[發(fā)明專利]一種厚度檢測(cè)治具以及厚度檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310722713.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103673831A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李麗麗;曹保桂;金致榮;楊溢;紀(jì)月榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B5/06 | 分類號(hào): | G01B5/06;G01B5/28 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 李迪 |
| 地址: | 230012 安徽*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 厚度 檢測(cè) 以及 方法 | ||
1.一種厚度檢測(cè)治具,其特征在于,包括底座和至少一個(gè)檢測(cè)塊,檢測(cè)塊垂直設(shè)置在底座的上方,其中檢測(cè)塊的上端通過支撐架固定,下端可活動(dòng),且檢測(cè)塊的底部與底座之間的間距等于待檢測(cè)產(chǎn)品的預(yù)設(shè)厚度。
2.如權(quán)利要求1所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述支撐架的兩端滑動(dòng)連接在底座兩側(cè)的支撐桿上,以調(diào)整檢測(cè)塊底部與底座之間的間距。
3.如權(quán)利要求1所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述支撐架為圓柱狀。
4.如權(quán)利要求3所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述檢測(cè)塊的上端與支撐架活動(dòng)連接,具體包括:
所述檢測(cè)塊的上端設(shè)置有圓形孔,該圓形孔的直徑大于支撐架的直徑,所述檢測(cè)塊通過圓形孔懸掛在支撐架上,且檢測(cè)塊可沿著支撐架轉(zhuǎn)動(dòng)。
5.如權(quán)利要求4所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述檢測(cè)塊的上端和下端為一體成型。
6.如權(quán)利要求1所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述檢測(cè)塊的上端與支撐架固定連接,具體包括:
檢測(cè)塊分為上端和下端兩部分,上端和下端之間通過鉸鏈連接,將檢測(cè)塊的上端固定在支撐架上,下端可自由活動(dòng)。
7.如權(quán)利要求6所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述檢測(cè)塊的上端與支撐架一體成型。
8.如權(quán)利要求5或7所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,所述檢測(cè)塊至少為一個(gè),所有檢測(cè)塊為一體式結(jié)構(gòu)或獨(dú)立式結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求1所述的厚度檢測(cè)治具,其特征在于,包括多組檢測(cè)塊,所述多組檢測(cè)塊級(jí)聯(lián)設(shè)置,,且不同組檢測(cè)塊的底部與底座之間的間距不同。
10.一種基利用上述權(quán)利要求1-9中任一項(xiàng)所述的厚度檢測(cè)治具實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)產(chǎn)品的厚度檢測(cè)方法,其特征在于,包括:待檢測(cè)產(chǎn)品放置在底座和檢測(cè)塊之間,當(dāng)沿著平行于底板方向移動(dòng)待檢測(cè)產(chǎn)品時(shí),根據(jù)檢測(cè)塊的偏移程度對(duì)待檢測(cè)產(chǎn)品的厚度進(jìn)行評(píng)價(jià),如果檢測(cè)塊出現(xiàn)偏移則說明該待檢測(cè)產(chǎn)品的厚度超過預(yù)設(shè)厚度,否則說明該待檢測(cè)產(chǎn)品的厚度未超過預(yù)設(shè)厚度。
11.如權(quán)利要求10所述的厚度檢測(cè)方法,其特征在于,如果檢測(cè)塊發(fā)生偏移,進(jìn)一步對(duì)待檢測(cè)產(chǎn)品的平坦度進(jìn)行評(píng)價(jià),具體包括:
沿著平行于底板方向移動(dòng)待檢測(cè)產(chǎn)品,根據(jù)不同檢測(cè)塊的偏移程度是否相同判斷待檢測(cè)產(chǎn)品的平坦度,如果不同的檢測(cè)塊偏移量相同則說明該待檢測(cè)產(chǎn)品的平坦度良好,否則說明該待檢測(cè)產(chǎn)品的平坦度不良。
12.如權(quán)利要求10所述的厚度檢測(cè)方法,其特征在于,當(dāng)有兩組檢測(cè)塊進(jìn)行級(jí)聯(lián)時(shí),第一組檢測(cè)塊的底部與底座之間的間距為第一預(yù)設(shè)距離,第二組檢測(cè)塊的底部與底座之間的間距為第二預(yù)設(shè)距離,第一預(yù)設(shè)距離大于第二預(yù)設(shè)距離,如果待檢測(cè)產(chǎn)品經(jīng)過第一組檢測(cè)塊的過程中檢測(cè)塊不偏移,經(jīng)過第二組檢測(cè)塊的過程中檢測(cè)塊發(fā)生偏移,則確定待檢測(cè)產(chǎn)品的厚度范圍在第二預(yù)設(shè)距離到第一預(yù)設(shè)距離之間。
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