[發明專利]一種隨鉆電阻率的測量裝置及其測量方法

有效

• 申請號: 201310698427.9
• 申請日: 2013-12-18
• 公開（公告）號: CN103696766B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發明（設計）人: 劉策;李敬;吳素明;王華平;梁任岳;任威
• 申請（專利權）人: 貝茲維儀器(蘇州)有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/12
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司11250
• 代理人: 張杰

1.一種隨鉆電阻率的測量裝置，其特征在于，包括：調頻模塊、測量模塊、發射天線與接收天線，所述調頻模塊與所述發射天線和所述接收天線連接，調節所述發射天線與所述接收天線的頻率，所述測量模塊測量隨鉆電阻率，并將測量數據傳送給所述發射天線，所述發射天線將所述測量數據通過電磁波信號的形式發送給所述接收天線。

2.根據權利要求1所述的隨鉆電阻率的測量裝置，其特征在于，所述調頻模塊包括:

接收模塊，與所述接收天線耦合，將所述電磁波信號轉換成電信號；

幅度檢測器，與所述接收模塊連接，用于檢測獲得的所述電信號的振幅信息并發送給控制器；

所述控制器，連接所述幅度檢測器，用于根據所述振幅信息計算幅值比和/或相位差，確定最優諧振頻率，并控制發射模塊進行頻率調整；

所述發射模塊，與所述控制器連接，用于控制發射天線按照最優諧振頻率發射電磁波信號。

3.根據權利要求1或2所述的隨鉆電阻率的測量裝置，其特征在于，所述發射模塊還包括：

第一信號發生器，與所述控制器連接，發送第一頻率信號給功率放大器，其中所述第一頻率信號的頻率和相位可以被所述控制器控制；

功率放大器，與所述第一信號發生器連接，放大所述第一頻率信號并傳遞給發射調諧電路；

所述發射調諧電路，一端與所述功率放大器連接，另一端耦合發射天線，控制所述發射天線按照最優諧振頻率發射電磁波信號。

4.根據權利要求1-3任一所述的隨鉆電阻率的測量裝置，其特征在于，所述接收模塊還包括：

接收調諧電路，與所述接收天線連接，用于接收所述電磁波信號，轉換成電信號，并發送給低噪聲放大器；

所述低噪聲放大器，與所述接收調諧電路連接，將所述電信號放大并發送給混頻器；

第二信號發生器，與所述控制器連接，用于發送第二頻率信號給所述混頻器，其中所述第二頻率信號的頻率和相位可以被所述控制器控制；

所述混頻器，分別與所述低噪聲放大器和所述第二信號發生器連接，將所述電信號與所述第二頻率信號混合并發送給中頻濾波器；

所述中頻濾波器，與所述混頻器連接，濾掉高頻分量，并發送給中頻放大器；

所述中頻放大器，與所述中頻濾波器連接，放大并獲得所述電信號，發送給所述幅度檢測器。

5.根據權利要求1-4任一所述的隨鉆電阻率的測量裝置，其特征在于，所述發射調諧電路為常規雙共振頻率調諧電路。

6.根據權利要求1-5任一所述的隨鉆電阻率的測量裝置，其特征在于，還包括激活模塊，用于按照一定激活方式自動開啟整個隨鉆電阻率的測量裝置。

7.一種用于隨鉆電阻率測量的測量方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1：調節發射天線與接收天線的頻率；

S2：測量隨鉆電阻率，并將測量數據傳送給所述發射天線；

S3：所述發射天線將所述測量數據通過電磁波信號的形式發送給接收天線。

8.根據權利要求7所述的用于隨鉆電阻率測量的測量方法，其特征在于，所述步驟S1具體包括：

S11：將所述電磁波信號轉換成電信號；

S12:幅度檢測器檢測獲得的所述電信號的振幅信息并發送給控制器；

S13:所述控制器根據所述振幅信息計算幅值比和/或相位差，確定最優諧振頻率，并控制發射模塊進行頻率調整；

S14:所述發射模塊控制發射天線按照最優諧振頻率發射電磁波信號。

9.根據權利要求7或8所述的用于隨鉆電阻率測量的測量方法，其特征在于，所述步驟S14具體包括：

S141:第一信號發生器發送第一頻率信號給功率放大器，其中所述第一頻率信號的頻率和相位可以被所述控制器控制；

S142:功率放大器放大所述第一頻率信號并傳遞給發射調諧電路；

S143:所述發射調諧電路控制所述發射天線按照最優諧振頻率發射電磁波信號。