[發(fā)明專利]星用材料在軌暴露試驗透過率變化測試探頭及其使用方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310695201.3
• 申請日: 2013-12-17
• 公開（公告）號: CN103792178A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 史亮;全小平;李存惠;王鹢
• 申請（專利權(quán)）人: 蘭州空間技術(shù)物理研究所
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11435
• 代理人: 孟阿妮

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于航天器材料空間環(huán)境效應(yīng)測試領(lǐng)域，具體涉及一種星用材料在軌暴露試驗透過率變化測試探頭及其使用方法。

背景技術(shù)

星用材料在軌暴露試驗對驗證衛(wèi)星外部材料性能，驗證地面模擬試驗數(shù)據(jù)和校準地面模擬試驗方法等方面具有不可替代的作用，對航天技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。國內(nèi)外已經(jīng)開展了大量材料在軌暴露試驗，這些試驗大致可分為兩類，一類是被動暴露試驗，即在空間對材料樣品進行暴露，回收后在地面進行性能表征測試等，以獲取材料性能變化的數(shù)據(jù)；一類是主動暴露試驗，即在空間對材料樣品進行暴露的同時，通過在線測試技術(shù)對樣品的性能進行原位測試，以獲取材料性能隨暴露時間變化的趨勢。

星用材料在軌暴露過程中，有些材料的光學透過率變化并非線性變化，此外，在回收過程中暴露試驗樣品容易受到其它因素影響，造成光學透過率測試結(jié)果產(chǎn)生較大偏差，因此無法回收后再進行測試。在地面針對材料光學透過率進行直接表征測試一般都需要使用專門設(shè)備，如分光光度計等，此類設(shè)備體積和重量大、技術(shù)含量和精密程度高，無法滿足在軌測試的要求。

發(fā)明內(nèi)容

在下文中給出關(guān)于本發(fā)明的簡要概述，以便提供關(guān)于本發(fā)明的某些方面的基本理解。應(yīng)當理解，這個概述并不是關(guān)于本發(fā)明的窮舉性概述。它并不是意圖確定本發(fā)明的關(guān)鍵或重要部分，也不是意圖限定本發(fā)明的范圍。其目的僅僅是以簡化的形式給出某些概念，以此作為稍后論述的更詳細描述的前序。

本發(fā)明實施例的目的是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、可靠，能夠?qū)υ谲壉┞兜男怯貌牧瞎鈱W透過率變化進行在線測試的探頭。

本發(fā)明還提供星用材料在軌暴露試驗透過率變化測試探頭的使用方法。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案是：

一種星用材料在軌暴露試驗透過率變化測試探頭，包括支架，所述支架上設(shè)有兩個以上的光電傳感器，每個所述光電傳感器上方對應(yīng)設(shè)置有透明光學材料，所述透明光學材料上設(shè)有蓋板，所述蓋板上設(shè)有兩個以上的通孔，每個所述通孔下方對應(yīng)設(shè)有透明光學材料，所述蓋板固定連接所述支架；其中一個透明光學材料作為星用材料在軌暴露試驗的對比樣品，其他透明光學材料作為星用材料在軌暴露試驗的試驗樣品。

本發(fā)明提供一種星用材料在軌暴露試驗透過率變化測試探頭的使用方法，包括以下步驟：

測試探頭搭載于航天器外部，在軌運行期間，在相同的光照條件下，測量每個光電傳感器的電流；

將每個光電傳感器的電流回傳至地面，并將放置作為試驗樣品的透明光學材料的光電傳感器的電流與其中一個放置作為對比樣品的透明光學材料的光電傳感器的電流進行對比，得到對比電流變化情況，即得到作為試驗樣品的透明光學材料在空間環(huán)境中透過率變化的情況。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

1、結(jié)構(gòu)簡單、可靠、易實現(xiàn)；

2、可以對在軌暴露的星用材料光學透過率變化進行在線測試；

3、可隨樣品數(shù)量延長或縮短探頭長度，實現(xiàn)多個樣品的同時試驗。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例提供的星用材料在軌暴露試驗透過率變化測試探頭的分解示意圖。

附圖標記：

1-支架，10-第一凹槽，11-凸臺；

2-光電傳感器，21-第一光電傳感器，22-第二光電傳感器；

3-透明光學材料，31-第一透明光學材料，32-第二透明光學材料；

4-蓋板；

5-通孔，51-第一通孔，52-第二通孔；

6-開孔。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。在本發(fā)明的一個附圖或一種實施方式中描述的元素和特征可以與一個或更多個其它附圖或?qū)嵤┓绞街惺境龅脑睾吞卣飨嘟Y(jié)合。應(yīng)當注意，為了清楚的目的，附圖和說明中省略了與本發(fā)明無關(guān)的、本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的部件和處理的表示和描述。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有付出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。