[發(fā)明專利]芯片故障定位方法、裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310717666.4 | 申請日: | 2013-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN103675641A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳華軍;齊子初 | 申請(專利權(quán))人: | 龍芯中科技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 100190 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 故障 定位 方法 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種芯片故障定位方法,其特征在于,所述方法包括:
在調(diào)試模式下獲取調(diào)試指令并執(zhí)行;
在測試模式下獲取掃描鏈模式指令;
根據(jù)所述掃描鏈模式指令控制芯片的觸發(fā)器形成掃描鏈;
在所述測試模式下獲取測試數(shù)據(jù);
將所述測試數(shù)據(jù)輸入所述掃描鏈中,依次移出所述掃描鏈中觸發(fā)器的值;
根據(jù)移出的所述觸發(fā)器的值定位芯片故障位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述在調(diào)試模式下獲取調(diào)試指令并執(zhí)行,包括:
在所述調(diào)試模式下,等待標(biāo)志位置為有效后,通過JTAG接口模塊獲取調(diào)試指令輸入芯片內(nèi)部的指令存儲器中;
所述等待標(biāo)志位設(shè)置為無效后,從所述指令存儲器中獲取所述調(diào)試指令并執(zhí)行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述在測試模式下獲取掃描鏈模式指令,包括:
在所述測試模式下通過JTAG接口模塊獲取所述掃描鏈模式指令。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述測試模式下獲取測試數(shù)據(jù),包括:
在所述測試模式下通過JTAG接口模塊獲取所述測試數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述掃描鏈模式指令包括:單條成鏈模式指令或多條成鏈模式指令;
所述根據(jù)所述掃描鏈模式指令控制芯片的觸發(fā)器形成掃描鏈,包括:
根據(jù)所述單條成鏈模式指令生成控制信號,根據(jù)所述控制信號控制所述觸發(fā)器的掃描使能端,使所述觸發(fā)器連接形成一條長掃描鏈;或者,
根據(jù)所述多條成鏈模式指令生成控制信號,根據(jù)所述控制信號控制所述觸發(fā)器的掃描使能端,使所述觸發(fā)器連接形成多條短掃描鏈。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述掃描鏈包括一條長掃描鏈或多條短掃描鏈;
所述將所述測試數(shù)據(jù)輸入所述掃描鏈中,依次移出所述掃描鏈中觸發(fā)器的值,包括:
通過連續(xù)的N拍時(shí)鐘脈沖控制所述長掃描鏈,將所述測試數(shù)據(jù)輸入所述長掃描鏈中,并使所述觸發(fā)器的值沿著所述長掃描鏈從輸出端依次移出,所述N為所述長掃描鏈的觸發(fā)器個(gè)數(shù);或者,
通過連續(xù)的M拍時(shí)鐘脈沖控制所述多條短掃描鏈,將所述測試數(shù)據(jù)輸入所述多條短掃描鏈中,并使每條短掃描鏈上觸發(fā)器的值沿著各自所在短掃描鏈依次從掃描輸出端口移出,所述M為所述多條短掃描鏈中最長鏈所包括的觸發(fā)器的個(gè)數(shù)。
7.一種芯片故障定位裝置,其特征在于,所述裝置包括:
執(zhí)行模塊,用于在調(diào)試模式下獲取調(diào)試指令并執(zhí)行;
第一獲取模塊,用于在測試模式下獲取掃描鏈模式指令;
第一控制模塊,用于根據(jù)所述第一獲取模塊獲取的所述掃描鏈模式指令控制芯片的觸發(fā)器形成掃描鏈;
第二獲取模塊,用于在所述測試模式下獲取測試數(shù)據(jù);
第二控制模塊,用于將所述第二獲取模塊獲取的測試數(shù)據(jù)輸入所述掃描鏈中,依次移出所述掃描鏈中觸發(fā)器的值;
定位模塊,用于根據(jù)移出的所述觸發(fā)器的值定位芯片故障位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述執(zhí)行模塊,包括:
獲取單元,用于在調(diào)試模式下,等待標(biāo)志位置為有效后,通過JTAG接口模塊獲取調(diào)試指令輸入芯片內(nèi)部的指令存儲器中;
執(zhí)行單元,用于所述等待標(biāo)志位設(shè)置為無效后,從所述指令存儲器中獲取所述調(diào)試指令并執(zhí)行。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述第一獲取模塊具體用于:
在所述測試模式下通過JTAG接口模塊獲取所述掃描鏈模式指令。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述第二獲取模塊,具體用于:
在所述測試模式下通過JTAG接口模塊獲取所述測試數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述第一獲取模塊,用于獲取:單條成鏈模式指令或多條成鏈模式指令;
所述第一控制模塊,具體用于:
根據(jù)所述單條成鏈模式指令生成控制信號,根據(jù)所述控制信號控制所述觸發(fā)器的掃描使能端,使所述觸發(fā)器連接形成一條長掃描鏈,或者,
根據(jù)所述多條成鏈模式指令生成控制信號,根據(jù)所述控制信號控制所述觸發(fā)器的掃描使能端,使所述觸發(fā)器連接形成多條短掃描鏈。
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