[發(fā)明專利]薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭及其測試的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310695323.2
• 申請日: 2013-12-17
• 公開（公告）號(hào): CN103792179A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 史亮;全小平;李存惠;王鹢
• 申請（專利權(quán)）人: 蘭州空間技術(shù)物理研究所
• 主分類號(hào): G01N17/00
• 分類號(hào): G01N17/00;G01B7/16
• 代理公司: 北京志霖恒遠(yuǎn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11435
• 代理人: 孟阿妮

1.一種薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，包括支架，所述支架上設(shè)有薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)的至少一個(gè)試驗(yàn)樣品，所述試驗(yàn)樣品一端的上方設(shè)有第一蓋板，另一端的上方設(shè)有第二蓋板，下方設(shè)有第三蓋板，所述第二蓋板上設(shè)有發(fā)光二極管，所述發(fā)光二極管上設(shè)有第四蓋板，所述第三蓋板上設(shè)有通孔，所述通孔下方對應(yīng)設(shè)有光電傳感器，所述光電傳感器設(shè)置在支架的端部，所述第一蓋板與所述支架的一端固定連接，所述支架的另一端固定連接所述第二蓋板和所述第四蓋板。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，還包括第五蓋板，所述第五蓋板設(shè)置在所述試驗(yàn)樣品上方，并位于第一蓋板和第二蓋板之間。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述第五蓋板為長條形蓋板，所述試驗(yàn)樣品的兩側(cè)上方分別設(shè)有一個(gè)所述第五蓋板。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述第五蓋板一端位于所述第一蓋板下方，所述第一蓋板上設(shè)有容納所述第五蓋板端部的第三凹槽。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述支架的端部設(shè)有第一凹槽，所述光電傳感器設(shè)置在第一凹槽內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述支架的一端及所述第一蓋板上設(shè)有與所述試驗(yàn)樣品端部相配合的限位槽。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述支架上設(shè)有至少一個(gè)第二凹槽，所述第二凹槽內(nèi)設(shè)有試驗(yàn)樣品。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述試驗(yàn)樣品為ITO/Kapton/Al復(fù)合薄膜或滲碳聚酰亞胺薄膜。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭，其特征在于，所述至少一個(gè)試驗(yàn)樣品包括第一試驗(yàn)樣品和第二試驗(yàn)樣品；所述支架一端設(shè)有兩個(gè)第一凹槽，一個(gè)所述第一凹槽內(nèi)設(shè)有第一光電傳感器，另一個(gè)所述第一凹槽內(nèi)設(shè)有第二光電傳感器，所述支架上設(shè)有第一試驗(yàn)樣品和第二試驗(yàn)樣品，所述第一試驗(yàn)樣品、第二試驗(yàn)樣品的一端均位于所述第一蓋板和支架之間，所述第三蓋板上設(shè)有第一通孔和第二通孔，所述第一通孔上方對應(yīng)設(shè)有第一試驗(yàn)樣品，所述第一通孔下方設(shè)有所述第一光電傳感器，所述第二通孔上方對應(yīng)設(shè)有第二試驗(yàn)樣品，所述第二通孔下方設(shè)有所述第二光電傳感器，所述第二蓋板上設(shè)有第一發(fā)光二極管和第二發(fā)光二極管，所述第一發(fā)光二極管下方對應(yīng)設(shè)有第一試驗(yàn)樣品，所述第二發(fā)光二極管下方對應(yīng)設(shè)有第二試驗(yàn)樣品。

10.使用權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的薄膜材料在軌暴露試驗(yàn)形變在線測試探頭進(jìn)行測試的方法，包括以下步驟：

進(jìn)行標(biāo)定：測試探頭在正式上星前進(jìn)行高低溫循環(huán)試驗(yàn)，記錄其在不同溫度條件下的電流數(shù)據(jù)及線性長度變化數(shù)據(jù)；

在軌測試：測試探頭搭載于航天器外部，記錄在軌運(yùn)行期間每個(gè)試驗(yàn)樣品對應(yīng)的光電傳感器產(chǎn)生的電流，將在軌運(yùn)行期間的電流數(shù)據(jù)與對應(yīng)的試驗(yàn)樣品前期在地面開展的電流數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，找出在軌運(yùn)行期間檢測的電流數(shù)據(jù)對應(yīng)的地面標(biāo)定的線性長度變化，得到薄膜材料的試驗(yàn)樣品在軌隨溫度的線性長度變化情況。