[發明專利]像素陣列基板及顯示面板

有效

• 申請號: 201310718350.7
• 申請日: 2013-12-24
• 公開（公告）號: CN103700671B
• 公開（公告）日: 2017-01-11
• 發明（設計）人: 廖自強;賴枝文
• 申請（專利權）人: 華映視訊（吳江）有限公司;中華映管股份有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;H01L27/12;G02F1/1368
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司31236
• 代理人: 胡晶

技術領域

本發明是有關于一種顯示面板及其像素陣列基板，且特別是有關于一種邊緣電場切換式顯示面板及其像素陣列基板。

背景技術

現今社會多媒體技術相當發達，多半受惠于半導體組件與顯示裝置的進步。就顯示器而言，具有高畫質、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優越特性的顯示面板已逐漸成為市場的主流。為了讓顯示面板具有更好的顯示質量，目前市面上已發展出了各種廣視角的顯示面板，例如有共平面切換式(in-plane?switching，IPS)、多域垂直配向式(multi-domain?vertically?alignment，MVA)以及邊緣電場切換式(fringe?field?switching，FFS）顯示面板等。其中，邊緣電場切換式顯示面板除了具有廣視角的特性外更具有低色偏的的特性，因此廣為消費者所喜愛。

然而，在公知邊緣電場切換式顯示面板中，每一像素單元的像素電極被配置于其上的共享電極及絕緣層覆蓋，每一像素單元的薄膜晶體管亦被絕緣層覆蓋，因此當邊緣電場切換式顯示面板發生顯示不良的問題時，檢測者不易對每一像素單元的薄膜晶體管進行檢測，而不易分析顯示不良的真因。

發明內容

本發明提供一種像素陣列基板及顯示面板，其薄膜晶體管易于檢測。

本發明的一種像素陣列基板，包括基板以及多個像素單元。多個像素單元陣列排列于基板上。每一像素單元包括薄膜晶體管、像素電極、共享電極、絕緣層以及檢測電極。薄膜晶體管具有源極、柵極以及漏極。像素電極與薄膜晶體管的漏極電性連接。像素電極配置于共享電極與基板之間。共享電極具有暴露像素電極的多個狹縫。絕緣層配置于共享電極與像素電極之間且具有暴露像素電極的接觸孔。檢測電極與共享電極屬于同一膜層且與共享電極分離。檢測電極填入絕緣層的接觸孔而與薄膜晶體管的漏極電性連接。

本發明的顯示面板，包括上述像素陣列基板、相對于像素陣列基板的對向基板以及配置于像素陣列基板與對向基板之間的顯示介質。

在本發明的一實施例中，上述的絕緣層的接觸孔位于漏極以外的區域，而檢測電極透過像素電極與薄膜晶體管的漏極電性連接。

在本發明的一實施例中，上述的每一像素單元更包括蝕刻保護圖案。蝕刻保護圖案配置于絕緣層的接觸孔與像素電極之間且與像素電極接觸。檢測電極填入絕緣層的接觸孔而與蝕刻保護圖案接觸。

在本發明的一實施例中，上述的蝕刻保護圖案與薄膜晶體管的漏極屬于同一膜層。

在本發明的一實施例中，上述的蝕刻保護圖案與薄膜晶體管的漏極分離。

在本發明的一實施例中，上述的絕緣層的接觸孔暴露漏極與像素電極的重迭處，檢測電極填入接觸孔而與漏極接觸。

在本發明的一實施例中，上述的每一像素單元還包括與柵極電性連接的掃描線以及與源極電性連接的數據線。掃描線遮蔽絕緣層的接觸孔及檢測電極。

基于上述，在本發明一實施例的像素陣列基板及顯示面板中，每一像素單元的像素電極是被絕緣層的接觸孔暴露，且每一像素單元包括填入接觸孔且與薄膜晶體管電性連接的檢測電極。因此，檢測者可容易地令探針與每一像素單元的檢測電極接觸，進而量測到薄膜晶體管的電性。因此，公知技術中像素電極受到絕緣層阻擋而使薄膜晶體管電性不易量測的問題可獲得改善。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細說明如下。

附圖說明

圖1為本發明一實施例的像素陣列基板的上視示意圖；

圖2為根據圖1的剖線A-A’繪示的像素陣列基板的剖面示意圖；

圖3為本發明另一實施例的像素陣列基板的上視示意圖；

圖4為根據圖3的剖線B-B’繪示的像素陣列基板的剖面示意圖；

圖5為本發明又一實施例的像素陣列基板的上視示意圖；

圖6為根據圖5的剖線B-B’繪示的像素陣列基板的剖面示意圖；

圖7為本發明再一實施例的像素陣列基板的上視示意圖；

圖8為根據圖7的剖線D-D’繪示的像素陣列基板的剖面示意圖；

圖9為本發明一實施例的顯示面板的剖面示意圖。

【主要組件符號說明】

100、100A-100C：像素陣列基板

110：基板

120：像素單元

122、122C：像素電極

124：共享電極

124a：狹縫

124b：第一分支

124c：第二分支