[發(fā)明專利]一種電容檢驗方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310657220.7
• 申請日: 2013-12-04
• 公開（公告）號: CN104698305A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王榕英
• 申請（專利權(quán)）人: 大連東浦機電有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/26
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電容檢驗方法。

背景技術(shù)

電容是電子電路中必不可少的電子元器件，廣泛應用于隔直、耦合、旁路、濾波、調(diào)諧回路、能量轉(zhuǎn)換和控制電路等方面，其精度的高低直接影響著電子電路的可靠性和電路性能，電容由于標稱精度的不同可以分為普通電容和精密電容，精度范圍從±20%至±0.5%不等，電容量C的大小受電容材料、形狀、極板間的距離、溫度、濕度等多種因素影響，故同一標稱值的電容實際上的電容值往往存在一定的差別，因此實際使用時對電容的容值校驗是十分必要的，尤其是用于去耦電路中的電容，去耦電容的電容精度不夠會直接導致去耦效果不佳，進而影響電路的整體性能。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對以上問題的提出，而研制一種準確實用的電容檢驗方法。

本發(fā)明的技術(shù)手段如下：

一種電容檢驗方法，包括如下步驟：

①在待測電容與已知阻值的電阻R相互串聯(lián)構(gòu)成的回路兩端施加頻率為50Hz、電壓有效值為U的正弦交流電；

②檢測電阻R兩端的電壓U_R；

③計算待測電容兩端的電壓U_C=U-U_R；

④計算待測電容與電阻R構(gòu)成的串聯(lián)回路電流I=U_R/R；

⑤根據(jù)計算出的待測電容兩端電壓U_C和回路電流I利用公式C=I/（U_C×2?π?f）得出待測電容的電容值C；

⑥根據(jù)基準電容在頻率為50Hz的正弦交流電條件下的電容值對待測電容的容值C進行校驗差值；

⑦根據(jù)步驟⑥所述的校驗差值顯示校驗結(jié)果；

進一步地，所述正弦交流電的電壓有效值U小于待測電容的耐壓值。

由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明提供的一種電容檢驗方法，通過一種簡單準確的檢測和計算方式來獲取待測電容容值，并通過待測電容容值與基準電容容值進行差值比較得出校驗結(jié)果，整個過程能夠有效降低校驗誤差，準確實用，便于滿足實際應用的需求，尤其是當為去耦電路等對電容精度要求較高的電路選取電容時，可以利用該電容檢驗方法對電容器件進行篩選，進而利于保證待測電容的應用效果，適于廣泛推廣。

附圖說明

圖1是本發(fā)明所述方法的流程圖。

具體實施方式

如圖1所示的一種電容檢驗方法，包括如下步驟：

①在待測電容與已知阻值的電阻R相互串聯(lián)構(gòu)成的回路兩端施加頻率為50Hz、電壓有效值為U的正弦交流電；

②檢測電阻R兩端的電壓U_R；

③計算待測電容兩端的電壓U_C=U-U_R；

④計算待測電容與電阻R構(gòu)成的串聯(lián)回路電流I=U_R/R；

⑤根據(jù)計算出的待測電容兩端電壓U_C和回路電流I利用公式C=I/（U_C×2?π?f）得出待測電容的電容值C；

⑥根據(jù)基準電容在頻率為50Hz的正弦交流電條件下的電容值對待測電容的容值C進行校驗差值；

⑦根據(jù)步驟⑥所述的校驗差值顯示校驗結(jié)果；

進一步地，所述正弦交流電的電壓有效值U小于待測電容的耐壓值。

本發(fā)明提供的一種電容檢驗方法，通過一種簡單準確的檢測和計算方式來獲取待測電容容值，并通過待測電容容值與基準電容容值進行差值比較得出校驗結(jié)果，整個過程能夠有效降低校驗誤差，準確實用，便于滿足實際應用的需求，尤其是當為去耦電路等對電容精度要求較高的電路選取電容時，可以利用該電容檢驗方法對電容器件進行篩選，進而利于保證待測電容的應用效果，適于廣泛推廣。

以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。