[發(fā)明專利]一種LCD面板檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310660420.8
• 申請日: 2013-12-09
• 公開（公告）號: CN104698611A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發(fā)明（設計）人: 王東巍
• 申請（專利權）人: 大連鑫永工業(yè)制造有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 大連東方專利代理有限責任公司 21212
• 代理人: 曲永祚

技術領域

本發(fā)明涉及液晶顯示技術領域，具體的說是涉及一種新型LCD面板檢測方法。?

背景技術

LCD是一種性能優(yōu)異的平面超薄的顯示設備，它的主要原理是以電流刺激液晶分子產生點、線、面配合背部燈管構成畫面。較傳統(tǒng)顯示器(CRT)具有優(yōu)良的顯示效果。?

傳統(tǒng)的CRT型顯示器必須通過電子槍發(fā)射電子束到屏幕，因而顯像管的管就不能太短，當屏幕增大時也必須加大體積，TFT則通過顯示屏上的電子板來改變分子狀態(tài)，以達到顯示目的，即使屏幕加大，它只需將水平面積增大即可，而體積卻不會有很大增加，而且要比CRT顯示器輕很多，同時TFT由于功耗只用于電板和驅動IC上，因而耗電量較小。?

因此在進行LCD組裝之前，對LCD面板的性能進行檢測是十分必要的，如何提高LCD面板檢測的準確性，去除不合格產品，利于提高LCD類液晶顯示產品的使用壽命。?

發(fā)明內容

鑒于已有技術存在的缺陷，本發(fā)明的目的是要提供一種新型的LCD面板檢測方法。?

為了實現上述目的，本發(fā)明的技術方案：?

一種LCD面板檢測方法，其特征在于：?

將LCD面板與檢測調試系統(tǒng)連接，利用檢測調試系統(tǒng)的色塊檢測電路對LCD面板的色塊進行逐一調試檢測，利用檢測調試系統(tǒng)的清晰度檢測電路對LCD面板的清晰度進行逐一調試檢測；并通過運算放大器將檢測數據上傳至監(jiān)控PC機；?

所述的監(jiān)控PC機用于LCD面板檢測調試系統(tǒng)進行數據信息控制；?

按照用戶對不同的LCD面板檢測要求對通過所述的監(jiān)控PC機的調試系統(tǒng)進行調試參數內容設置以進行及調試程序更換；并隨機存儲相應的調試內容。?

所述的方法還包括對檢測不合格的LCD面板進行揀選操作；所述的揀選操?作實現過程包括設置與檢測調試系統(tǒng)連接揀選機械設備控制器，通過對揀選機械設備控制器的程序設置，對檢測不合格的LCD面板進行揀選操作，所述的揀選機械設備控制器的程序設置可通過監(jiān)控PC機進行調試。?

所述的監(jiān)控PC機還包括對隨機存儲器的存儲內容進行刪除的監(jiān)控刪除程序。?

與現有技術相比，本發(fā)明的有益效果：?

本發(fā)明提供一種新型的LCD面板檢測方法，實現了簡潔有效的檢測方式，提高了LCD面板檢測精度以及提高了生產效率；同時實現了自動檢測及調試，降低了生產成本。?

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。?

本發(fā)明所述的一種LCD面板檢測方法，包括：?

將待檢測的LCD面板與相應的檢測調試系統(tǒng)連接；?

利用檢測調試系統(tǒng)的色塊檢測電路對LCD面板的色塊進行逐一調試檢測，利用檢測調試系統(tǒng)的清晰度檢測電路對LCD面板的清晰度進行逐一調試檢測；并通過運算放大器將檢測數據上傳至監(jiān)控PC機，便于監(jiān)控PC機進行記錄以及建立健康表；?

所述的監(jiān)控PC機用于LCD面板檢測調試系統(tǒng)進行數據信息控制，可以通過通訊電纜實現調試更新等過程，也可以通過無線通訊模塊實現；?

按照用戶對不同的LCD面板檢測要求，對通過所述的監(jiān)控PC機的調試系統(tǒng)進行調試參數內容設置以進行及調試程序實時更換；并將上述數據隨機存儲在數據存儲器內。?

所述的方法還包括對檢測不合格的LCD面板進行揀選操作；所述的揀選操作實現過程包括設置與檢測調試系統(tǒng)連接揀選機械設備控制器，通過對揀選機械設備控制器的程序設置，對檢測不合格的LCD面板進行揀選操作，所述的揀選機械設備控制器的程序設置可通過監(jiān)控PC機進行調試，可以對檢測不合格的LCD面板進行標號處理，便于用于辨識出相應批次的LCD面板產品，計算出產品不合格率。?

所述的監(jiān)控PC機還包括對隨機存儲器的存儲內容進行刪除的監(jiān)控刪除程序，便于定期刪除調試參數等數據內容，及時釋放存儲空間，提高系統(tǒng)運行效?率。?

以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內，根據本發(fā)明的技術方案及其發(fā)明構思加以等同替換或改變，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。?