[發明專利]層去法獲取皮革樣品截面序列圖片層間距的測量方法

有效

• 申請號: 201310668069.7
• 申請日: 2013-12-11
• 公開（公告）號: CN103615986A
• 公開（公告）日: 2014-03-05
• 發明（設計）人: 張華勇
• 申請（專利權）人: 山東輕工業學院
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測量方法，具體涉及一種層去法獲取皮革樣品截面序列圖片層間距的測量方法。

背景技術

通過三維重構技術可以建立皮革三維編織網絡結構，然后對三維編織網絡結構進行研究可獲得皮革立體結構信息。要建立三維重構模型，首先就需要獲取皮革截面序列圖片。其中層去法是將皮革包埋打磨后用顯微鏡觀察獲取一個截面圖片，然后再打磨掉一定的厚度再用顯微鏡觀察獲取另一個截面圖片，如此反復，獲取一系列截面圖片。現有獲取相鄰截面間距離（層間距）的方法是用直接測量基體厚度，通過比較不同截面對應的基體厚度差計算出層間距，該方法誤差較大。還有一種采用硬度儀壓痕法測量層間距，該方法準確性較高，但需要不斷的打上壓痕，操作比較麻煩，而且該方法多用在金屬等較硬的樣品上，對于皮革及其包埋樹脂等較軟的材料，由于壓痕不清晰而較難準確應用。

發明內容

本發明針對現有技術的不足，提供一種層去法獲取皮革樣品截面序列圖片層間距的測量方法，使序列圖片層間距能夠方便準確的測量出來。?

本發明采用的技術方案如下：

一種測量皮革樣品截面序列圖片層間距的方法，其特征是在金相制樣過程中將正方形預埋到皮革樣品旁邊，然后通過逐層打磨，在顯微鏡下獲取序列截面圖片過程中同時獲取正方形截面圖像，通過測量、計算正方形截面長度變化確定序列圖片的層間距。其計算公式為：

Hmn=（Ln?–?Lm）/2

其中，Lm為第m層圖片中正方形截面長度，Ln為第n層圖片中正方形截面長度，Hmn為第m層與第n層之間的層間距。

上述一種獲取皮革截面序列圖片的方法，優選的，其步驟如下：

（1）將25質量份的環氧固化劑加入100份環氧樹脂內攪拌均勻，放到振動臺上振動5分鐘排出混入的空氣，得到樹脂膠液；

（2）將皮革樣品浸入步驟（1）配好的樹脂膠液中，使皮革樣品充分吸入樹脂，然后取出樣品，放入60℃恒溫干燥箱內固化2小時，得到固化樣條；

（3）將步驟（2）中固化好的皮革樣條各面用砂紙打磨平整，成為規則的長方體，并將需要觀察的一端用砂紙打磨到露出需要觀察的皮革截面；

（4）將兩個正方形用步驟（1）配制的樹脂膠液平整地粘到步驟（3）打磨好樣條的兩個相對的側面上，使正方形的一個頂點與步驟（3）打磨露出的需要觀察的皮革截面在同一平面上，且經過該頂點的正方形的對角線垂直于要觀察的皮革截面，等樹脂固化后兩個正方形被固定到樣條上；

（5）將步驟（4）中帶有正方形的樣條，垂直固定到模具中間位置，使帶有需要觀察截面的一端接觸模具底部。然后向模具中注入步驟（1）制得的樹脂膠液，在常溫下固化、脫模、后固化，獲得中部固定有皮革樣品的固化長方體樣塊（示意圖如圖1）；

（6）將后步驟（5）中固化好的長方體樣塊各面打磨平整，且相對的兩面平行，并將帶有正方形頂點和皮革觀察端的一面用砂紙打磨到露出需要觀察的正方形和皮革截面。然后用水砂紙進行梯度打磨，并拋光后觀察獲取正方形截面的第一層圖片，然后再用3000目砂紙打磨掉一定厚度拋光后觀察，獲取第二層的圖片，經過反復打磨、拋光、觀察，獲取正方形截面的序列圖片，同時獲取皮革截面序列圖片；

（7）通過顯微鏡測量軟件系統量取前后兩次正方形截面的長度，通過計算兩截面長度差，求得兩截面（圖片）的間隔距離，即層間距，為了準確，可取兩個相對側面上正方形截面計算出的層間距的平均值作為層間距。

所述步驟（2）的皮革樣品為長10～20mm、寬1～5mm的皮革條。

?所述步驟（4）的正方形材質為金屬或塑料薄片，其厚度為1-10um，厚薄均勻，邊長1-3mm，邊角平滑。

所述步驟（5）的模具為長50mm，寬40mm，高20mm長方形桶狀模具。

所述步驟（6）中的砂紙梯度打磨為依次用200目、320目、600目、1000目、1500目、2000目、3000目水砂紙打磨。

所述步驟（6）中的拋光為100～300轉/分鐘，拋光機拋光1～2分鐘。

有益效果

?本發明的方法，通過將層間距轉化為預埋正方形一角的截面長度（等腰直角三角形斜邊）的變化，使層間距的測量隨皮革序列圖片的獲得而輕松獲得，而且可以在顯微鏡放大下觀察測量長度，使測量更精確和方便。另外，雖然運用正方形的一角作為標記物，但整個操作都是針對正方形來完成的，在操作方便性和準確性上都大大提高了。

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附圖說明????