[發明專利]用于含銅金屬層的蝕刻劑組合物及制造陣列基板的方法在審
| 申請號: | 201310656388.6 | 申請日: | 2013-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN103911614A | 公開(公告)日: | 2014-07-09 |
| 發明(設計)人: | 權五炳;金童基;李智娟 | 申請(專利權)人: | 東友精細化工有限公司 |
| 主分類號: | C23F1/18 | 分類號: | C23F1/18;C23F1/02;H01L21/77;H01L21/3213 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 楊黎峰;石磊 |
| 地址: | 韓國全羅*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 金屬 蝕刻 組合 制造 陣列 方法 | ||
1.一種用于含銅金屬層的蝕刻劑組合物,包括:5重量%至25重量%的過氧化氫;0.1重量%至5重量%的在分子中具有N-H鍵和羧基的水溶性化合物;0.1重量%至10重量%的二乙烯三胺五乙酸或其鹽;和余量的水。
2.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,其中,所述含銅金屬層包括銅或銅合金單層、具有鉬層和在所述鉬層上形成的銅層的銅-鉬層、具有鉬合金層和在所述鉬合金層上形成的銅層的銅-鉬合金層、或具有金屬氧化物層和在所述金屬氧化物層上形成的銅層的銅-金屬氧化物層。
3.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,其中,所述具有N-H鍵和羧基的水溶性化合物選自丙氨酸、氨基丁酸、谷氨酸、甘氨酸、亞氨基二乙酸、和肌氨酸中的至少一種。
4.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,其中,所述二乙烯三胺五乙酸鹽為二乙烯三胺五乙酸五鈉鹽。
5.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,還包括磷酸鹽化合物。
6.根據權利要求5所述的蝕刻劑組合物,其中,所述磷酸鹽化合物選自磷酸鈉、磷酸鉀、和磷酸銨中的至少一種。
7.根據權利要求5所述的蝕刻劑組合物,其中,以所述用于含銅金屬層的蝕刻劑組合物的總重量計,所包括的所述磷酸鹽化合物的量為0.1重量%至5重量%。
8.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,還包括無氮的有機酸。
9.根據權利要求8所述的蝕刻劑組合物,其中,所述無氮的有機酸選自乙酸、丁酸、檸檬酸、甲酸、葡萄糖酸、乙醇酸、丙二酸、戊酸、和草酸中的至少一種。
10.根據權利要求8所述的蝕刻劑組合物,其中,以所述用于含銅金屬層的蝕刻劑組合物的總重量計,所包括的所述無氮的有機酸的量為0.1重量%至5重量%。
11.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,還包括水溶性環胺化合物。
12.根據權利要求11所述的蝕刻劑組合物,其中,所述水溶性環胺化合物選自氨基四唑、咪唑、吲哚、嘌呤、吡唑、吡啶、嘧啶、吡咯、吡咯烷、和吡咯啉中的至少一種。
13.根據權利要求11所述的蝕刻劑組合物,其中,以所述用于含銅金屬層的蝕刻劑組合物的總重量計,所包括的所述水溶性環胺化合物的量為0.1重量%至5重量%。
14.根據權利要求1所述的蝕刻劑組合物,還包括含氟化合物。
15.根據權利要求14所述的蝕刻劑組合物,其中,所述含氟化合物選自氟化銨、氟化鈉、氟化鉀、氟化氫銨、氟化氫鈉、和氟化氫鉀中的至少一種。
16.根據權利要求14所述的蝕刻劑組合物,其中,以所述用于含銅金屬層的蝕刻劑組合物的總重量計,所包括的所述含氟化合物的量為0.01重量%至1重量%。
17.一種蝕刻含銅金屬層的方法,包括:
(I)在基板上形成含銅金屬層;
(II)選擇性地在所述含銅金屬層上留下光反應型材料,以露出所述含銅金屬層的一部分;和
(III)使用根據權利要求1至16中任一項所述的蝕刻劑組合物,蝕刻所述被露出的含銅金屬層。
18.一種制造用于液晶顯示器的陣列基板的方法,包括:
(a)在基板上形成柵極導線;
(b)在所述基板上形成柵極絕緣層,所述基板具有在所述基板上形成的所述柵極導線;
(c)在所述柵極絕緣層上形成半導體層;
(d)在所述半導體層上形成源極導線和漏極導線;和
(e)形成與所述漏極導線連接的像素電極,
其中,所述(a)過程包括:在所述基板上形成含銅金屬層,和使用根據權利要求1至16中任一項所述的蝕刻劑組合物,蝕刻所述含銅金屬層,以形成所述柵極導線,和
所述(d)過程包括:在所述基板上形成含銅金屬層,和使用根據權利要求1至16中任一項所述的蝕刻劑組合物,蝕刻所述含銅金屬層,以形成所述源極導線和漏極導線。
19.根據權利要求18所述的方法,其中,所述用于液晶顯示器的陣列基板為薄膜晶體管TFT陣列基板。
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