[發明專利]共面度檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201310684498.3
• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN104713476B
• 公開（公告）日: 2018-11-09
• 發明（設計）人: 陳曉晨
• 申請（專利權）人: 華為終端（東莞）有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/03;G01B11/26
• 代理公司: 北京億騰知識產權代理事務所 11309
• 代理人: 李楠

1.一種共面度檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取集成模塊的四個測試點到激光源的距離；

選擇所述四個測試點中，與所述激光源的距離最接近的三個測試點；

調整所述集成模塊的位置，將所述三個測試點到激光源的距離調整為相同；

存儲調整后的所述三個測試點到所述激光源的第一距離；

對除所述三個測試點外的第四測試點進行激光測距，得到所述第四測試點到所述激光源的第二距離；

根據所述第一距離、第二距離的差值，得到所述集成模塊的共面度，其中，所述第一距離為所述三個測試點中的每個測試點到所述激光源的垂直距離，所述第二距離為所述第四測試點到所述激光源的垂直距離。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取集成模塊的四個測試點到激光源的距離具體為：

獲取設定的四個測試點的第一測試位置坐標值和旋轉角度；

根據所述第一測試位置坐標值和旋轉角度對將所述集成模塊進行旋轉移動，并依次測量得到所述四個測試點中每一個測試點到所述激光源的距離。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取集成模塊的四個測試點到激光源的距離具體為：

對所述集成模塊進行掃描，獲得四個測試點的第二測試位置坐標值和旋轉角度；

根據所述第二測試位置坐標值和旋轉角度對將所述集成模塊進行旋轉移動，并依次測量得到所述四個測試點中每一個測試點到所述激光源的距離。

4.一種共面度檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

測量單元，用于獲取集成模塊的四個測試點到激光源的距離；

選擇單元，用于選擇所述四個測試點中，與所述激光源的距離最接近的三個測試點；

調整單元，用于調整所述集成模塊的位置，將所述三個測試點到激光源的距離調整為相同；

存儲單元，用于存儲調整后的所述三個測試點到所述激光源的第一距離；

所述測量單元還用于，對除所述三個測試點外的第四測試點進行激光測距，得到所述第四測試點到所述激光源的第二距離；

計算單元，用于根據所述第一距離、第二距離的差值，得到所述集成模塊的共面度，其中，所述第一距離為所述三個測試點中的每個測試點到所述激光源的垂直距離，所述第二距離為所述第四測試點到所述激光源的垂直距離。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述測量單元具體包括：

獲取子單元，用于獲取設定的四個測試點的第一測試位置坐標值和旋轉角度；

測量子單元，用于根據所述第一測試位置坐標值和旋轉角度對將所述集成模塊進行旋轉移動，并依次測量所述四個測試點中每一個測試點到所述激光源的距離。

6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述測量單元具體包括：

掃描子單元，用于對所述集成模塊進行掃描，獲得四個測試點的第二測試位置坐標值和旋轉角度；

測量子單元，用于根據所述第二測試位置坐標值和旋轉角度對將所述集成模塊進行旋轉移動，并依次測量所述四個測試點中每一個測試點到所述激光源的距離。