[發(fā)明專利]基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310697805.1
• 申請日: 2013-12-18
• 公開（公告）號: CN103632013A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發(fā)明（設計）人: 趙志毅;陳凌峰;王寶明;黃賽;聞強苗;李平潮;薛潤東
• 申請（專利權(quán)）人: 北京科技大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京金智普華知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11401
• 代理人: 皋吉甫

1.一種基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法，其特征在于，具體步驟如下：

1.1測定并統(tǒng)計無取向硅鋼中的不同尺寸范圍晶粒的含量；

1.2采用標準差標準化法對統(tǒng)計的不同尺寸范圍晶粒的含量及無取向硅鋼的磁性能鐵損P_1.5/₅₀和磁感B₅₀進行標準化處理；

1.3對標準化后的不同尺寸范圍晶粒的含量數(shù)據(jù)進行降維處理；

1.4計算特征值，確定主成分的數(shù)量，再計算主成分的成分矩陣及單位正交特征向量，得到主成分表達式；

1.5分別以標準化后的鐵損、磁感值作為因變量，以提取的主成分為自變量作回歸分析并對得到的回歸方程作顯著性檢驗；

1.6利用標準差標準化法的逆變換運算將線性回歸方程轉(zhuǎn)換成關(guān)于原n個相關(guān)變量的多元線性方程；

1.7根據(jù)上述方法獲得不同尺寸范圍晶粒的含量與無取向硅鋼磁性能的關(guān)系，可從定量的角度分析晶粒尺寸對磁性能的影響規(guī)律。

2.如權(quán)利要求1所述的基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法，其特征在于，所述步驟1.1中試驗試樣的觀察面分為軋面和縱截面，利用EBSD技術(shù)，在100～200倍視場下，掃描步長選為2.5～5μm，獲取試驗數(shù)據(jù)。

3.如權(quán)利要求1所述的基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法，其特征在于，所述步驟1.1中利用Channel5取向分析軟件測定不同尺寸范圍晶粒的含量，將試驗數(shù)據(jù)導入ProjectManager軟件分析，選擇正交坐標系，觀察面為軋面樣品的旋轉(zhuǎn)角度參數(shù)為0°，0°，0°，觀察面為縱截面樣品的旋轉(zhuǎn)角度為參數(shù)0°，90°，0°，將數(shù)據(jù)用Tango程序打開，選定需標注出的晶界，定量計算出晶粒度、晶粒尺寸分布圖，分<12μm、12～40μm、>40μm三段統(tǒng)計不同尺寸范圍晶粒的含量。

4.如權(quán)利要求1～3其中之一所述的基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法，其特征在于，所述步驟1.2中數(shù)據(jù)的標準差標準化法如下：

xi*=xi-x‾s---(1)]]>

其中，為標準化后的數(shù)據(jù)，x_i為變量x的第i個觀測值，為變量x的平均值，s為標準差。

5.如權(quán)利要求4所述的基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法，其特征在于，所述步驟1.3中的降維處理具體操作是：將n個相關(guān)變量組合成n個獨立變量，變換前后保持變量的方差和不變，選擇前m（m<n）個獨立變量的作用代替原n個相關(guān)變量的作用。

6.如權(quán)利要求5所述的基于主成分回歸分析的晶粒尺寸影響無取向硅鋼磁性能的分析方法，其特征在于，所述步驟1.4中提取的主成分所滿足的條件是：成分特征值大于1且方差累積貢獻率大于80%。