[發(fā)明專利]快接手柄塞規(guī)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310728555.3
• 申請日: 2013-12-25
• 公開（公告）號: CN103697779A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發(fā)明（設計）人: 朱勝雷
• 申請（專利權）人: 無錫雨田精密工具有限公司
• 主分類號: G01B3/00
• 分類號: G01B3/00
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 艾中蘭

技術領域

?本發(fā)明涉及的是一種量具，具體涉及一種快接手柄塞規(guī)。

背景技術

塞規(guī)是一種量具，常用的有圓孔塞規(guī)和螺紋塞規(guī)。圓孔塞規(guī)可做成最大極限尺寸和最小極限尺寸兩種。螺紋塞規(guī)是測量內螺紋尺寸的正確性的工具。塞規(guī)是孔用極限量規(guī)，它的通規(guī)是根據(jù)孔的最小極限尺寸確定的，作用是防止孔的作用尺寸小于孔的最小極限尺寸；止規(guī)是按孔的最大極限尺寸設計的，作用是防止孔的實際尺寸大于孔的最大極限尺寸。而傳統(tǒng)的塞規(guī)對于扁位內孔的檢測不準確，從而造成檢測結果偏差，給人們的使用帶來了不便。

發(fā)明內容

針對現(xiàn)有技術上存在的不足，本發(fā)明目的是在于提供一種快接手柄塞規(guī)，檢測方便，檢測結果準確，實用性強。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明是通過如下的技術方案來實現(xiàn)：快接手柄塞規(guī)，包括手柄、手柄扁位、清根、檢測用圓柱體、凹面避讓處和外端圓柱體，手柄一端內側設置有清根，清根外側依次設置有檢測用圓柱體、凹面避讓處和外端圓柱體。

作為優(yōu)選，所述的凹面避讓處為內凹狀。

作為優(yōu)選，所述的清根為凹槽狀。

作為優(yōu)選，所述的檢測用圓柱體和外端圓柱體的直徑相同。

本發(fā)明用于檢驗內孔和扁位內孔，一次性檢測，清根處能使檢測精密配合。

本發(fā)明檢測方便，檢測結果準確，實用性強。

附圖說明

??圖1為本發(fā)明的結構示意圖；

????圖2為圖1的A-A向剖視圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明實現(xiàn)的技術手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體實施方式，進一步闡述本發(fā)明。

參照圖1-2，本具體實施方式采用以下技術方案：快接手柄塞規(guī)，包括手柄1、手柄扁位2、清根3、檢測用圓柱體4、凹面避讓處5和外端圓柱體6，手柄1一端內側設置有清根3，清根3外側依次設置有檢測用圓柱體4、凹面避讓處5和外端圓柱體6。

值得注意的是，所述的凹面避讓處5為內凹狀。

值得注意的是，所述的清根3為凹槽狀。

此外，所述的檢測用圓柱體4和外端圓柱體6的直徑相同。

本具體實施方式用于檢驗內孔和扁位內孔，一次性檢測，通過清根的設置，可以處使檢測精密配合，檢測更加方便可靠。

本具體實施方式檢測方便，檢測結果準確，實用性強。

以上所述僅是本發(fā)明的較佳實施方式，故凡依本發(fā)明專利申請范圍所述的構造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本發(fā)明專利申請范圍內。