[發(fā)明專利]線掃描成像過程中掃描目標(biāo)移動(dòng)速度均勻性的檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310713918.6 | 申請日: | 2013-12-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103645337A | 公開(公告)日: | 2014-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄒小波;石吉勇;趙杰文;黃曉瑋;朱瑤迪;李志華 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01P3/38 | 分類號(hào): | G01P3/38 |
| 代理公司: | 江蘇縱聯(lián)律師事務(wù)所 32253 | 代理人: | 戴勇 |
| 地址: | 212013 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 掃描 成像 過程 目標(biāo) 移動(dòng) 速度 均勻 檢測 方法 | ||
1.線掃描成像過程中掃描目標(biāo)移動(dòng)速度均勻性的檢測方法,其特征在于包含以下步驟:
步驟一,獲取矩形校正板ABCD的掃描圖像;
步驟二,對(duì)掃描圖像A’B’C’D’進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;
步驟三,計(jì)算掃描目標(biāo)移動(dòng)速度的均勻性表征值S。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線掃描成像過程中掃描目標(biāo)移動(dòng)速度均勻性的檢測方法,其特征在于所述步驟一獲取矩形校正板ABCD的掃描圖像的具體過程為:
線段EF為矩形校正板ABCD左右中心對(duì)稱的對(duì)稱線,線段G1J1,G2J2,……,Gn-1Jn-1,GnJn,分別與線段EF垂直且分別與線段EF相交于H1,H2,……,Hn-1,Hn;且有線段H1H2,H2H3,……,Hn-2Hn-1,Hn-1Hn的長度相等;將矩形校正板ABCD置于掃描成像系統(tǒng)中進(jìn)行線掃描,得到矩形校正板的掃描圖像A′B′C′D′。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線掃描成像過程中掃描目標(biāo)移動(dòng)速度均勻性的檢測方法,其特征在于所述步驟二中對(duì)掃描圖像A’B’C’D’進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的具體過程如下:
E’、F’、G’1,G’2,......,G’n-1,G’n、J’1,J’2,......,J’n-1,J’n、H’1,H’2,......,H’n-1,H’n分別為校正板ABCD上E、F、G1,G2,……,Gn-1,Gn、J1,J2,……,Jn-1,Jn、H1,H2,……,Hn-1,Hn在掃描圖像A’B’C’D’中的圖像;提取校正板的掃描圖像A’B’C’D’中線段H’1H’2,H’2H’3,......,H’n-2H’n-1,H’n-1H’n的長度LH′1H′2,LH′2H′3,......,LH′n-2H′n-1,LH′n-1H′n。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線掃描成像過程中掃描目標(biāo)移動(dòng)速度均勻性的檢測方法,其特征在所述步驟三中計(jì)算掃描目標(biāo)移動(dòng)速度的均勻性表征值S的具體過程如下:
根據(jù)線段H’1H’2,H’2H’3,......,H’n-2H’n-1,H’n-1H’n的長度LH′1H′2,LH′2H′3,......,LH′n-2H′n-1,LH′n-1H′n,首先計(jì)算線段H’1H’2,H’2H’3,......,H’n-2H’n-1,H’n-1H’n的長度平均值Lavg,Lavg的計(jì)算公式為其次計(jì)算掃描目標(biāo)移動(dòng)速度的均勻性表征值S,S的值越接近0,表示掃描目標(biāo)移動(dòng)速度的均勻性越好,S的計(jì)算公式為
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇大學(xué),未經(jīng)江蘇大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310713918.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種帶螺紋孔的防松式沉頭自攻螺釘
- 下一篇:用于緊固件的錨定組件
- 目標(biāo)檢測裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測系統(tǒng)及目標(biāo)檢測方法
- 目標(biāo)監(jiān)測方法、目標(biāo)監(jiān)測裝置以及目標(biāo)監(jiān)測程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測方法和目標(biāo)檢測裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





