[發明專利]一種低阻抗寬帶測試夾具

在審

• 申請號: 201310654857.0
• 申請日: 2013-12-05
• 公開（公告）號: CN104698227A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發明（設計）人: 叢密芳;王帥;李科;任建偉;杜寰
• 申請（專利權）人: 上海聯星電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所 11302
• 代理人: 劉杰

1.一種低阻抗寬帶測試夾具，用于LDMOS器件的測量操作；其特征在于，包括：阻抗變換器和支撐件；所述阻抗變換器固定在所述支撐件上；所述阻抗變換器包括：第一漸變微帶線、第一偏置電路、第二漸變微帶線以及第二偏置電路；所述第一漸變微帶線、所述第一偏置電路、所述第二漸變微帶線以及所述第二偏置電路印刷在PCB板上；所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線夾住待測LDMOS器件；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線相連；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線相連。

2.如權利要求1所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于：所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線均為100節。

3.如權利要求2所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于：所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線的長度均大于210mm。

4.如權利要求1～3任一項所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于，所述第一偏置電路和所述第二偏置電路還包括：扇形電容；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線結點兩側分別設置一個扇形電容；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線結點兩側分別設置一個扇形電容。

5.如權利要求4所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于：所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線均為Klopfenstein漸變微帶線。

6.如權利要求1所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于，所述支撐件包括：底板和載板；所述PCB板固定在所述底板上；所述底板通過所述載板支撐。

7.如權利要求6所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于，所述載板包括：支撐板和底座；所述支撐板固定在所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線中間，用于承載待測的LDMOS器件；所述支撐板通過底座固定。

8.如權利要求7所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于：所述支撐板和底座為金屬材質的一體成型結構。

9.如權利要求8所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于：所述支撐板和底座為銅質。