[發明專利]用于物體的層析光聲成像的手持裝置和方法有效
| 申請號: | 201310675016.8 | 申請日: | 2013-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN103860140A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發明(設計)人: | 馬爾欽·卡茨普羅維茲 | 申請(專利權)人: | 埃索拉醫療有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 楊生平;鐘錦舜 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 物體 層析 成像 手持 裝置 方法 | ||
1.一種用于物體(8)的光聲成像的手持裝置(10)包括:
用于利用電磁輻射(5,20)特別是光來照射所述物體(8)的照射單元(2b,16),以及
用于檢測在利用電磁輻射(5,20)的照射之后在所述物體(8)中生成的聲波特別是超聲波的檢測器單元(1a,14),其中,所述檢測器單元(1a,14)包括檢測器元件陣列,
其特征在于,
凹部(6,12),其中,在所述凹部(6,12)中提供所述照射單元(2b,16)和所述檢測器元件陣列,其中,所述檢測器元件設置在所述凹部(6,12)中以使得至少一部分所述檢測器元件的表面法線(21)指向所述物體(8)上或內的感興趣區域。
2.根據權利要求1所述的手持裝置(10)包括:
容器(11),其中,所述凹部(12)與所述照射單元(16)和所述檢測器單元(14)一起設置在所述容器(11)中,和
承載架(22),其中,所述容器(11)可移動地安裝在所述承載架(22)上或內,以使得特別是當從所述物體(8)獲取圖像時,能夠朝著所述物體(6)和/或遠離所述物體(8)移動所述容器(11),其中,能夠改變所述感興趣區域的位置和/或所述物體(8)的被照射區域的位置。
3.根據前述權利要求中的任一項所述的手持裝置(10),其中,所述凹部(6,12)設置有覆蓋元件(4,18)特別是被覆蓋元件(4,18)密封,以使得所述凹部(6,12)和所述覆蓋元件(4,18)一起構成腔體,并且其中,所述腔體容納耦合介質特別是水。
4.根據權利要求3所述的手持裝置,其中,所述物體(8)的所述感興趣區域位于所述覆蓋元件(4,18)的周圍或所述覆蓋元件(4,18)的遠處。
5.根據權利要求3或4所述的手持裝置(10),其中,所述覆蓋元件(4,18)為機械柔性元件,特別是隔膜或薄膜。
6.根據權利要求3至5中的任一項所述的手持裝置(10),其中,所述覆蓋元件(18)的至少一部分具有凸面形狀,特別是墊狀的形狀。
7.根據權利要求3至6中的任一項所述的手持裝置(10),其中,所述覆蓋元件(4,18)被設置和/或設計為使得當從物體(8)獲取圖像時,所述覆蓋元件(4,18)的至少一部分與物體(8,9)接觸。
8.根據權利要求3至7中的任一項所述的手持裝置(10),其中,提供至少一個輸送單元(3b,15,15’),以用于將所述耦合介質輸送到所述凹部(6,12)中和/或從所述凹部(6,12)輸送出去。
9.根據以上權利要求中的任一項所述的手持裝置(10),其中,檢測元件陣列(1a,14)為彎曲的檢測元件陣列。
10.根據前述權利要求中的任一項所述的手持裝置(10),其中,所述凹部(12)包括至少一個彎曲的特別是凹面的表面(17)和/或由至少一個彎曲的特別是凹面的表面(17)構成。
11.根據權利要求9和10所述的手持裝置(10),其中,所述彎曲的檢測元件陣列(14)設置在所述凹部(12)的彎曲表面(17)處和/或構成所述凹部(12)的彎曲表面(17)的一部分。
12.根據權利要求10或11所述的手持裝置(10),其中,所述照射單元(16)設置在所述凹部(12)的所述彎曲表面(17)上。
13.根據權利要求10至12中的任一項所述的手持裝置(10),其中,所述凹部(12)的所述彎曲表面(17)的至少一部分被設計為特別是被成形為使得減小或避免入射到所述凹部(12)的所述彎曲表面(17)上的聲波朝著所述檢測器元件陣列(14)的反射。
14.根據前述權利要求中的任一項所述的手持裝置(10),其中,所述檢測器元件陣列(14)的形狀特別是曲率和/或尺寸和/或角視界取決于所述物體(8)的尺寸和/或所述物體(8)的所述感興趣區域的尺寸。
15.一種通過借助照射單元(2b,16)利用電磁輻射(5,20)特別是光對物體(8)進行照射,并且借助檢測元件陣列(1a,14)檢測在利用電磁輻射(5,20)的照射之后在所述物體(8)中生成的聲波特別是超聲波,以進行所述物體(8)的光聲成像的方法,
其特征在于,
在所述凹部(6,12)中提供所述照射單元(2b,16)和所述檢測器元件陣列(1a,14),所述檢測器元件設置在所述凹部(6,12)中以使得至少一部分所述檢測器元件的表面法線(21)指向所述物體(8)上或內的感興趣區域。
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