[發(fā)明專利]利用激光穿孔透視獲得隱藏目標(biāo)三維圖像的方法及裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310721988.6
• 申請(qǐng)日: 2013-12-24
• 公開（公告）號(hào): CN103645481A
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 靳辰飛;張思琦;趙遠(yuǎn);宋子童;翟建華;喬天元
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G01S17/89
• 分類號(hào): G01S17/89
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 岳泉清

1.利用激光穿孔透視獲得隱藏目標(biāo)三維圖像的方法，其特征在于，該方法的具體步驟為：

步驟一、采用激光器和光探測(cè)器檢測(cè)遮蔽物上的小孔位置，采用測(cè)時(shí)電路根據(jù)激光器發(fā)射光束的時(shí)間和光探測(cè)器接收到光束的時(shí)間，獲得激光器所在點(diǎn)L與遮蔽物表面的小孔所在點(diǎn)H的距離R_LH，以及激光器所在點(diǎn)L與第一個(gè)散射點(diǎn)S之間的距離R_LS；

步驟二、根據(jù)待測(cè)目標(biāo)區(qū)域和小孔位置，在待測(cè)目標(biāo)外側(cè)選取觀測(cè)平面；

步驟三、以探測(cè)器的探測(cè)頭所在點(diǎn)C為圓心建立三維坐標(biāo)系，探測(cè)器的視場(chǎng)中軸線和Z軸夾角為俯仰角探測(cè)器的視場(chǎng)中軸線在XY上的投影與X正半軸的夾角為水平角θ；

步驟四、保持激光器位置不變，改變探測(cè)器的位置和方向來(lái)選定觀測(cè)平面上的某一個(gè)觀測(cè)點(diǎn)，探測(cè)激光器發(fā)射的激光經(jīng)過(guò)三次散射后的激光信號(hào)，采用測(cè)時(shí)電路獲得光束從激光器發(fā)射到光探測(cè)器經(jīng)過(guò)的總光程R_total；

步驟五、改變激光器的發(fā)射激光的方向到觀測(cè)平面的觀測(cè)點(diǎn)上，測(cè)量測(cè)器的探測(cè)頭所在點(diǎn)C與觀測(cè)面上反射點(diǎn)W之間的距離R_WC；

步驟六、計(jì)算獲得遮蔽物的小孔所在點(diǎn)H的坐標(biāo)H(x_H,y_H,z_H)、遮蔽物內(nèi)部第一個(gè)散射點(diǎn)S的坐標(biāo)S(x_S,y_S,z_S)和觀測(cè)面上反射點(diǎn)W的坐標(biāo)W(x_W,y_W,z_W)；

步驟七、根據(jù)遮蔽物的小孔所在點(diǎn)H的坐標(biāo)H(x_H,y_H,z_H)和觀測(cè)面上反射點(diǎn)W的坐標(biāo)W(x_W,y_W,z_W)，獲得兩點(diǎn)之間的距離R_HW；

步驟八、利用總光程R_total、距離R_WC、距離R_LS、距離R_HW和距離定義式及小孔和觀測(cè)面反射點(diǎn)確定的直線方程計(jì)算獲得第二個(gè)散射點(diǎn)O的坐標(biāo)O(x_O,y_O,z_O)；

步驟九、重復(fù)步驟四到步驟八，逐一對(duì)觀測(cè)面上的點(diǎn)進(jìn)行觀測(cè)，反推出待測(cè)裝置內(nèi)所有點(diǎn)的三維信息，獲得遮蔽物內(nèi)部隱藏目標(biāo)的三維圖像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用激光穿孔透視獲得隱藏目標(biāo)三維圖像的方法，其特征在于，步驟四所述的從激光器發(fā)射到光探測(cè)器經(jīng)過(guò)的總光程R_total：

R_total=R_LH+R_HS+R_SO+R_OH+R_HW+R_WC???(1)

式中，R_SO為遮蔽物內(nèi)部第一個(gè)散射點(diǎn)S到第二個(gè)散射點(diǎn)O之間的距離；R_OH為遮蔽物內(nèi)部第二個(gè)散射點(diǎn)O到遮蔽物的小孔所在點(diǎn)H之間的距離，R_HW為遮蔽物的小孔所在點(diǎn)H到觀測(cè)面上反射點(diǎn)W之間的距離，R_HS為遮蔽物的小孔所在點(diǎn)H到第一個(gè)散射點(diǎn)S之間的距離。