[發(fā)明專(zhuān)利]電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310704365.8
• 申請(qǐng)日: 2013-12-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103675020A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何小琦;宋芳芳;恩云飛;周斌;黃云;馮敬東
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01N25/20
• 分類(lèi)號(hào): G01N25/20
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

1.一種電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括調(diào)溫系統(tǒng)和熱像儀，所述調(diào)溫系統(tǒng)包括用于將電子組件與外界環(huán)境隔離的恒溫裝置和基于空氣熱對(duì)流調(diào)節(jié)所述電子組件的溫度的控溫單元，所述恒溫裝置上設(shè)置有紅外探測(cè)窗，所述熱像儀用于通過(guò)所述紅外探測(cè)窗檢測(cè)電子組件的紅外輻射能。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述調(diào)溫系統(tǒng)還包括樣品臺(tái)，所述樣品臺(tái)設(shè)置在所述恒溫裝置內(nèi)，用于承載所述電子組件。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述控溫單元用于將所述恒溫裝置的內(nèi)部溫度控制在50攝氏度至125攝氏度之間。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述控溫單元包括空氣調(diào)節(jié)通道、離心風(fēng)機(jī)和加熱器，所述空氣調(diào)節(jié)通道包括通道、入風(fēng)口和出風(fēng)口，所述通道設(shè)置在所述恒溫裝置的內(nèi)壁與外壁之間，所述入風(fēng)口和所述出風(fēng)口分別設(shè)置在所述恒溫裝置的兩個(gè)相對(duì)內(nèi)壁上，所述加熱器設(shè)置于所述通道中，所述離心風(fēng)機(jī)設(shè)置于所述加熱器與所述出風(fēng)口之間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述恒溫裝置的內(nèi)壁上還設(shè)置有拋光反射金屬擋板，用于將所述恒溫裝置內(nèi)的紅外光通過(guò)所述紅外探測(cè)窗反射出去。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述拋光反射金屬擋板相對(duì)于所述紅外探測(cè)窗的法線的傾角范圍為40度至60度。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述恒溫裝置的內(nèi)壁為拋光反射金屬擋板，用于將所述恒溫裝置內(nèi)的紅外光通過(guò)所述紅外探測(cè)窗反射出去。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述紅外探測(cè)窗的寬度和長(zhǎng)度均為10mm。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任意一項(xiàng)所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括反射溫度補(bǔ)償裝置，用于放置在所述電子組件的表面，所述熱像儀通過(guò)所述紅外探測(cè)窗探測(cè)所述反射溫度補(bǔ)償裝置的紅外輻射能。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子組件發(fā)射率檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述反射溫度補(bǔ)償裝置包括Si大圓片測(cè)試板、PCB覆銅測(cè)試板、厚膜布線Al₂O₃陶瓷測(cè)試板、表面氧化的Cu測(cè)試板、表面光滑的Al測(cè)試板和皺鋁箔測(cè)試板中的至少兩種。