[發明專利]采用外差式干涉條紋鎖定控制的全息光柵曝光方法有效
| 申請號: | 201310693328.1 | 申請日: | 2013-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN103698835A | 公開(公告)日: | 2014-04-02 |
| 發明(設計)人: | 宋瑩;巴音賀希格;李文昊;姜珊;潘明忠 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G02B5/32 | 分類號: | G02B5/32;G02B5/18;G03H1/12 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 采用 外差 干涉 條紋 鎖定 控制 全息 光柵 曝光 方法 | ||
1.采用外差式干涉條紋鎖定控制的全息光柵曝光方法,其特征是,該方法由以下步驟實現:
步驟一、在全息光柵曝光裝置中配置外差式干涉條紋鎖定控制裝置,光源激光器(1)發出的激光經第一定頻聲光調制器(2)后的零級衍射光經第一分光片(4)后形成第一束記錄光(7)和第二束記錄光(8);所述第一束記錄光(7)進入聲光移頻器(9)后的出射光束為移頻干涉光束(11),所述移頻干涉光束(11)經過第二分光片(13)和第四分光片(18)進入第一相位測量接收器(23);第二束記錄光(8)進入第二定頻聲光調制器(10)后的出射光束為定頻干涉光束(12),所述定頻干涉光束(12)經過第三分光片(14)和第五分光片(19)進入第二相位測量接收器(24);經第一定頻聲光調制器(2)出射的一級衍射光作為相干光束相位測量的參考光束,所述一級衍射光經過第一平面反射鏡(3)、第四平面反射鏡(20)、第六分光片(21)后,透射光束經第五分光片(19)進入第二相位測量接收器(24);反射光束經第五平面反射鏡(22)和第四分光片(18)進入第一相位測量接收器(23);
步驟二、通過人機交互界面(29)設定移頻干涉光束(11)和定頻干涉光束(12)之間的目標相位差,所述第一相位測量接收器(23)和第二相位測量接收器(24)分別接收差頻光信號并進行光電信號轉換,轉換后的電信號傳入控制系統(25),所述控制系統(25)獲得移頻干涉光束(11)和定頻干涉光束(12)之間的相位差;
步驟三、根據步驟二獲得的相位差與設定的目標相位差比較,控制聲光移頻器(9)的驅動頻率,調整移頻干涉光束(11)的頻率,實現干涉條紋的閉環鎖定,然后將光柵基底放置在干涉條紋鎖定后的干涉場(17)中進行曝光。
2.根據權利要求1所述的采用外差式干涉條紋鎖定控制的全息光柵曝光方法,其特征在于,所述的控制系統(25)包括差頻信號測量板卡(26)、核心控制器(27)和并行IO板卡(28),所述第一相位測量接收器(23)與差頻信號測量板卡(26)的測量軸連接,第二相位測量接收器(24)與差頻信號測量板卡(26)的參考軸連接,核心控制器(27)讀取差頻信號板卡(26)的參考軸和測量軸數據,通過并行IO板卡(28)控制聲光移頻器(9),所述第一相位測量接收器(23)與第二相位測量接收器(24)將接收的差頻光信號轉換為電信號后,傳入控制系統(25),所述控制系統(25)內部的差頻測量板卡(26)的減法器對相干光束的相位作差,獲取移頻干涉光束(11)和定頻干涉光束(12)之間的相位差,該相位差與設定的目標相位差比較,將比較結果通過反饋控制算法計算并通過IO板卡(28)輸出數字控制量控制聲光移頻器(9)的驅動頻率,調整移頻干涉光束(11)的頻率,完成干涉條紋的閉環鎖定。
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