[發明專利]一種非接觸式漏電檢測儀

有效

• 申請號: 201310651398.0
• 申請日: 2013-12-06
• 公開（公告）號: CN103675590B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發明（設計）人: 楊玉明;朱忠博;劉建;張德金;韓振泉
• 申請（專利權）人: 國網山東夏津縣供電公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 濟南魯科專利代理有限公司37214
• 代理人: 周長義,崔民海

1.一種非接觸式漏電檢測儀，其特征在于：該檢測儀是由漏電微弱信號高增益接收器、低噪聲信號放大器、信號采集與分析器、輸出指示裝置四個部分構成；所述微弱信號高增益接收器主要是對漏電電流信號進行接收；是由高增益磁場耦合天線構成的，所述低噪聲信號放大器主要是將信號探測器檢測到的漏電信號進行放大；是由低通增益濾波器、低噪聲高增益運算放大器、低通濾波器和電平調節器構成的，?所述信號采集與分析器是將探測器所接收的信號進行分析確定漏電信號的強度、路徑方向等，是由模數轉換電路和中央處理器構成的，?所述輸出指示裝置是由液晶顯示器和聲音告警兩部分組成，液晶顯示屏可通過數字、圖示、聲音等顯示漏電信號的強弱及路徑，由中央處理器進行驅動，聲音告警部分負責對漏電信號強度超限的情況進行提示，由中央處理器驅動。

2.按照權利要求1所述的非接觸式漏電檢測儀，其特征在于：所述的磁場耦合天線頻段須覆蓋50Hz磁場波段；是多匝漆包線和高磁導率磁芯骨架組成的，其匝數為95匝。

3.按照權利要求1所述的非接觸式漏電檢測儀，其特征在于：所述低噪聲信號放大器是用運算放大器加阻容π型濾波器構成低通增益濾波器、低噪聲高增益運算放大器、運算放大器加阻容π型濾波器構成低通增益濾波器構成的，其中高增益低噪聲放大器位于兩個濾波器中間，作為主放大器；第一個低通增益濾波器采用LM358運算放大器實現，阻容π型濾波器阻容網絡為1KΩ、1uf和1KΩ，低噪聲高增益放大器采用AD620實現，第二級低通增益濾波器和第一級相同。

4.按照權利要求1所述的非接觸式漏電檢測儀，其特征在于：所述信號采集與分析部分是由ADC0832模數轉換器和單片機構成的。

5.按照權利要求1所述的非接觸式漏電檢測儀，其特征在于：該探測儀設有殼體（5），殼體（5）上設有面板（1）、顯示屏（2）、轉換開關（3）及信號調節旋扭（4），所述的殼體（5）內設有線路板（12），線路板（12）上設有插槽，低通增益濾波器（6）、低噪聲高增益運算放大器（7）、低通濾波器（8）、電平調節器（9）、模數轉換電路（10）及中央處理器（11）設置在線路板（12）上，由鋰電池（13）給線路板（12）供電。