[發明專利]確定六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置本底的方法和設備

有效

• 申請號: 201310700404.7
• 申請日: 2013-12-18
• 公開（公告）號: CN103728648A
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發明（設計）人: 劉國榮;呂學升;趙永剛;梁慶雷;李井懷
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01T1/00
• 分類號: G01T1/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種確定六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置本底的方法，其特征在于包括以下步驟：

流動步驟，該步驟使同一種六氟化鈾氣體流入或流出所述氣體鈾豐度測量裝置的測量容器；

封閉步驟，該步驟封閉所述測量容器，使所述測量容器內的六氟化鈾氣體停止流動；

測量步驟，該步驟在所述測量容器內的六氟化鈾氣體的壓力平穩后，測量六氟化鈾氣體的γ射線感興趣區間總計數率值、氣體壓力值和氣體溫度值；以及

計算步驟，在重復執行所述流動步驟、所述封閉步驟和所述測量步驟n次以得到n個γ射線感興趣區間總計數率值、n個氣體壓力值和n個氣體溫度值的情況下，所述計算步驟利用所測量到的n個γ射線感興趣區間總計數率值、n個氣體壓力值和n個氣體溫度值來計算所述六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置的γ射線感興趣區間本底計數率值，

其中，n為大于等于2的整數。

2.根據權利要求1所述的確定六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置本底的方法，其特征在于，所述計算步驟利用下式來計算所述六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置的γ射線感興趣區間本底計數率值：

En=K(Sn-SBn)TnPn]]>

在該式中：E_n為第n次執行所述測量步驟時的所述六氟化鈾氣體中的鈾豐度；S_n為第n次執行所述測量步驟時測量到的γ射線感興趣區間總計數率值；S_Bⁿ為第n次執行所述測量步驟時的γ射線感興趣區間本底計數率值；P_n為第n次執行所述測量步驟時測量到的氣體壓力值；T_n為第n次執行所述測量步驟時測量到的氣體溫度值；并且K為UF₆氣體鈾豐度測量裝置的刻度系數。

3.根據權利要求2所述的確定六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置本底的方法，其特征在于，所述計算步驟根據所述六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置γ射線感興趣區間本底計數率值在一定時間段保持不變的特性來計算所述六氟化鈾氣體鈾豐度測量裝置的γ射線感興趣區間本底計數率值，

其中，由于所述六氟化鈾氣體為同種六氟化鈾氣體，因此n次執行所述測量步驟時的n個六氟化鈾氣體中的鈾豐度值E₁…E_n相等。