[發(fā)明專利]IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310712829.X
• 申請(qǐng)日: 2013-12-23
• 公開（公告）號(hào): CN104734468A
• 公開（公告）日: 2015-06-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙一凡;喬志超;方藝;郭秀峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海英威騰工業(yè)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): H02M1/08
• 分類號(hào): H02M1/08
• 代理公司: 上海天協(xié)和誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 31216
• 代理人: 張恒康

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法。

背景技術(shù)

IGBT模塊為絕緣柵雙極型晶體管，是由雙極型三極管和絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管組成的復(fù)合全控型電壓驅(qū)動(dòng)式功率半導(dǎo)體器件，其廣泛應(yīng)用于直流電壓為600V及以上的變流系統(tǒng)，如交流電機(jī)、變頻器、開關(guān)電源、照明電路、牽引傳動(dòng)等領(lǐng)域。

通常IGBT模塊由光耦電路實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)，當(dāng)IGBT模塊發(fā)生短路過流故障時(shí)，通過驅(qū)動(dòng)光耦電路的飽和壓降檢測(cè)（DESAT）功能檢測(cè)IGBT模塊的導(dǎo)通壓降Vce，Vce超過驅(qū)動(dòng)光耦電路內(nèi)部的基準(zhǔn)時(shí)，驅(qū)動(dòng)光耦電路fault引腳輸出低電平信號(hào)，該低電平信號(hào)觸發(fā)系統(tǒng)微處理控制器（DSP）產(chǎn)生功率驅(qū)動(dòng)保護(hù)中斷，該中斷通過邏輯電路封鎖微處理控制器輸出調(diào)制解調(diào)信號(hào)，從而關(guān)斷IGBT模塊，并通過微處理控制器報(bào)出IGBT模塊過流故障信息，避免由于IGBT模塊短路過流故障導(dǎo)致?lián)p壞。但由于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)電磁環(huán)境惡劣，由于干擾信號(hào)可能導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的誤報(bào)，引起微處理控制器的誤動(dòng)作，影響設(shè)備的正常控制；現(xiàn)有技術(shù)可以通過硬件或軟件對(duì)該fault信號(hào)進(jìn)行濾波，但濾波較大則會(huì)造成保護(hù)中斷延遲，不能及時(shí)關(guān)斷IGBT模塊，甚至損壞IGBT模塊。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法，本方法克服了傳統(tǒng)驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)處理的缺陷，避免fault信號(hào)的誤報(bào)及IGBT模塊短路過流損壞，保證了設(shè)備的正常運(yùn)行。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法包括如下步驟：

步驟一、通過IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路的飽和壓降檢測(cè)功能檢測(cè)IGBT模塊的導(dǎo)通壓降Vce，Vce超過驅(qū)動(dòng)光耦電路內(nèi)部的基準(zhǔn)時(shí)，驅(qū)動(dòng)光耦電路fault引腳輸出低電平信號(hào)；

步驟二、將驅(qū)動(dòng)光耦電路fault引腳低電平信號(hào)分為兩路，一路通過邏輯門電路輸入微處理控制器的中斷輸入端，微處理控制器進(jìn)入中斷狀態(tài)，另一路通過邏輯電路封鎖微處理控制器輸出調(diào)制解調(diào)信號(hào)；

步驟三、微處理控制器將中斷輸入端輸入的fault信號(hào)與IGBT模塊的采樣電流進(jìn)行比較，fault信號(hào)電流小于IGBT模塊額定負(fù)載電流的1.5倍時(shí)判斷是干擾信號(hào)，fault信號(hào)電流大于IGBT模塊過載電流或者在200mS周期內(nèi)連續(xù)出現(xiàn)兩次時(shí)判斷是非干擾信號(hào)；

步驟四、經(jīng)微處理控制器判斷fault信號(hào)為干擾信號(hào)時(shí)，微處理器退出中斷，解除邏輯電路的封鎖并輸出調(diào)制解調(diào)信號(hào)；

步驟五、經(jīng)微處理控制器判斷fault信號(hào)為非干擾信號(hào)時(shí)，微處理控制器報(bào)出IGBT模塊短路過流故障信息。????

由于本發(fā)明IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法采用了上述技術(shù)方案，即本方法由驅(qū)動(dòng)光耦電路檢測(cè)IGBT模塊的導(dǎo)通壓降Vce，Vce超過驅(qū)動(dòng)光耦電路內(nèi)部基準(zhǔn)時(shí)輸出低電平fault信號(hào)；該fault信號(hào)分別通過邏輯門電路輸入微處理控制器的中斷輸入端和通過邏輯電路封鎖微處理控制器輸出調(diào)制解調(diào)信號(hào)；微處理控制器將fault信號(hào)與IGBT模塊的采樣電流進(jìn)行比較，以判斷fault信號(hào)是否為干擾信號(hào)；經(jīng)微處理控制器判斷為干擾信號(hào)時(shí)，解除邏輯電路的封鎖并輸出調(diào)制解調(diào)信號(hào)，微處理控制器退出中斷，判斷為非干擾信號(hào)時(shí)，微處理控制器報(bào)出IGBT模塊短路過流故障信息。本方法克服了傳統(tǒng)驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)處理的缺陷，避免fault信號(hào)的誤報(bào)及IGBT模塊短路過流損壞，保證了設(shè)備的正常運(yùn)行。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明：

圖1為本發(fā)明IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法的邏輯框圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，本發(fā)明IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路fault信號(hào)的中斷處理方法包括如下步驟：

步驟一、通過IGBT模塊驅(qū)動(dòng)光耦電路的飽和壓降檢測(cè)功能檢測(cè)IGBT模塊的導(dǎo)通壓降Vce，Vce超過驅(qū)動(dòng)光耦電路內(nèi)部的基準(zhǔn)時(shí)，驅(qū)動(dòng)光耦電路fault引腳輸出低電平信號(hào)；

步驟二、將驅(qū)動(dòng)光耦電路fault引腳低電平信號(hào)分為兩路，一路通過邏輯門電路輸入微處理控制器的中斷輸入端，微處理控制器進(jìn)入中斷狀態(tài)，另一路通過邏輯電路封鎖微處理控制器輸出調(diào)制解調(diào)信號(hào)；