[發明專利]隔墊物檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 201310736246.0
• 申請日: 2013-12-26
• 公開（公告）號: CN103698917A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 井楊坤;李桂;張宏遠;劉衛衛
• 申請（專利權）人: 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 李迪

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，尤其涉及隔墊物檢測裝置及方法。

背景技術

隨著科技的發展，液晶顯示已經頻繁應用于各種設備中。目前，液晶顯示器是常用的平板顯示器，其中薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display，簡稱TFT-LCD)是液晶顯示器中的主流產品。TFT-LCD通常包括對盒設置的陣列基板和彩膜基板，在陣列基板和彩膜基板之間填充有液晶層。其中，在陣列基板和彩膜基板之間設置有隔墊物，隔墊物對陣列基板和彩膜基板起到支撐盒厚的作用。

隔墊物是液晶顯示器的重要部件，隔墊物的高度決定了對盒后的陣列基板和彩膜基板需注入液晶的用量。隔墊物主要分為球形隔墊物及柱狀隔墊物，其中，柱狀隔墊物因為能很好地控制分布密度，從而能有效地保證液晶盒厚的均一性，成為現有普遍采用的方法。

現有技術中一般采用CCD圖像矩形面陣傳感器直接檢測隔墊物，測量速度比較慢，對裝置震動要求比較高，微小的異常都會引起測量不夠準確，造成液晶盒厚的異常，對于液晶旋光性及液晶屏的顯示效果都會有很大影響，并且會產生很多不良，如低溫起泡（Bubble）等，影響了液晶顯示器的質量；需要采用大理石基座、下部防震臺等，對設備的安裝的要求比較高；只能進行表面的檢測，無法檢測內部的損傷。

發明內容

（一）要解決的技術問題

本發明要解決的技術問題是：提供簡易的隔墊物檢測裝置及方法，對隔墊物進行準確的檢測。

（二）技術方案

為解決上述問題，根據本發明的第一方面，提供了一種隔墊物檢測裝置，包括：X射線成像單元和圖像處理單元，其中X射線成像單元包括X射線源和X射線敏感鏡頭；

X射線源，用于產生透過帶有隔墊物的基板的X射線；

X射線敏感鏡頭，接收透過基板的X射線并形成灰度圖像；

圖像處理單元，利用灰度圖像測量隔墊物的高度。

優選地，X射線源和X射線敏感鏡頭關于基板位置相對，X射線源為X射線陣列源，X射線敏感鏡頭為X射線敏感平板探測器。

優選地，X射線敏感鏡頭與基板之間設置有光闌。

優選地，所述X射線成像單元為兩個，關于基板位置相對，其中任一個的X射線成像單元的X射線敏感鏡頭接收另一個X射線成像單元的X射線源透過基板的X射線，形成灰度圖像。

優選地，所述兩個X射線成像單元可以在圓弧軌道上移動，使得X射線入射基板的角度改變。

根據本發明的第二方面，提供了一種隔墊物檢測方法，包括：

產生透過帶有隔墊物的基板的X射線，接收透過基板的X射線并形成灰度圖像；

利用灰度圖像測量隔墊物的高度。

優選地，所述形成灰度圖像包括：

將同一區域的反面灰度圖像和正面灰度圖像進行反轉復合，得到用于測量隔墊物的高度的灰度圖像。

優選地，該方法還包括：

若灰色圖像某個區域的灰度值超過設定的閾值，則改變X射線的發射角度，再次對所述基板的對應區域進行檢測。

優選地，所述利用灰度圖像測量隔墊物的高度包括：

根據設定的對應關系將灰度圖像像素的灰度值換算為隔墊物的高度值。

優選地，所述利用灰度圖像測量隔墊物的高度包括：

灰度圖像包括同一區域的不同深度的若干剖析圖像，從中找到隔墊物的頂和底所在的剖析圖像，兩者之間的深度之差即為隔墊物的高度。

優選地，該方法還包括：

利用同一區域的不同深度的若干剖析圖像進行組合形成隔墊物的立體圖像

（三）有益效果

本發明采用X射線成像原理對彩膜基板上的隔墊物進行檢測，利用X射線熒光轉換裝置產生可見光，并生成灰度圖像，對灰度圖像進行識別處理，，能準確測量隔墊物的高度，并且可以檢測隔墊物的內部及連接狀態。X射線掃描時可以去除由Rubbing（摩擦）工序帶來的靜電，從而不需要單獨的去除靜電工序，提高了生產效率；而且可以附帶檢查基板內部由Rubbing工序帶來的微裂痕。本發明既可以檢測柱狀隔墊物，也可以檢測球狀隔墊物。X射線檢測設備相對簡單而且檢測條件要求低，速度快。

附圖說明

圖1為根據本發明實施例一的隔墊物檢測裝置的組成示意圖；

圖2為根據本發明實施例二的隔墊物檢測裝置的組成示意圖；

圖3為根據本發明實施例二的隔墊物檢測裝置的X射線成像單元的光學結構示意圖；