[發明專利]嵌入式存儲器測試系統

有效

• 申請號: 201310689957.7
• 申請日: 2013-12-09
• 公開（公告）號: CN103871479B
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 拉古拉姆·達莫達蘭;納韋恩·布霍里亞;阿曼·科克拉迪
• 申請（專利權）人: 德州儀器公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 林斯凱

1.一種嵌入式存儲器測試系統，其包括：

可編程內建自測試pBIST引擎，所述pBIST引擎產生4位數據字wdata[3:0]及三位控制信號ctl[2:0]；

多個分布式數據記錄電路，其與所述pBIST引擎通信；

多個總線擴展器，所述多個總線擴展器中的每一者連接至對應的分布式數據記錄器，所述多個總線擴展器中的每一者連接至所述pBIST引擎以接收所述4位數據和所述3位控制信號，所述多個總線擴展器中的每一者將所述4位數據字wdata[3:0]擴展為如下的32位的經擴展數據字wdata[31:0]：

如果ctl[0]是1，則經擴展的4至7位是w[3:0]的倒置；否則如果ctl[0]是0，則經擴展的4至7位等于w[3:0]；并形成數據wdata[7:0]；

如果ctl[1]是1，則經擴展的8至15位是w[7:0]的倒置；否則如果ctl[1]是0，則經擴展的8至15位等于w[7:0]；并形成數據wdata[15:0]；及

如果ctl[2]是1，則經擴展的16至31位是w[15:0]的倒置；否則如果ctl[2]是0，則經擴展的16至31位等于w[15:0]；并形成數據wdata[31:0]；以及

一個或一個以上存儲器塊，其可與每一分布式數據記錄器一起操作。

2.根據權利要求1所述的嵌入式存儲器測試系統，其中：

所述分布式數據記錄電路通過串行數據接口從所述pBIST接收配置數據。

3.根據權利要求1所述的嵌入式存儲器測試系統，其中：

所述總線擴展器由串行數據接口配置。

4.根據權利要求1所述的嵌入式存儲器測試系統，其中：

所述分布式數據記錄器中的每一者進一步可操作以：

將32位經擴展的數據字wdata[31:0]寫入到對應存儲器塊中的選定位置中；

自所述32位經擴展的數據字wdata[31:0]被寫入的存儲器位置讀取存在于所述對應存儲器塊中的數據；

將自所述存儲器塊讀取的數據與預期存儲內容進行比較；

如果自所述存儲器塊讀取的數據與所述預期存儲內容不匹配，那么產生錯誤條件；

通過串行鏈路將所述錯誤條件傳遞到所述pBIST。