[發明專利]一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法

在審

• 申請號: 201310687358.1
• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN104713645A
• 公開（公告）日: 2015-06-17
• 發明（設計）人: 李留成;多麗萍;金玉奇;唐書凱;李國富;王元虎;于海軍;汪健;王增強;曹靖
• 申請（專利權）人: 中國科學院大連化學物理研究所
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01K13/00;G01K11/30
• 代理公司: 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002
• 代理人: 劉陽

1.一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：

（1）HF基頻輻射光譜的測量和處理；

（2）對(1-0)的R支數據作圖得到一條直線，利用直線的斜率得到HF分子的轉動溫度；

（3）對1-0,2-1,3-2三個振動譜帶的P支數據作圖得到三條直線，利用不同直線的截距得到HF分子v=1,2,3等振動能級的粒子數分布情況。

2.按照權利要求1所述的一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法，其特征在于：

所述步驟（1）中，利用傅里葉變換紅外光譜儀進行HF基頻輻射光譜測量，測得HF振動激發態分子的自發輻射熒光光譜，主要是v=1,2,3等振動態的基頻輻射躍遷，產生的光譜譜帶包括1-0,2-1,3-2。

3.按照權利要求2所述的一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法，其特征在于：

對所得的光譜圖進行數據處理的具體步驟包括：

（1）讀取各振動譜帶的R支和P支譜線強度I_v,J；

（2）利用公式得到量Ln(I/wag)，其中I_v,J為譜線強度，ω_v,_J為躍遷波數，A_v,_J為愛因斯坦自發輻射系數，g_v,_J為上能級簡并度；

（3）利用公式得到量hcF_u/k，其中h為普朗克常數，c為光速，k為波爾茲曼常數，E_v,J為轉動能級。

4.按照權利要求1所述的一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法，其特征在于：

得到HF分子轉動溫度的步驟為，對1-0振動譜帶的R支轉動譜線進行處理，以量hcF_u/k對量Ln(I/wag)作圖，剔除R0和R1兩個數據點，對剩下的數據點進行直線擬合，得到的斜率的負值就是轉動溫度T。

5.按照權利要求1所述的一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法，其特征在于：

得到HF分子v=1,2,3等振動能級的粒子數分布情況的步驟為，對1-0、2-1、3-2三個振動譜帶的P支數據進行處理后，以量Ln(I/wag)對量hcF_u/k作圖，得到三條直線，剔除顯著不符合規律的數據點，對剩下的數據點分別進行直線擬合，則根據每兩條直線的截距差值就獲知它們對應的振動能級的粒子數之比。