關矩陣造價高昂，2、即使測試8通道功放模塊時，仍然有2組產品端口和2組儀器端口是空閑的，開關的利用率低。?

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術中所存在的上述不足，提供一種造價成本低、矩陣開關的利用率高的組合型射頻功放測試用開關矩陣。?

為了實現上述發明目的，本發明采用的技術方案是：?

一種組合型射頻功放測試用開關矩陣，所述開關矩陣包括Level1至Level7共7個單元，所述Level1單元包括4組開關，每組開關由4個SPDT開關組成；Level2單元包括4組開關，每組由1個SP4T開關組成；Level3單元包括4組開關，每組由1個SPDT開關組成；Level4單元包括2組開關，每組由1個SP4T開關組成；Level5單元包括2組開關分，每組由1個SPDT開關組成；Level6單元包括2組開關，每組由1個SPDT開關組成；Level7單元包括2組開關，每組由1個雙刀雙擲開關組成。?

其中，所述Level1單元中每組4個SPDT開關的COM端用于連接射頻功放的通信端口，Level1單元中每組4個SPDT開關的NO端口與Level2單元中對應組SP4T開關的J1-J4端口相連，Level1單元中每組4個SPDT開關的NC端口用于連接獨立負載；Level2單元中每組SP4T開關的COM端口分別與Level3單元中對應組SPDT開關的COM端口相連；所述Level3單元中四組?開關的J1-J4端口相連；所述Level4單元中兩組SP4T開關的COM端口分別與Level5單元中對應組SPDT開關的COM端口相連；所述Level5單元中兩組SPDT開關的NO端口分別與Level6單元中對應組SPDT開關的NO端口相連，Level5單元中兩組SPDT開關的NC端口作為外部端口使用，用于兩臺開關矩陣組合時連接另一臺開關矩陣；Level6單元中兩組SPDT開關的COM端口分別連接Level7單元中對應組雙刀雙擲開關的J1端口，Level6單元中兩組SPDT開關的NC端口作為外部端口使用，用于兩臺開關矩陣組合時連接另一臺開關矩陣；所述Level7單元中兩組雙刀雙擲開關的J2端口作為連接儀器的輸入/輸出端口，Level7單元中兩組雙刀雙擲開關的J3和J4端口用于連接外部衰減器；其中所述SPDT開關、SP4T開關、雙刀雙擲開關均為高頻同軸觸點型開關。?