[發(fā)明專利]一種高精度激光微位移傳感和定位方法及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310693960.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103712562A | 公開(公告)日: | 2014-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董敬濤;吳周令;肖剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥知常光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02;G01B11/245 |
| 代理公司: | 合肥天明專利事務(wù)所 34115 | 代理人: | 金凱 |
| 地址: | 230031 安徽省合肥市高新*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高精度 激光 位移 傳感 定位 方法 裝置 | ||
?
技術(shù)領(lǐng)域
???本發(fā)明涉及光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域,具體是一種高精度激光微位移傳感和定位方法及裝置。
背景技術(shù)
隨著半導(dǎo)體、微機(jī)電系統(tǒng)、微光學(xué)系統(tǒng)等先進(jìn)制造領(lǐng)域不斷的微型化和精密化,具有高速度、高分辨率和高精度的精密測(cè)量技術(shù)給先進(jìn)制造領(lǐng)域的工藝和水平提供了有力的分析工具,因而得到了快速的發(fā)展。其中,非接觸式的光學(xué)精密測(cè)量技術(shù)由于無接觸、無破壞的優(yōu)點(diǎn)得到廣泛應(yīng)用,并已經(jīng)研究出基于離焦法、臨界角法、共焦法和像散法等原理的光學(xué)傳感測(cè)量系統(tǒng)。以上技術(shù)均是通過將位移量轉(zhuǎn)化成電壓信號(hào)來實(shí)現(xiàn)精密測(cè)量,但是位移量和電壓信號(hào)并非單調(diào)關(guān)系,因此造成在電壓信號(hào)范圍內(nèi)的位移量判斷不準(zhǔn),給精密位移測(cè)量和高精度定位帶來了很大的麻煩。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種高精度激光微位移傳感和定位方法及裝置,通過創(chuàng)新性的電壓信號(hào)改進(jìn)方法,實(shí)現(xiàn)了位移量和電壓信號(hào)的單調(diào)關(guān)系,避免了由于位移量誤判導(dǎo)致的位移測(cè)量誤差和定位不準(zhǔn)的問題。
本發(fā)明的技術(shù)方案為:
一種高精度激光微位移傳感和定位方法,包括以下步驟:
(1)、激光束依次經(jīng)過準(zhǔn)直擴(kuò)束、起偏器后成為p偏振光,p偏振光通過偏振分光棱鏡成為測(cè)量光束,測(cè)量光束經(jīng)過1/4波片后被物鏡聚焦在被測(cè)樣品的表面上;被測(cè)樣品表面反射的光束再次通過物鏡和1/4波片后,測(cè)量光束由p偏振光變?yōu)閟偏振光,然后被偏振分光棱鏡反射進(jìn)入像散透鏡,透過像散透鏡的光束再被光程差棱鏡分成兩束,兩束光分別用兩個(gè)四象限探測(cè)器來探測(cè),由于光程差棱鏡使兩束光束的光程不等,因此兩束光經(jīng)過像散透鏡的成像點(diǎn)分別落在兩個(gè)四象限探測(cè)器的前方和后方,形成差動(dòng)探測(cè),兩個(gè)四象限探測(cè)器的輸出信號(hào)通過信號(hào)處理單元進(jìn)行處理;
(2)、像散透鏡在子午方向和弧矢方向(相互垂直的兩個(gè)方向)由于焦距不同,導(dǎo)致被測(cè)面的反射光束在四象限探測(cè)器上的聚焦光斑形狀由于被測(cè)面位移的變化而相應(yīng)地變化,如圖2所示;當(dāng)被測(cè)面準(zhǔn)確對(duì)焦時(shí),四象限探測(cè)器上的聚焦光斑形狀為圓形;當(dāng)被測(cè)面離焦時(shí),四象限探測(cè)器上的聚焦光斑形狀為橢圓形,其中遠(yuǎn)焦和近焦處的橢圓相互垂直;見圖4,兩個(gè)四象限探測(cè)器形成的差動(dòng)聚焦誤差信號(hào)DFES?=?FES1-FES2?=?[(A1+C1)-(B1+D1)]/(A1+C1+B1+D1)-?[(A2+C2)-(B2+D2)]/(A2+C2+B2+D2);其中,F(xiàn)ES1、FES2分別是兩個(gè)四象限探測(cè)器運(yùn)算得到的聚焦誤差信號(hào)(見圖3),A1、B1、C1、D1是一個(gè)四象限探測(cè)器的四個(gè)象限的輸出信號(hào),A2、B2、C2、D2是另一個(gè)四象限探測(cè)器的四個(gè)象限的輸出信號(hào);通過差動(dòng)技術(shù),大大提高了位移測(cè)量的靈敏度和精度;
(3)、見圖5和圖6,信號(hào)處理單元在四象限探測(cè)器四個(gè)象限的和信號(hào)中,設(shè)定一個(gè)閾值:當(dāng)和信號(hào)大于該閾值時(shí),將門信號(hào)設(shè)為1;反之,將門信號(hào)設(shè)為0;見圖7,然后信號(hào)處理單元將門信號(hào)和差動(dòng)聚焦誤差信號(hào)做邏輯“與”運(yùn)算,得到截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào),截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)在其動(dòng)態(tài)范圍a內(nèi)具有唯一零點(diǎn),即截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)與位移量具有單調(diào)性,一個(gè)截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)對(duì)應(yīng)一個(gè)位移量,完成將兩個(gè)四象限探測(cè)器探測(cè)的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為一個(gè)截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)的轉(zhuǎn)換,使一個(gè)位移量對(duì)應(yīng)一個(gè)截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào);
(4)、變換Z軸位移量,使經(jīng)過物鏡聚焦后的激光束由遠(yuǎn)及近地靠近被測(cè)樣品的表面,并同時(shí)采集截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)和Z軸位移量,直至整個(gè)截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)的動(dòng)態(tài)范圍全部采集完畢;然后對(duì)截?cái)嗖顒?dòng)聚焦誤差信號(hào)和Z軸位移量做最小二乘擬合,得到對(duì)應(yīng)關(guān)系函數(shù);
(5)、對(duì)被測(cè)樣品表面進(jìn)行X和Y方向的掃描,并同時(shí)采集電壓信號(hào)和X、Y位置的坐標(biāo);然后根據(jù)關(guān)系函數(shù)將每一個(gè)掃描點(diǎn)X、Y坐標(biāo)的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)化為Z軸位移量,就得到了被測(cè)樣品表面的三維面型。
一種高精度激光微位移傳感和定位裝置,包括有激光二極管,相對(duì)激光二極管輸出端設(shè)置的聚焦透鏡,順次設(shè)置于聚焦透鏡后端的準(zhǔn)直透鏡、起偏器和偏振分光棱鏡,順次設(shè)置于偏振分光棱鏡透射輸出端后的1/4波片和物鏡,順次設(shè)置于偏振分光棱鏡反射輸出端后的像散透鏡和光程差棱鏡,設(shè)置于光程差棱鏡光束輸出端后的第一四象限探測(cè)器和第二四象限探測(cè)器,以及用于檢測(cè)處理第一四象限探測(cè)器和第二四象限探測(cè)器輸出信號(hào)的信號(hào)處理單元;其中,所述的物鏡相對(duì)被測(cè)樣品待測(cè)面設(shè)置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于合肥知常光電科技有限公司,未經(jīng)合肥知常光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310693960.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





