[發明專利]通過至少一個加工射流來加工一系列工件的方法和加工裝置

有效

• 申請號: 201310688982.3
• 申請日: 2013-12-16
• 公開（公告）號: CN103869750B
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 沃爾特·莫雷爾
• 申請（專利權）人: 微射流有限公司
• 主分類號: G05B19/404
• 分類號: G05B19/404
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 王雪,田軍鋒

1.一種通過至少一個加工射流來加工一系列工件(21)的方法，其中，所述至少一個加工射流由具有或不具有磨料顆粒的液體形成，在所述方法中，

使每個工件(21)均與用于唯一地識別該工件的標識符相關聯；

在加工相應的工件期間，通過至少一個傳感器(30)來檢測所述至少一個加工射流的時間特性(40)；

對檢測到的所述時間特性(40)進行評估以獲得至少一個比較值Uv；以及

為了檢測不適當的加工，將所述至少一個比較值與至少一個閾值Us進行比較，其中，所述至少一個傳感器(30)構造成對固體中的振動進行檢測和/或對所述至少一個加工射流施加到工件支承件(20)和/或工件(21)上的壓力進行檢測。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，相應的工件(21)與誤差指標相關聯，所述誤差指標是根據所述至少一個比較值與所述至少一個閾值的偏差來確定的。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述誤差指標包括標識，和/或能夠從所述誤差指標獲得信息，所述信息表示：在已經通過所述加工射流加工過所述工件(21)的加工區域(25)，所述至少一個比較值的絕對值大于所述至少一個閾值。

4.根據前述權利要求中的任一項所述的方法，其中，所述至少一個比較值Uv是根據預定的期望值Ue形成的。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，所述至少一個比較值Uv形成為所述至少一個傳感器(30)的測量信號U與所述期望值Ue之間的差值的絕對值：Uv＝|U-Ue|。

6.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，加工期間誤差的存在是根據以下原則來確定的：當對工件(21)進行加工時，存在至少一個時間間隔，所述至少一個時間間隔至少持續預定時間，并且在所述至少一個時間間隔期間，所述至少一個比較值的絕對值超過所述至少一個閾值。

7.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，執行校準，在所述校準中，在所述至少一個加工射流打開的情況下，所述至少一個傳感器(30)的信號U0是根據所述至少一個加工射流距離原點(NP)的距離(d)來檢測的。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，所述校準優選地在對所述一系列工件(21)進行加工之前執行。

9.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，所述至少一個傳感器(30)為閉環控制的一部分，所述閉環控制用于根據所述至少一個比較值與所述至少一個閾值的偏差來改變所述至少一個加工射流的特性。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，所述閉環控制包括以下部件中的至少一個：

-驅動裝置，所述驅動裝置用于使所述至少一個加工射流移動；

-泵，所述泵用于將所述至少一個加工射流在壓力下從加工頭部(10)噴射出；

-定量供應裝置，所述定量供應裝置用于向所述至少一個加工射流添加研磨材料。

11.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，如果所述至少一個比較值連續若干次超過以及降至低于所述至少一個閾值，將工件(21)的加工中斷。

12.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，在所述加工期間，相應的工件(21)支承在包括所述至少一個傳感器(30)的工件支承件(20)上。

13.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，所述至少一個加工射流為用于將材料層切透的切割射流。

14.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，為了獲得所述至少一個比較值Uv，所述方法包括：將檢測到的時間特性(40)與校準值進行比較，所述校準值限定當所述至少一個加工射流與所述至少一個傳感器(30)之間距離變化時所述至少一個傳感器(30)的信號的變化。

15.根據權利要求1至3中的任一項所述的方法，其中，為了檢測錯誤的設定，通過對獲得的時間特性(40)進行評估以及將所述時間特性(40)與存儲的數據進行比較，獲得所述至少一個比較值Uv，所述存儲的數據限定設定參數與預期的傳感器信號之間的關系，并且所述存儲的數據用于獲得所述至少一個閾值Us。

16.根據權利要求15所述的方法，其中，在頻譜中完成所述比較。