[發(fā)明專利]一種RFID讀寫器老化測試輔助裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310643271.4
• 申請日: 2013-12-05
• 公開（公告）號: CN103675541A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發(fā)明（設計）人: 劉海波;鐘旭
• 申請（專利權）人: 成都天志大行信息科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 成都華典專利事務所(普通合伙) 51223
• 代理人: 徐豐;楊保剛

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技術領域

本發(fā)明涉及測量電變量技術領域，尤其是一種RFID讀寫器老化測試輔助裝置。

背景技術

RFID讀寫器老化測試，是指將成品讀寫器放置到含有水蒸氣、高溫、低溫或高溫高濕綜合的環(huán)境中進行長時間的測試，觀察產(chǎn)品的耐濕、耐溫度、耐低溫或耐高濕高溫的性能，以期改進產(chǎn)品設計，使產(chǎn)品符合多種惡劣環(huán)境下正常工作的需求。

傳統(tǒng)的RFID讀寫器老化測試，多是用一根串口線一頭連接放置到老化箱中的讀寫器，一頭連接到老化箱外PC機的串口上，進行老化測試的時候，保持讀寫器與PC機進行通信，使用PC機上的上位機軟件進行總次數(shù)和成功次數(shù)的累積。當需要大批量進行讀寫器老化測試的時候，往往出現(xiàn)串口不夠使用而購買大量的昂貴的串口轉(zhuǎn)接線和USB分線器的情況。而且進行這種測試方法時，老化箱內(nèi)布線混亂，更換讀寫器往往需要大量的時間。測試過程中，測試人員往往要用紙筆記錄下當前的溫度和成功率等信息，一旦遭遇斷電或者測試人員疏忽等情況，又需重新開始進行老化測試，非常麻煩。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于：針對上述存在的問題，提供一種結(jié)構簡單、使用便捷及效率高的RFID讀寫器老化測試輔助裝置。

本發(fā)明采用的技術方案如下：

本發(fā)明提供一種RFID讀寫器老化測試輔助裝置，包括MCU、繼電器、串口接口一、溫濕度傳感器接口、液晶顯示器、存儲器、擴展存儲器、按鍵、報警器、電平轉(zhuǎn)換電路和串口接口二，所述繼電器控制電源的開關，所述MCU通過串口接口一與老化箱內(nèi)的讀寫器進行通信，所述MCU通過溫濕度傳感器接口與老化箱內(nèi)的溫濕度傳感器連接，所述液晶顯示器與MCU連接并顯示測試信息，所述存儲器和擴展存儲器與MCU連接并存儲測試信息，所述按鍵對MCU進行測試操作，所述報警器與MCU連接并在在測試完成時啟動報警，所述電平轉(zhuǎn)換電路連接在MCU與串口接口二之間進行電平轉(zhuǎn)換，所述串口接口二實現(xiàn)MCU與上位機的通信。

對上述方案進行優(yōu)選，所述MCU采用?MSP430F149單片機。

對上述方案進行優(yōu)選，所述溫濕度傳感器接口為DHT11溫濕度傳感器接口。

對上述方案進行優(yōu)選，所述液晶顯示器為LCD12864液晶顯示器。

對上述方案進行優(yōu)選，所述存儲器和擴展存儲器均為AT24C256存儲芯片。

對上述方案進行優(yōu)選，所述電平轉(zhuǎn)換電路采用MAX3232收發(fā)器。

對上述方案進行優(yōu)選，所述串口接口二采用DB9串口接口。

綜上所述，由于采用了上述技術方案，本發(fā)明的有益效果是：

??????????????1.?????本發(fā)明中與讀寫器通信的串口接口一定制了一個與讀寫器兼容的串口通信協(xié)議，其每一幀數(shù)據(jù)的起始幀和結(jié)束幀都與讀寫器的相一致，因此，測試人員無需修改讀寫器的任何代碼即可完成與老化測試輔助系統(tǒng)之間的通信。

??????????????2.?????本發(fā)明中的AT24C256存儲芯片可以存儲多達256KB的數(shù)據(jù)，其數(shù)據(jù)存儲形式為32768pageX8bit，即存儲空間為32768頁，每一頁含一個字節(jié)的數(shù)據(jù)，存儲內(nèi)容的形式為“幀頭（1個字節(jié)）+測試的編號（2個字節(jié)）+被測試卡片的UID號（9個字節(jié)）+溫濕度數(shù)據(jù)（2個字節(jié)）+幀尾（1個字節(jié)）”，則一片這樣的存儲芯片可以存儲多達2150的測試數(shù)據(jù)，這基本上滿足了測試測試的需要，多余的存儲空間將用來儲存測試的總次數(shù)、時間和成功率數(shù)據(jù)。

??????????????3.?????測試人員對本發(fā)明參數(shù)設置完成之后，無需進行任何監(jiān)察和其他操作，只需等待測試結(jié)束后利用液晶顯示器查詢測試結(jié)果并進行匯總即可。在突然遭遇斷電時，測試人員也無需進行任何操作，本發(fā)明會在重新上電時自動啟動老化箱到上一次的斷點處繼續(xù)測試，完全解放了測試人員。而且這個裝置成本低、體積小、安裝方便，用戶只需要投入很少的資金就可以獲得很高的效率。

附圖說明

本發(fā)明將通過例子并參照附圖的方式說明，其中：

圖1是一種RFID讀寫器老化測試輔助裝置的外部連接結(jié)構框圖；

圖2是一種RFID讀寫器老化測試輔助裝置的內(nèi)部連接結(jié)構框圖。

具體實施方式

本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥的特征和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。

下面結(jié)合圖1、圖2對本發(fā)明作詳細說明。