[發(fā)明專利]一種薄膜取向特性檢測裝置及其應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310661774.4 | 申請日: | 2013-12-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103674848A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張繼中 | 申請(專利權(quán))人: | 東南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/21 | 分類號(hào): | G01N21/21;G01N3/08 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 楊曉玲 |
| 地址: | 210096 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 薄膜 取向 特性 檢測 裝置 及其 應(yīng)用 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于傳感器領(lǐng)域,涉及與薄膜拉伸程度相關(guān)的薄膜取向特性檢測裝置。?
背景技術(shù)
薄膜的取向特性由于其在包括顯示、傳感及生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用前景而受到人們的高度重視。而另外一方面,人們的研究也表明薄膜的拉伸能夠影響薄膜的取向特性,因此探討薄膜的拉伸程度與薄膜的取向特性間的關(guān)系由于其在包括顯示、傳感領(lǐng)域的潛在應(yīng)用價(jià)值而具有重要的意義。?
然而,目前人們探討薄膜的拉伸程度與薄膜的取向特性間的關(guān)系均通過先獨(dú)立獲取不同拉伸程度的薄膜,然后再將這些薄膜通過相關(guān)的偏振光譜以檢測這些薄膜的取向特性。而獨(dú)立獲取不同拉伸程度的薄膜后再進(jìn)行相關(guān)取向特性的檢測不僅引入了操作誤差及不同薄膜帶來的差異性,需要檢測的薄膜數(shù)量將大大增加,而且對于一些強(qiáng)度較低、較薄從而難以操作的薄膜,其拉伸程度與取向特性間的關(guān)系的檢測將變得非常困難。為此本發(fā)明首次提出將能夠拉伸薄膜的固定組件及薄膜長度測量組件與能夠?qū)⒐潭ǖ谋∧づc偏振光譜光路匹配的支架結(jié)合,從而可以接近在線的方式同時(shí)檢測薄膜的拉伸程度及薄膜的取向特性,因此有利于取向功能薄膜的進(jìn)一步開發(fā)與應(yīng)用。?
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題:本發(fā)明的目的是提供一種適用于同時(shí)檢測薄膜拉伸程度與取向特性的裝置,有利于方便、準(zhǔn)確檢測同一薄膜的拉伸程度與取向特性間的關(guān)系,因此有利于取向功能薄膜的進(jìn)一步開發(fā)與應(yīng)用。?
技術(shù)方案:本發(fā)明的一種薄膜取向特性檢測裝置由用于固定薄膜的薄膜固定組件、用于測量薄膜長度的長度測量組件及承載上述組件使得薄膜能夠位于光譜通路的支架組成;其中,支架中的底座位于該裝置的最底部,量具及薄膜固定平臺(tái)通過平臺(tái)?固定螺絲固定在支架;?
薄膜固定組件中的固定端位于薄膜固定平臺(tái)上,移動(dòng)端位于固定端的上方,測試薄膜位于移動(dòng)端與固定端之間;長度測量組件中的主尺豎直固定在薄膜固定平臺(tái)上,副尺由副尺固定螺絲固定在主尺的側(cè)面,副尺的外端與移動(dòng)端連接。?
所述的偏振光譜包括偏振紅外光譜、偏振拉曼光譜、偏振紫外可見吸收光譜。?
所述薄膜為光通透性薄膜。?
該裝置的使用方法如下:?
首先通過薄膜固定組件的固定端固定測試薄膜的一端,而移動(dòng)端固定測試薄膜的另外一端并調(diào)整移動(dòng)端使得測試薄膜平展固定,此時(shí)長度測量組件測定測試薄膜原始長度。將該裝置置于光譜儀中并調(diào)節(jié)支架使得薄膜置于光譜光路上檢測薄膜原始偏振光譜,然后控制移動(dòng)端拉伸測試薄膜,通過長度測量組件獲取拉伸后測試薄膜的長度,然后進(jìn)一步檢測拉伸后測試薄膜的偏振光譜,重復(fù)上述過程即可同時(shí)檢測薄膜的拉伸程度及薄膜材料的取向特性的變化。?
有益效果:本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn):?
本申請首次將薄膜拉伸程度與薄膜取向特性檢測功能統(tǒng)合至一個(gè)裝置上,從而可以同時(shí)檢測薄膜拉伸程度及薄膜取向特性,因此不僅可以減少操作誤差、不同薄膜間的差異引入的誤差,而且使得其能夠適用于一些薄且強(qiáng)度較弱的薄膜的拉伸程度與取向特性的檢測,因此有助于功能取向薄膜的進(jìn)一步開發(fā)與應(yīng)用。?
附圖說明
圖1為薄膜取向特性檢測裝置示意圖。?
1、支架;底座1a,量具及薄膜固定平臺(tái)1b,平臺(tái)固定螺絲1c,?
2、長度測量組件;主尺2a,副尺2b,副尺固定螺絲2c,?
3、薄膜固定組件;移動(dòng)端3a,固定端3b,測試薄膜3c。?
圖2為二向色性比對拉伸率示意圖。?
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。?
圖1給出了薄膜取向特性檢測裝置的示意圖。該裝置由支架1、長度測量組件2及薄膜固定組件3組成。支架1由底座1a及通過平臺(tái)固定螺絲1c固定在底座上的量具及薄膜固定平臺(tái)1b組成。長度測量組件2及薄膜固定組件3通過量?具及薄膜固定平臺(tái)固定在支架上。長度測量組件包括固定的主尺2a及可以在主尺上滑移以進(jìn)行測量的副尺2b組成,副尺可以通過副尺固定螺絲2c而在主尺上固定。而薄膜固定組件則由固定端3b、移動(dòng)端3a及測試薄膜3c組成。其中固定端位于量具及薄膜固定平臺(tái)1b上并且相對平臺(tái)固定不動(dòng),而移動(dòng)端則與長度測量組件2中的副尺2b相連并可通過副尺固定螺絲2c而固定。?
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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