[發明專利]梯級電壓斜坡模塊、產生梯級電壓斜坡信號的方法及其應用有效
| 申請號: | 201310733964.2 | 申請日: | 2013-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN103905044B | 公開(公告)日: | 2018-11-13 |
| 發明(設計)人: | 布魯斯·B·布希 | 申請(專利權)人: | 德州儀器公司 |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287 | 代理人: | 路勇 |
| 地址: | 美國德*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 梯級 電壓 斜坡 模塊 產生 信號 方法 及其 應用 | ||
本申請案涉及梯級電壓斜坡模塊、產生梯級電壓斜坡信號的方法及其應用。一種梯級電壓斜坡模塊(100)包括梯級電壓斜坡產生器電路(110),所述梯級電壓斜坡產生器電路(110)包括經配置以接收數字數據信號(代碼117)及第一時鐘信號(116)且提供第一梯級電壓斜坡波形(118)的至少一個時鐘控制的第一數/模轉換器DAC(115)。可編程增益運算放大器op amp(120)具有經耦合以接收所述第一梯級電壓斜坡波形的輸入。為電流輸出倍增DAC的第二DAC(125)經定位以提供所述op amp的增益設定電阻。可改變所述第二DAC及op amp配置以提供增益或衰減或者兩者。所述op amp的輸出提供適合于包括測試具有10個或10個以上位的模/數轉換器ADC的應用的梯級電壓斜坡輸出(135)。
技術領域
所揭示的實施例涉及梯級電壓斜坡產生器。
背景技術
自動測試設備(ATE)是指對半導體裝置(稱為受測試的裝置(DUT))執行測試的設備。DUT通過稱為搬運器(handler)或探測器(prober)的機器人機器及經由定制接口測試適配器或調適ATE的測試資源以適應DUT的“夾具”物理連接到ATE。
可用于測試集成電路(IC)的ATE中的數者具有測試模/數轉換器(ADC)的能力。舉例來說,Teradyne/Eagle ETS-364(馬薩諸塞州北瑞丁的泰瑞達公司(Teradyne,Inc.,North Reading,MA))可測試ADC。所有代碼斜坡/直方圖方法通常用于測試ADC。對于所有代碼斜坡/直方圖方法,到ADC的模擬輸入梯級電壓斜坡必須為線性、準確的,且提供為非常小的電壓步長。然而,已知ATE資源對于測試8位以上ADC不足夠準確(即,具有充足線性及分辨率)。
舉例來說,12位ADC(其中每一個代碼30個分區(或每代碼的命中)及5V全尺度電壓范圍)需要比約5V/(212)/30=40.7μV好的輸入電壓分辨率。ATE的準確性必須比此40.7μV分辨率值(其等于≈4μV分辨率)好約至少10倍。然而,ETS-364測試者的各種儀器的分辨率為80μV,其對于12位ADC測試太過粗糲。如果輸入電壓不足夠準確,那么測試者將提供ADC的錯誤結果。需要用于準確地測試包括具有10個或10個以上位的ADC的裝置的線性、準確且精細粒度的梯級電壓斜坡的源。
發明內容
所揭示的實施例包括梯級電壓斜坡模塊,其具有包括提供第一梯級電壓斜坡波形的時鐘控制的第一數/模轉換器(DAC)的梯級電壓斜坡產生器電路。可編程增益運算放大器(op amp)級具有經耦合以接收所述第一梯級電壓斜坡波形的輸入。所述可編程增益op amp的增益經設定以補償在本文中所辨別的某些模/數轉換器(ADC)的縮短代碼長度測試以產生小于正在測試的ADC的目標結束電壓。
所述梯級電壓斜坡模塊包括第二DAC,其為電流輸出、倍增DAC(其不具有內部opamp),其經定位以提供跨越op-amp連接的增益設定等效阻抗(在本文中稱作等效電阻或簡稱為電阻)。已發現作為增益設定電阻的電流輸出、倍增DAC實現op amp增益設定的良好分辨率,例如當使用16位DAC時在1與2的整數增益之間的32,768個增益選擇。
對于測試DAC,測試工程師通常需要使每數字輸入(代碼)的命中變化的能力,例如從20到26,到32或40或50,或一直到64。此意指梯級電壓產生器需要在其到達最后代碼之前停止的能力。在16位情形中,取決于所指定的“每代碼的命中”,所利用的電壓斜坡因此可在低于65,536(216)的代碼處停止。如上所述,在本文中辨別縮短代碼長度以產生小于目標結束電壓。舉例來說,如果65,536個代碼產生+5.00VDC(其可為DAC的全指定的電壓范圍),那么具有32,768的長度的梯級將僅產生+2.50VDC。所提供的所揭示軟件計算維持正在測試的ADC的全指定的電壓范圍所需的增益,其通過編程電流輸出、倍增DAC的等效電阻來實施以獲得維持目標結束電壓所需的增益,例如對于16位情形,在具有代碼長度32,768的梯級的情形中增益為2。
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