[發明專利]自動測試設備資源配置方法與自動測試通道配置裝置

在審

• 申請號: 201310712440.5
• 申請日: 2013-12-20
• 公開（公告）號: CN104730448A
• 公開（公告）日: 2015-06-24
• 發明（設計）人: 張友青;曾煥銘
• 申請（專利權）人: 致茂電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;祁建國

1.一種自動測試設備資源配置方法，其特征在于，包含：

設定一關系表，該關系表用以紀錄多個通道對應多個測試環境的操作關聯性；

由這些測試環境中，選擇這些測試環境其中一第一測試環境；

依據該關系表，計算對應該第一測試環境的一第一通道狀態；

由這些測試環境中，選擇這些測試環境其中一第二測試環境；

依據該關系表，計算對應該第二測試環境的一第二通道狀態；以及

依據該第一通道狀態與該第二通道狀態，計算這些通道中的一第一通道是否需要被導通，以產生一第一通道控制信號。

2.如權利要求1所述的自動測試設備資源配置方法，其特征在于，在計算該第一通道狀態的步驟中，依據該關系表中所記錄的該第一通道對應于該第一測試環境是否被導通來決定該第一通道狀態。

3.如權利要求1所述的自動測試設備資源配置方法，其特征在于，在計算這些通道中的該第一通道是否需要被導通的步驟中，依據該第一通道狀態與該第二通道狀態進行一邏輯或(logic?or)計算，以決定這些通道中的該第一通道是否需要被導通。

4.如權利要求1所述的自動測試設備資源配置方法，其特征在于，還包含依據一啟動信號以從這些通道中選擇該第一通道。

5.如權利要求1所述的自動測試設備資源配置方法，其特征在于，還包含依據該第一通道狀態與該第二通道狀態，計算這些通道中的一第二通道是否需要被導通，以產生一第二通道控制信號。

6.如權利要求1所述的自動測試設備資源配置方法，其特征在于，還包含輸出該第一通道控制信號以控制該第一通道。

7.一種自動測試通道配置裝置，適于連接一自動測試設備與至少一待測物，其特征在于，該自動測試通道配置裝置包含：

多個測試通道；

一記憶模塊，包含對應于這些測試通道的多行記憶區塊，每一該記憶區塊關于這些測試通道其中之一，每一該記憶區塊中包含多個導通狀態值；以及

一邏輯運算模塊，電性連接至這些測試通道與該記憶模塊，用以依據這些記憶區塊其中之一中的被記錄的這些導通狀態值與一測試環境選擇數據以產生一測試通道控制信號以選擇性的導通這些測試通道其中之一，其中該測試環境選擇數據用以紀錄多個選擇狀態值，這些選擇狀態值對應于這些測試環境。

8.如權利要求7所述的自動測試通道配置裝置，其特征在于，該邏輯運算模塊包含：

一控制單元，電性連接至該記憶模塊，用以從這些記憶區塊中讀取一第一記憶區塊中的多個導通狀態值；

多個第一邏輯單元，電性連接至該記憶模塊，每一該第一邏輯單元用以依據被讀取的這些導通狀態值其中之一導通狀態值與該測試環境選擇數據中的一選擇狀態值決定一測試環境致能信號；以及

一第二邏輯單元，電性連接至這些第一邏輯單元與這些測試通道，用以依據這些測試環境致能信號以產生該測試通道控制信號。

9.如權利要求8所述的自動測試通道配置裝置，其特征在于，該控制單元有順序地從這些記憶區塊中讀取這些導通狀態值，以依序產生這些測試通道控制信號。

10.如權利要求9所述的自動測試通道配置裝置，其特征在于，該控制單元在這些測試通道控制信號都被產生后，輸出這些測試通道控制信號。