[發(fā)明專利]用于角膜測量的光學(xué)影像裝置以及角膜測量的方法

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• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN104706316A
• 公開（公告）日: 2015-06-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃升龍;王威;何端書;莊仲平;顏孟新;許光裕;蔡建中;周忠誠
• 申請（專利權(quán)）人: 明達醫(yī)學(xué)科技股份有限公司;黃升龍
• 主分類號: A61B3/107
• 分類號: A61B3/107;A61B3/14
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245
• 代理人: 趙蓉民

1.一種用于角膜測量的光學(xué)影像裝置，包括：

光源模塊；

第一光學(xué)元件組；

第二光學(xué)元件組，包括參考鏡；

分光器，通過所述分光器所述光源模塊提供的光線分別傳遞至所述第一光學(xué)元件組以及所述第二光學(xué)元件組；以及

影像分析單元；

其中，所述光源模塊的所述光線經(jīng)由所述分光器、所述第一光學(xué)元件組傳遞至角膜，所述光線被所述角膜反射后形成第一光線，所述第一光線再依序傳遞至所述分光器以及所述影像分析單元，

其中，所述光源模塊的所述光線經(jīng)由所述分光器傳遞至所述第二光學(xué)元件組的所述參考鏡，所述光線被所述參考鏡反射后形成第二光線，所述第二光線再依序傳遞至所述分光器以及所述影像分析單元，

其中，所述參考鏡沿第一方向移動，當(dāng)所述第一光線與所述第二光線產(chǎn)生干涉，得以獲取相對的光學(xué)路徑長。

2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)影像裝置，其中所述影像分析單元包括攝影單元。

3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)影像裝置，其中所述攝影單元為電耦合裝置攝影機或是互補性氧化金屬半導(dǎo)體攝影機。

4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)影像裝置，其中所述第一光學(xué)元件組包含反射鏡以及透鏡，通過所述分光器所述光源模塊的所述光線依序傳遞至所述第一光學(xué)元件組的所述反射鏡以及所述透鏡。

5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)影像裝置，其中所述參考鏡得以往復(fù)移動。

6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)影像裝置，其中所述參考鏡為非球面鏡或具有鍍膜的透鏡。

7.一種角膜測量的方法，其步驟包括：

提供一光線傳遞至第一光學(xué)元件組，提供又一光線傳遞至第二光學(xué)元件組，其中所述第二光學(xué)元件組包括參考鏡；

將所述角膜沿第一方向分成多個獲取區(qū)域；

通過所述第一光學(xué)元件組將所述光線傳遞角膜，并依序測量所述獲取區(qū)域，且所述測量步驟包括：

使所述光線匯聚于所述獲取區(qū)域；

所述光線被所述獲取區(qū)域反射以形成第一光線；

所述光線被所述參考鏡反射以形成第二光線；

耦合所述第一光線以及所述第二光線；

沿第一方向移動所述參考鏡；以及

當(dāng)所述第一光線與所述第二光線產(chǎn)生干涉，停止移動所述參考鏡，獲取所述第一光線與所述第二光線的相對的光學(xué)路徑長，且所述光學(xué)路徑長至少包含至少兩個第一高度；

將所述第一高度分成第一群組以及第二群組；

將所述第一群組的所述第一高度疊合形成第一表面；

將所述第二群組的所述第一高度疊合形成第二表面；以及

將所述第一表面與所述第二表面疊合以形成角膜的立體圖像。

8.如權(quán)利要求7所述的角膜測量的方法，其中將所述第一群組的所述第一高度疊合形成第一表面的步驟進一步包括：

通過內(nèi)插法將所述第一高度疊合形成所述第一表面。

9.如權(quán)利要求7所述的角膜測量的方法，其中將所述第二群組的所述第一高度疊合形成第二表面的步驟進一步包括：

通過內(nèi)插法將所述第二高度疊合形成所述第二表面。

10.如權(quán)利要求7所述的角膜測量的方法，其中所述影像分析單元包括攝影單元。

11.如權(quán)利要求10所述的角膜測量的方法，其中所述攝影單元為電耦合裝置攝影機或是互補性金屬氧化物半導(dǎo)體攝影機。

12.如權(quán)利要求7所述的角膜測量的方法，其中所述第一光學(xué)元件組包含反射鏡以及透鏡，通過所述分光器所述光源模塊的所述光線依序傳遞至所述第一光學(xué)元件組的所述反射鏡以及所述透鏡。

13.如權(quán)利要求7所述的角膜測量的方法，其中所述參考鏡得以往復(fù)移動。

14.如權(quán)利要求7所述的角膜測量的方法，其中所述參考鏡為非球面鏡或具有鍍膜的透鏡。