[發明專利]一種卡塞格倫天線探測系統及其設計方法有效
| 申請號: | 201310717135.5 | 申請日: | 2013-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN103746187A | 公開(公告)日: | 2014-04-23 |
| 發明(設計)人: | 劉小明;俞俊生;陳曉東 | 申請(專利權)人: | 北京郵電大學 |
| 主分類號: | H01Q3/20 | 分類號: | H01Q3/20;H01Q19/18;H01Q19/185;H01Q19/19 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產權代理有限公司 11018 | 代理人: | 王一斌;王琦 |
| 地址: | 100876 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 卡塞格倫 天線 探測 系統 及其 設計 方法 | ||
1.一種卡塞格倫天線探測系統,其特征在于,包括:中心具有開孔的主反射鏡、分別位于主反射鏡兩側的饋源和副反射鏡、以及與饋源位于主反射鏡的同一側的賦型反射鏡和平面鏡;
饋源發出的光線依次經過賦型反射鏡、平面鏡的反射,通過主反射鏡的開孔,再經過副反射鏡、主反射鏡的反射后出射;
所述賦型反射鏡和平面鏡可同時繞主反射鏡的中心軸旋轉,以改變光線的出射場。
2.根據權利要求1所述的卡塞格倫天線探測系統,其特征在于,所述主反射鏡為中心具有開孔的拋物面鏡面,副反射鏡為雙曲反射面鏡面。
3.根據權利要求1所述的卡塞格倫天線探測系統,其特征在于,所述賦型反射鏡的中心位于所述主反射鏡的中心軸上。
4.一種如權利要求1的卡塞格倫天線探測系統的設計方法,其特征在于,包括如下步驟:
確定所述主反射鏡、饋源、副反射鏡、平面鏡的全部參數;
確定所述賦型反射鏡的光心點的參數,并根據該光心點的參數、以及所述主反射鏡、饋源、副反射鏡、平面鏡的全部參數確定經過各反射鏡光心的光線從饋源至主反射鏡的總光程;
根據總光程確定所述賦型反射鏡的全部參數。
5.根據權利要求4所述的卡塞格倫天線探測系統的設計方法,其特征在于,所述確定所述主反射鏡、饋源、副反射鏡、平面鏡的全部參數包括:
根據主反射鏡的形狀確定主反射鏡的表面參數,根據副反射鏡的形狀確定副反射鏡的表面參數,確定饋源的位置、出射角度和出射平面,確定平面鏡的表面參數和法向向量。
6.根據權利要求4所述的卡塞格倫天線探測系統的設計方法,其特征在于,所述確定所述賦型反射鏡的光心點的參數,并根據該光心點的參數、以及所述主反射鏡、饋源、副反射鏡、平面鏡的全部參數確定光線從饋源至主反射鏡的總光程包括:
離散化處理所述主反射鏡、饋源、副反射鏡、平面鏡的全部參數,
分別確定自出射平面至主反射鏡的光心點的距離、自主反射鏡的光心點至副反射鏡的距離、自副反射鏡至平面鏡的距離、自平面鏡至賦型反射鏡的光心點的距離、以及自饋源至賦型反射鏡的光心點的距離,各距離的總和為光線從饋源至主反射鏡的總光程。
7.根據權利要求6所述的卡塞格倫天線探測系統的設計方法,其特征在于,所述根據總光程確定所述賦型反射鏡的全部參數包括:
分別確定經過主反射鏡的任一點反射的光線自出射平面至主反射鏡該點處的距離、自主反射鏡的該點處至副反射鏡的距離、自副反射鏡至平面鏡的距離、自饋源至賦型反射鏡的距離,
以總光程減去以上各距離,得到賦型反射鏡至平面鏡的距離,以確定賦型反射鏡的全部參數。
8.根據權利要求7所述的卡塞格倫天線探測系統的設計方法,其特征在于,所述得到賦型反射鏡至平面鏡的距離,以確定賦型反射鏡的全部參數包括:
以滿足所述離散化處理的參數迭代處理所述賦型反射鏡至平面鏡的距離,得到賦型反射鏡的全部參數。
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