[發(fā)明專利]一種消除光電器件內(nèi)部殘余待測氣體影響的氣體檢測系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310670630.5 | 申請日: | 2013-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN103616332A | 公開(公告)日: | 2014-03-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 常恒泰;常軍;劉永寧;王福鵬;劉曉慧 | 申請(專利權(quán))人: | 山東大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/31 |
| 代理公司: | 濟(jì)南金迪知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37219 | 代理人: | 許德山 |
| 地址: | 250100 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 消除 光電 器件 內(nèi)部 殘余 氣體 影響 檢測 系統(tǒng) | ||
1.一種消除光電器件內(nèi)部殘余待測氣體影響的氣體檢測系統(tǒng),包括激光器驅(qū)動(dòng)模塊、溫度控制模塊、分布反饋半導(dǎo)體激光器、正向使用1*2光開關(guān)、逆向使用1*2光開關(guān)、氣室、單模光纖、光電探測器、數(shù)據(jù)采集卡及計(jì)算機(jī),其特征在于分布反饋半導(dǎo)體激光器的輸出尾纖接正向使用1*2光開關(guān)的輸入端;正向使用1*2光開關(guān)的一路輸出端連接氣室的一端,氣室的另一端接逆向使用1*2光開關(guān)的一個(gè)輸出端;正向使用1*2光開關(guān)的另一路輸出端接單模光纖,單模光纖的另一端連接逆向使用1*2光開關(guān)的另一個(gè)輸出端;逆向使用1*2光開關(guān)的輸入端連接到光電探測器的輸入端,光電探測器的輸出端連接數(shù)據(jù)采集卡的輸入端,數(shù)據(jù)采集卡的輸出端和計(jì)算機(jī)相連接;激光器驅(qū)動(dòng)模塊和溫度控制模塊分別連接分布反饋半導(dǎo)體激光器;正、逆向使用1*2光開關(guān)的控制端分別與計(jì)算機(jī)相連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種消除光電器件內(nèi)部殘余待測氣體影響的氣體檢測系統(tǒng),其特征在于所述的分布反饋半導(dǎo)體激光器的具體工作波長和待測氣體的吸收峰的波長相適配。
3.如權(quán)利要求1所述的一種消除光電器件內(nèi)部殘余待測氣體影響的氣體檢測系統(tǒng),其特征在于所述的光電探測器為InGaAs?PIN光電二極管。
4.如權(quán)利要求1所述的一種消除光電器件內(nèi)部殘余待測氣體影響的氣體檢測系統(tǒng),其特征在于所述的正向使用1*2光開關(guān)與逆向使用1*2光開關(guān)均為普通機(jī)械式光開關(guān)。
5.一種如權(quán)利要求1所述氣體檢測系統(tǒng)的工作方法,步驟如下:
1)設(shè)定合適的溫度控制參數(shù)和分布反饋半導(dǎo)體激光器電流驅(qū)動(dòng)參數(shù)使分布反饋半導(dǎo)體激光器的輸出波長周期性掃描過待測氣體的吸收峰;分布反饋半導(dǎo)體激光器驅(qū)動(dòng)電流波形為鋸齒波或三角波;
2)在一個(gè)掃描周期開始時(shí),計(jì)算機(jī)控制兩個(gè)光開關(guān)即正、逆向使用1*2光開關(guān),使分布反饋半導(dǎo)體激光器的輸出光通過串接氣室的一路,激光經(jīng)過裝有待測氣體的氣室時(shí),一部分光強(qiáng)被待測氣體吸收,剩余激光作為信號光進(jìn)入光電探測器,經(jīng)光電探測器轉(zhuǎn)換為電信號后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集卡,數(shù)據(jù)采集卡將采集到的電信號數(shù)據(jù)送入計(jì)算機(jī)當(dāng)中;
3)在下一個(gè)掃描周期開始時(shí),計(jì)算機(jī)控制兩個(gè)光開關(guān)即正、逆向使用1*2光開關(guān),使激光器的輸出光直接通過普通單模光纖而進(jìn)入無氣室的一路,作為參考光直接被導(dǎo)入光電探測器,同樣經(jīng)光電探測器轉(zhuǎn)換為電信號后由數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行采集,采集到的數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)接收、存儲(chǔ)處理;
4)將步驟2)、3)兩組數(shù)據(jù)送入計(jì)算機(jī)當(dāng)中進(jìn)行減法處理,提取出只與氣室內(nèi)氣體含量有關(guān)的信號,根據(jù)比爾-朗伯定理反演推算出待測氣體的濃度,其推算公式如下:
其中,C為待測氣體體積分?jǐn)?shù)比,i信號為得到的與氣室內(nèi)氣體含量有關(guān)的信號電壓值,a為光電轉(zhuǎn)換系數(shù),I0為激光入射氣室的平均光功率,α為待測氣體吸收系數(shù),L為氣室有效吸收光程;
5)重復(fù)步驟2)、3)、4)的檢測過程,能夠?qū)崿F(xiàn)對待測氣體實(shí)時(shí)連續(xù)的濃度的檢測。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
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