[發明專利]一種基于航空應用的國產化存儲器應用驗證方法有效
| 申請號: | 201310688825.2 | 申請日: | 2013-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN103700407A | 公開(公告)日: | 2014-04-02 |
| 發明(設計)人: | 吳蓬勃;梁爭爭;許少尉;陳思宇;張曉敏 | 申請(專利權)人: | 中國航空工業集團公司第六三一研究所 |
| 主分類號: | G11C29/04 | 分類號: | G11C29/04;G06F11/26 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 倪金榮 |
| 地址: | 710119 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 航空 應用 國產化 存儲器 驗證 方法 | ||
技術領域
本發明屬于航空電子電路測試領域,涉及一種基于航空應用的國產化存儲器應用驗證方法。
背景技術
隨著航空武器系國產化日益緊迫需求,作為核心信息載體的存儲器,其類型多、應用廣,在武器系統中占據著舉足輕重的作用和地位;目前應用武器裝備國產化的迫切需求,國內多家科研機構具有國產化存儲器的研發能力,但國產儲存器普遍存在類型多、起步晚、成熟度低的特點,在裝機使用前缺少有效的航空適應性檢測方法,不能在型號研制的最初階段得以有效的監測驗證控制,致使航空裝備型號的研制蒙受了巨大的成本損失和進度延誤,因此急需探索出一條科學、有效的適用于航空環境國產化儲存器的應用驗證方法。
發明內容
為了解決背景技術中所存在的技術缺陷,本發明提供一種有效的適用于航空環境、安全有效的基于航空應用的存儲器應用驗證方法。
本發明的技術解決方案是:
本發明提供一種基于航空應用的國產化存儲器應用驗證方法,其特殊之處在于:依次包括以下步驟:
1】存儲器芯片檢測;
1.1】對已經鑒定定型的存儲器芯片進行ATE自動測試設備的檢測;
1.1.1】根據存儲器芯片故障模型編寫相應的測試激勵代碼文件;
1.1.2】將測試激勵代碼文件通過ATE自動測試設備進行響應以及非電特性測試;
1.2】通過步驟1.1】ATE自動測試設備的檢測結果,對存儲器芯片進行分類處理;
2】板級功能性測試;
2.1】通過采用FPGA芯片作為邏輯互連芯片以及采用信息處理芯片(DPS)作為處理器,構建功能測試板;所述FPGA芯片和處理器連接;
2.2】將轉接插座連接至步驟2.1】中構建的功能測試板上;
2.3】分別在轉接插座的接口處插入步驟1】中的存儲器芯片;
2.4】通過FPGA芯片的可編輯邏輯選擇功能,選擇性的連接存儲器芯片和處理器;
2.5】根據步驟2.4】的操作選擇不同處理器對不同存儲器芯片進行讀、寫、擦除功能操作測試驗證:
2.5.1】采用狀態機控制依地址遞增順序依次向各存儲單元寫“0”;
2.5.2】將左上至右下的對角線存儲單元依次改寫為“1”并依次讀取數據進行比較,若數據不一致時,則終止操作;當數據均正確時,則則繼續執行;
2.5.3】依地址遞增順序依次向各存儲單元寫“1”;
2.5.4】將左上至右下的對角線存儲單元依次改寫為“0”;
2.5.5】依次讀取改寫后的數據進行比較,若數據不一致時,則重新執行步驟2.5.1】至步驟2.5.4】;當數據均正確時,則通過存儲器板級功能性測試;
3】板級性能測試;
3.1】通過采用航空計算機標準模塊印制板和航空典型應用電路,構建性能驗證測試板;
3.2】將存儲器芯片焊接在性能驗證測試板上并執行以下步驟:
3.2.1】存儲塊測試;
3.2.1.1】采用狀態機依地址遞增順序依次向存儲單元首個地址寫入0,向第二個地址寫入1,同時讀取首個地址,若讀取的數據與寫入首個地址的數據相等則繼續執行;
3.2.1.2】向第三個地址寫入0,同時讀取第二個地址,若讀取的數據與寫入第二個地址的數據相等則繼續執行;
3.2.1.3】比照步驟3.2.1.1】至步驟3.2.1.2】的操作,依地址遞增順序依次寫入0、1、0、1……進行檢測,直至寫完最后一個地址后,檢測所讀取的倒數第二個地址與寫入該地址的數據是否相等,若相等則完成正向數據測試并繼續執行以下步驟;
3.2.1.4】再從最后一個地址開始,按照地址遞減的次序向儲存單元寫入與上次寫入數據相反的數據,同時檢測所讀取的上一個地址的數據與寫入該地址的數據是否相等,
3.2.1.5】直至寫入存儲單元首個地址,若此時讀取的第二地址的數據與寫入該地址的數據相等則完成反向數據測試并終止測試;
3.2.2】進行讀寫周期及指標測試;所述讀寫周期及指標測試是基于讀、寫、擦除事務的驗證,通過定義事物的開始、結束時間和所有與事物相關的信息作為事務屬性存儲;所述定義事物的事務屬性包括地址和數據;
3.2.3】進行典型應用驗證;根據存儲器芯片的典型應用,采用航空應用、測試軟件和專用測試系統對性能驗證測試板進行典型應用驗證以及總線驅動、接口電平、阻抗匹配、板內電磁環境適應性和級連特性的驗證,并通過與器件手冊數據進行對比驗證;
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