[發明專利]免疫測定方法和免疫測定裝置

無效

• 申請號: 201310711222.X
• 申請日: 2013-12-20
• 公開（公告）號: CN103884836A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 吉川景子;越村直人
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N33/543
• 分類號: G01N33/543
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 高科

技術領域

本發明涉及使用了競爭法的免疫測定方法和免疫測定裝置。

背景技術

現在，作為用來測定試樣中包含的微量的抗原、抗體的濃度的方法，已知使用了競爭法的免疫測定方法。

另外，在使用了競爭法的免疫測定方法和免疫測定裝置中，作為用來擴大可以測定的濃度范圍的方法，已知例如專利文獻1中記載的方法。在專利文獻1中記載的方法中，預先制作分子識別劑的濃度相互不同的多個檢量線，根據測定對象的檢體的吸光度選擇濃度換算中使用的檢量線。這樣，在專利文獻1中記載的方法中，通過預先制作濃度范圍不同的多個檢量線，擴大可以測定的濃度范圍。

專利文獻1?日本專利申請2011-80975A

發明內容

（發明要解決的問題）

但是，在專利文獻1的方法中，由于必須制作分子識別劑的濃度相互不同的多個檢量線，產生了增加制作檢量線所需的校準器和試劑的使用量、且檢量線的制作所需的用戶的操作量也增大的問題。而且，必須與多個濃度的試樣調制對應著設計測定裝置，所以還會產生測定裝置的結構變得復雜化的問題。

（解決問題所采用的方案）

本發明的范圍只由所附權利要求書限定，不受發明內容部分的描述的任何影響.

本發明的第1方式涉及使用了競爭法的免疫測定方法。根據該方式的免疫測定方法包括：制作以第1反應時間制作的第1檢量線、和以比上述第1反應時間長的第2反應時間制作的第2檢量線的制作工序；調制包含檢體中的測定對象物、反應物質和競爭物質的測定試樣的調制工序；取得與從調制測定試樣開始經過了上述第1反應時間之后的測定對象物的濃度有關的預定的參照信息的取得工序；在由上述取得工序得到的上述參照信息是表示測定對象物的濃度小于預定的閾值的信息時，把基于上述第1檢量線得到的濃度作為測定結果輸出的第1輸出工序；以及在由上述取得工序得到的上述參照信息是表示測定對象物的濃度為上述閾值以上的信息時，把基于上述第2檢量線得到的濃度作為測定結果輸出的第2輸出工序。

如果采用根據本方式的免疫測定方法，則可以通過改變反應時間而從同一校準器制作第1檢量線和第2檢量線。因此，可以減少制作檢量線所需的校準器和試劑的使用量，且可以減少檢量線的制作所需的用戶的操作量。

在根據本方式的免疫測定方法中，可以構成為，上述取得工序取得上述測定試樣中的上述競爭物質的凝集度作為上述參照信息。此時，可以構成為，上述第1輸出工序中，在由上述取得工序得到的上述凝集度超過預定的凝集度時，輸出基于上述第1檢量線得到的濃度作為測定結果；上述第2輸出工序中，在由上述取得工序得到的上述凝集度為上述預定的凝集度以下時，輸出基于上述第2檢量線得到的濃度作為測定結果。

此時，可以構成為，上述取得工序中，取得經過了上述第1反應時間之后的上述測定試樣的光學信息，基于所取得的上述光學信息取得上述競爭物質的上述凝集度。

另外，在根據本方式的免疫測定方法中，可以構成為，上述取得工序取得上述測定試樣中的上述測定對象物的濃度作為上述參照信息。此時，可以構成為，上述第1輸出工序中，在由上述取得工序得到的上述濃度小于預定的濃度時，輸出基于上述第1檢量線得到的濃度作為測定結果；上述第2輸出工序中，在由上述取得工序得到的上述濃度為上述預定的濃度以上時，輸出基于上述第2檢量線得到的濃度作為測定結果。

此時，可以構成為，上述取得工序中，取得經過了上述第1反應時間之后的上述測定試樣的光學信息，基于所取得的上述光學信息和上述第1檢量線取得上述測定對象物的上述濃度。

另外，根據本方式的免疫測定方法，可以構成為，由上述取得工序得到的上述參照信息是表示測定對象物的濃度為小于上述閾值的信息時，不執行上述第2輸出工序，在上述第1輸出工序中輸出基于上述第1檢量線得到的濃度作為測定結果。

另外，根據本方式的免疫測定方法，可以構成為，還包括：設定在由上述取得工序得到的上述參照信息是表示測定對象物的濃度為上述閾值以上的信息時是否繼續測定的設定工序。此時，免疫測定方法可以構成為，在上述設定工序中沒有設定為繼續測定時，如果上述參照信息是表示測定對象物的濃度為上述閾值以上的信息，則不執行上述第2輸出工序，在上述第1輸出工序中輸出基于上述第1檢量線得到的濃度作為測定結果。