[發(fā)明專利]一種在線實(shí)時檢測外延片溫度的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310651793.9 | 申請日: | 2013-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN104697643B | 公開(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 嚴(yán)冬;馬鐵中;王林梓;劉健鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 北京智朗芯光科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J5/06 | 分類號: | G01J5/06 |
| 代理公司: | 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 11302 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 102206 北京市昌平*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外延片 實(shí)時溫度檢測 在線實(shí)時檢測 衰減因子 鍍膜 半導(dǎo)體檢測 準(zhǔn)確度 消除反應(yīng) 準(zhǔn)確測量 反射率 熱輻射 引入 | ||
1.一種在線實(shí)時檢測外延片溫度的方法,其特征在于:包括以下步驟:
步驟1:根據(jù)外延片的熱輻射強(qiáng)度L(λ,T),外延片的反射率R,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的熱輻射衰減因子ΔTT和所述反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子ΔTR,計(jì)算黑體輻射值Pb(λ,T),
其中,
Pb(λ,T),黑體輻射值,
L(λ,T),外延片的熱輻射強(qiáng)度,
ΔTT,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的熱輻射衰減因子,
ε(R/ΔTR),
外延片的熱發(fā)射率,
R,外延片的反射率,
ΔTR,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子;
步驟2:根據(jù)所述黑體輻射值Pb(λ,T)與所述外延片溫度T的對應(yīng)關(guān)系,得到所述外延片的溫度T,
其中,
Pb(λ,T),黑體輻射值,
h,普朗克常數(shù),
k,玻爾茲曼常數(shù),
c,光速,
λ,波長,
T,溫度;
其中,
當(dāng)所述反應(yīng)腔窗口鍍膜為理想不透明、光滑、平整的表面時,
所述ε(R/ΔTR)=1-R/ΔTR
其中,
R,外延片的反射率,
ΔTR,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子,
ε(R/ΔTR),
外延片的熱發(fā)射率;
當(dāng)所述反應(yīng)腔窗口鍍膜為透明、單面襯底拋光,
所述
ε(R/ΔTR)=εcarr(1-R/ΔTR)(1-Rdiff){1+R/ΔTR×Rdiff+(1
-εcarr)[(Rdiff+R/ΔTR(1-Rdiff)2)]}
其中,
ε(R/ΔTR),
外延片的熱發(fā)射率,
R,外延片的反射率,
Rdiff,不平滑襯底的散射率,
εcarr,石墨基座的熱發(fā)射率,
ΔTR,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述外延片的反射率R的計(jì)算方法如下:
其中,
R,外延片的反射率,
m,參考光與入射光的光強(qiáng)比率,
I反,外延片的反射光強(qiáng)度,
I參,外延片的參考光強(qiáng)度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述m的值根據(jù)得到,
其中,
R標(biāo)準(zhǔn),具有標(biāo)準(zhǔn)反射率的外延片的反射率,
m,參考光與入射光的光強(qiáng)比率,
I反,外延片的反射光強(qiáng)度,
I參,外延片的參考光強(qiáng)度。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子ΔTR的計(jì)算方法如下:
其中,
ΔTR,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子,
R,外延片的反射率,
R0,外延片的理想反射率。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的熱輻射衰減因子ΔTT的計(jì)算方法如下:
其中,
ΔTT,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的熱輻射衰減因子,
ΔTR,反應(yīng)腔窗口鍍膜引起的反射率衰減因子。
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