[發(fā)明專利]高壓開關(guān)綜合測試儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310652847.3 | 申請日: | 2013-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN103675662A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 關(guān)曉東;張榮海 | 申請(專利權(quán))人: | 哈爾濱理大晟源科技開發(fā)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/327 | 分類號: | G01R31/327 |
| 代理公司: | 哈爾濱東方專利事務(wù)所 23118 | 代理人: | 陳曉光 |
| 地址: | 150040 黑龍江省*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高壓 開關(guān) 綜合 測試儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種高壓開關(guān)綜合測試儀。
背景技術(shù):
高壓開關(guān)測試儀是基于高性能工業(yè)嵌入式平臺,具有高速數(shù)據(jù)采集分析處理能力,能抵御強(qiáng)電磁場干擾,同時具有多路高壓開關(guān)動特性同時分析和測試精度高等特點(diǎn),在進(jìn)行高壓開關(guān)規(guī)定項目參數(shù)測試的同時,儀器能夠提供精確的特性曲線和相應(yīng)的分析計算功能。針對不同開關(guān)的不同測試要求,本儀器具有豐富完善的用戶自定義功能,但是,目前使用的高壓開關(guān)綜合測試儀性能差,操作復(fù)雜,數(shù)據(jù)容易受到干擾,測量不可靠,功能局限。
發(fā)明內(nèi)容:
本發(fā)明的目的是提供一種高壓開關(guān)測試儀。
上述的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種高壓開關(guān)綜合測試儀,其組成包括:外殼,所述的外殼內(nèi)部包括微處理器,所述微處理器分別與顯示電路、按鍵控制電路、掃頻震蕩器、濾波器、取樣器、檢波器、衰減器、網(wǎng)絡(luò)分析儀、X-Y記錄儀、精密衰減器、定標(biāo)失配器、受試開關(guān)連接,所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀與精密衰減器連接。
所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的外殼上具有顯示屏、控制按鍵,所述的顯示屏與所述的顯示電路連接,所述的控制按鍵與所述的按鍵控制電路連接。
所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的掃頻振蕩器接收水平掃描信號和檢波器信號并傳遞給濾波器。
所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的濾波器分別與所述的取樣器、所述的檢波器連接。
所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀接受衰減器的信號,所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)送垂直信號到所述的X-Y記錄儀。
所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的定標(biāo)失配器接收精密衰減器信號與所述的受試開關(guān)相連。
有益效果:
1.?可做電動操作和手動操作,適且500KV電壓等級以內(nèi)各種高壓斷路器的機(jī)械動特性測試,能夠?qū)崿F(xiàn)斷路器的單合、單分、合分、重合,重分操作
2.?可實(shí)測行程和自定義行程接線方便,操作簡單,操作時只需一次合(分)動作便可得到合(分)全部數(shù)據(jù),可選擇保存50組數(shù)據(jù),提供后期查詢和上傳電腦永久保存,也可現(xiàn)場調(diào)閱打印所有數(shù)據(jù)及運(yùn)動曲線圖;
3.?數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,抗干擾性強(qiáng),體積小,重量輕,美觀大方;
4.?機(jī)內(nèi)配有時鐘電路,可顯示當(dāng)前年、月、日、時、分、秒,即使斷電,也能自動保存設(shè)置數(shù)據(jù)及測試數(shù)據(jù),機(jī)內(nèi)帶有延時保護(hù)功能,斷路器動作后能自動切斷動作電源,很好的保護(hù)了斷路器設(shè)備和高壓開關(guān)測試儀;
5.?儀器內(nèi)置直流電源,可選擇范圍:30-270V/10A),不存在常規(guī)整流電源輸出瞬間的電壓跌落,用以試驗(yàn)開關(guān)動作電壓非常精確,能動態(tài)地為您分析出斷路器每1ms時間內(nèi)的、行程、速度之間的關(guān)系,可配置上傳軟件,實(shí)現(xiàn)電腦存檔和網(wǎng)上查閱,?打印。
附圖說明:
附圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式:
實(shí)施例1:
一種高壓開關(guān)測試儀,其組成包括:外殼1,所述的外殼內(nèi)部包括微處理器2,所述微處理器分別與顯示電路3、按鍵控制電路4、掃頻震蕩器5、濾波器6、取樣器7、檢波器8、衰減器9、網(wǎng)絡(luò)分析儀10、X-Y記錄儀11、精密衰減器12、定標(biāo)失配器13、受試開關(guān)連接14,所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀與精密衰減器連接。
實(shí)施例2:
根據(jù)實(shí)施例1所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的外殼上具有顯示屏、控制按鍵,所述的顯示屏與所述的顯示電路連接,所述的控制按鍵與所述的按鍵控制電路連接。
實(shí)施例3:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的掃頻振蕩器接收水平掃描信號和檢波器信號并傳遞給濾波器。
實(shí)施例4:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的濾波器分別與所述的取樣器、所述的檢波器連接。
實(shí)施例5:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀接受衰減器的信號,所述的網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)送垂直信號到所述的X-Y記錄儀。
實(shí)施例6:
根據(jù)實(shí)施例1或2所述的高壓開關(guān)綜合測試儀,所述的定標(biāo)失配器接收精密衰減器信號并與受試開關(guān)相連。
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