[發明專利]窄線寬激光器線寬高精度測量系統

有效

• 申請號: 201310732083.9
• 申請日: 2013-12-27
• 公開（公告）號: CN103674497A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 呂亮;張文華;杜正婷;向榮;楊波;吳爽;鄧涵元;趙力杰;曹志剛;劉宇;俞本立
• 申請（專利權）人: 安徽大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 江蘇英特東華律師事務所 32229
• 代理人: 邵鋆

1.一種窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：包括第一光耦合器（2）與第二光耦合器（4），所述第一光耦合器（2）具有a、b、c、d四個端口，所述第二光耦合器（4）具有e、f、g三個端口；所述第一光耦合器（2）的a端口與待測激光光源（1）相連，其b端口通過光電探測器（7）與信號接收單元（8）相連，其c端口通過隔離器（3）與所述第二光耦合器（4）的f端口相連，其d端口與所述第二光耦合器（4）的e端口相連；所述第二光耦合器（4）的g端口經光纖延遲線（5）與反射面（6）相連；由所述反射面（6）外腔反饋而兩次經過所述光纖延遲線（5）的光經所述第二光耦合器（4）的g端口與其f端口的光產生拍頻信號，該拍頻信號經所述第一光耦合器（2）的b端口輸出，并由所述光電探測器（7）轉換為電流信號，該電流信號由所述信號接收單元（8）接收并獲得相應的洛倫茲線形的光電流譜線；所述光電流譜線的半高寬即為所述待測激光光源（1）的線寬。

2.按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述反射面（6）為耦合器二輸出端融合形成的環形鏡構成的反射面。

3.按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述反射面（6）為具有反射特性的馬赫曾德干涉器、法布里-泊羅干涉儀或薩格奈克干涉儀。

4.按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述反射面（6）為一八度角APC跳線頭與一陶瓷套管表面黏貼介質膜構成的外腔。

5.按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述反射面（6）為一平角PC跳線頭與一陶瓷套管表面黏貼介質膜構成具有一定反射率的法布里珀羅腔構成的外腔。

6.按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述反射面（6）為表面涂有介質膜的裸光纖平切面。

7.按照權利要求4或5或6所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述介質膜為非金屬介質膜或金屬介質膜；所述非金屬介質膜的材料為石墨烯或碳化硅，所述金屬介質膜的材料包括金銀銅鐵鋁鋅。

8.按照權利要求7所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述介質膜為采用電鍍、化學鍍、脈沖激光沉積、化學氣相沉積、分子束外延、溶膠凝膠、磁控濺射、氧化法、離子注入法、擴散法、電鍍法、涂布法或液相生成法通過鍍膜方法獲得。

9.按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述信號接收單元（8）采用頻譜分析儀、示波器或數據采集卡。

10.????按照權利要求1所述的窄線寬激光器線寬高精度測量系統，其特征是：所述第一光耦合器（2）與所述隔離器（3）之間加入一個聲光移頻器，實現自外差法測量激光線寬系統。