[發明專利]電氣設備導電回路多觸指接觸狀態檢測方法

無效

• 申請號: 201310699563.X
• 申請日: 2013-12-18
• 公開（公告）號: CN103616636A
• 公開（公告）日: 2014-03-05
• 發明（設計）人: 黃濤;馮世濤;王朔;何平;杜玉新;田井武;梁之林;白羽;張益云;司昌健;趙春明;劉赫
• 申請（專利權）人: 吉林省電力科學研究院有限公司;國網吉林省電力有限公司電力科學研究院;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R31/02
• 代理公司: 吉林長春新紀元專利代理有限責任公司 22100
• 代理人: 魏征驥

技術領域

本發明屬于電氣設備高壓試驗方法。

背景技術

為向用戶提供安全可靠的電力能源，近年來在電力設備上大量采用GIS組合電器，由于電器設備采用封閉結構，絕緣介質采用SF6，開關、隔離開關、母線連接等采用多觸指結構。電力設備導電回路電阻測試出廠例行試驗、交接試驗、預防性試驗采用直流壓降法，測試電流不小于100A。新技術新材料使用，提高了設備的絕緣水平，但制造、安裝過程中存在的多觸指結構導電回路接觸不良事故時有發生，成為GIS、開關等多觸指結構導電回路運行中故障的頻發故障，GIS、開關等電力設備損壞，修復費用高，事故處理時間長，嚴重影響供電可靠性。

對多觸指結構的GIS、開關等觸指接觸不良故障案例檢查、分析，采用目前使用的直流壓降法測試，即使嚴重接觸不良缺陷也不能檢查出，設備帶缺陷投入運行，是造成設備事故的原因。使用目前測試試驗可提供的最大電流500A進行GIS、開關、母線連接等多觸指結構回路電阻測試，預設置的單一觸指接觸且接觸壓力不足的嚴重接觸不良缺陷仍然無法檢出。目前國內外沒有測試方法和裝置能檢出多觸指結構的導電回路接觸不良缺陷。

將試驗電流增大至設備設計的額定電流并延長試驗時間檢查、認定GIS、開關、母線連接等多觸指結構的導電回路接觸狀態，是開關設備設計（型式）的項目，試驗裝置極為笨重，設備制造企業出廠例行試驗、交接性試驗、預防性試驗中采用不可能實現。

雖然直流壓降法測量回路電阻標準已執行多年，但對多觸指接觸的導電回路接觸狀態進行檢測并依據現行標準診斷缺陷被實踐證明不可信。

發明內容

本發明提供一種電氣設備導電回路多觸指接觸狀態檢測方法，以解決多觸指導電回路接觸狀態檢測不能準確判斷的問題。

本發明采取的技術方案是：包括下列步驟：

（一）由測試人員按工程需要設置控制方式、試驗電壓值設定，啟動測量程序，

（二）系統按設定值對電容器充電，同時監控測試系統電壓，當達到設定值后真空接觸器動作對試品放電，

（三）真空接觸器抑制接觸器吸合及斷開產生的強電磁干擾，電流降至零時接觸器打開，裝置輸出試驗電壓、試品端電壓、試品電流信號送至采集卡進行模數轉換后傳輸至計算機，

（四）由計算機整理去除無效數據，對數據進行濾波降噪處理，處理后的數據進行試驗端電壓、電流分析，程序按設計的數學模型計算試品電阻，試品電壓、電流及電阻數值以曲線形式顯示在計算機屏幕，計算機存儲測量數據；

對所采集處理后的數據進行全方位多級降噪處理，利用數學模型計算剔出被測回路的電感、電容影響，得出工程需要和標準要求的純電阻數據；

數學方程建立及計算：

基于暫態電路中電容參數影響與試驗電源頻率的倒數成正比，使用沖擊方法進行電氣導電回路阻抗測量，試驗電源的頻率超過1000kHz，回路電阻的測量范圍不大于10mΩ，試品容抗與試品電阻相關超過6個數量級，忽略容抗對電阻測量的影響，認定試品測量回路僅有感抗量和電阻量，計算公式簡化為????????????????????????????????????????????????，以此公式建立聯立方程，分離電感量和電阻量；

應用簡化后的計算公式，對低通濾波處理合適的數據按計算機程序設計的采樣區間進行微分聯立計算，并認定試品電感數值不變，解析出此微分段的電阻R₁；

試品試驗電壓、電流施加的全程計算出各微分區間的電阻R₁、R₂……R_n，按程序設定的加權平均統計邏輯計算出試品回路電阻初值；

對回路電阻初值再進行數字低通濾波后認定試品回路電阻的真值，顯示在計算機屏幕上。

使計算機在實時電壓、電流、電阻數據曲線顯示界面上設置雙坐標截取任意區間的數據，顯示起點、終點的電壓、電流、電阻瞬時值和區域內的測量回路電阻平均值，供檢測人員對測量過程的各瞬變點、任意區間測量過程中電壓、電流、電阻瞬時值變化進行分析。

存儲測量過程從沖擊放電開始至電壓衰減為零的全過程電壓、電流、電阻變化數據，供后續的細化分析使用；

根據測試工作步驟繼續進行下一項測量或結束測試退出軟件。

本發明的優點在于：把大電流沖擊試驗方法應用于設備制造商出廠的例行試驗、設備交接試驗、例行試驗，沖擊試驗設備實現了便攜化、小型化。