[發明專利]一種紋理圖像的檢索方法和裝置

在審

• 申請號: 201310667580.5
• 申請日: 2013-12-10
• 公開（公告）號: CN103605811A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 徐光柱;雷幫軍;李春林
• 申請（專利權）人: 三峽大學
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30;G06K9/46
• 代理公司: 宜昌市三峽專利事務所 42103
• 代理人: 成鋼

1.一種紋理圖像的檢索的方法，其特征在于，包括：

根據旋轉不變局部二值模式算法對輸入紋理圖像進行處理，獲取所述輸入紋理圖像的結構模式圖像；

根據脈沖耦合神經網絡模型對所述輸入紋理圖像的結構模式圖像進行特征提取，得到所述輸入紋理圖像的結構特征序列；

根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列，獲取被檢索紋理圖像。

2.根據權利要求1所述一種紋理圖像的檢索的方法，其特征在于，根據旋轉不變局部二值模式算法對輸入紋理圖像進行處理，獲取結構模式圖像之前，所述方法包括：

根據旋轉不變局部二值模式算法對紋理圖像數據庫中的每幅圖像進行處理，獲取所述紋理圖像數據庫中的每幅圖像對應的結構模式圖像；

根據脈沖耦合神經網絡模型對所述紋理圖像數據庫中的每幅圖像對應的結構模式圖像進行特征提取，得到所述紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列。

3.根據權利要求1所述一種紋理圖像的檢索的方法，其特征在于，根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列，獲取被檢索紋理圖像，所述方法包括：

根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列進行相似性度量，得到所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離；

根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離，獲取被檢索紋理圖像。

4.根據權利要求3所述一種紋理圖像的檢索的方法，其特征在于，根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離，獲取被檢索紋理圖像，所述方法包括：

根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離，獲取相似性距離排序后的相似性距離序列；

根據所述相似性距離序列，獲取預設數量的被檢索紋理圖像。

5.一種紋理圖像的檢索的裝置，其特征在于，包括：

第一結構模式圖像獲取模塊，用于根據旋轉不變局部二值模式算法對輸入紋理圖像進行處理，獲取所述輸入紋理圖像的結構模式圖像；

第一結構特征序列獲取模塊，用于根據脈沖耦合神經網絡模型對所述輸入紋理圖像的結構模式圖像進行特征提取，得到所述輸入紋理圖像的結構特征序列；

被檢索紋理圖像獲取模塊，用于根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列，獲取被檢索紋理圖像。

6.根據權利要求5所述一種紋理圖像的檢索的裝置，其特征在于，包括：

第二結構模式圖像獲取模塊，用于根據旋轉不變局部二值模式算法對紋理圖像數據庫中的每幅圖像進行處理，獲取所述紋理圖像數據庫中的每幅圖像對應的結構模式圖像；

第二結構特征序列獲取模塊，用于根據脈沖耦合神經網絡模型對所述紋理圖像數據庫中的每幅圖像對應的結構模式圖像進行特征提取，得到所述紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列。

7.根據權利要求5所述一種紋理圖像的檢索的裝置，其特征在于，所述被檢索紋理圖像獲取模塊，包括：

相似性距離計算單元，用于根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列進行相似性度量，得到所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離；

被檢索紋理圖像獲取單元，用于根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離，獲取被檢索紋理圖像。

8.根據權利要求7所述一種紋理圖像的檢索的裝置，其特征在于，所述被檢索紋理圖像獲取單元包括：

排序子單元，用于根據所述輸入紋理圖像的結構特征序列和紋理圖像數據庫中的每幅圖像的結構特征序列的相似性距離，獲取相似性距離排序后的相似性距離序列；

被檢索紋理圖像獲取子單元，用于根據所述相似性距離序列，獲取預設數量的被檢索紋理圖像。