[發(fā)明專利]二次先蝕后鍍金屬框減法埋芯片正裝平腳結(jié)構(gòu)及工藝方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310642041.6 | 申請日: | 2013-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN103681579A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁志忠;梁新夫;王亞琴 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇長電科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/495 | 分類號: | H01L23/495;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60 |
| 代理公司: | 江陰市同盛專利事務(wù)所(普通合伙) 32210 | 代理人: | 唐紉蘭 |
| 地址: | 214434 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二次 先蝕后 鍍金 減法 芯片 正裝平腳 結(jié)構(gòu) 工藝 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種二次先蝕后鍍金屬框減法埋芯片正裝平腳結(jié)構(gòu)及工藝方法,屬于半導(dǎo)體封裝技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)的四面扁平無引腳金屬引線框結(jié)構(gòu)主要有兩種:?
一種是四面扁平無引腳封裝(QFN)引線框,這種結(jié)構(gòu)的引線框由銅材金屬框架與耐高溫膠膜組成(如圖19所示);
一種是預(yù)包封四面扁平無引腳封裝(PQFN)引線框,這種結(jié)構(gòu)的引線框結(jié)構(gòu)包括引腳與基島,引腳與基島之間的蝕刻區(qū)域填充有塑封料(如圖20所示)。
上述傳統(tǒng)金屬引線框存在以下缺點(diǎn):
1、傳統(tǒng)金屬引線框作為裝載芯片的封裝載體,本身不具備系統(tǒng)功能,從而限制了傳統(tǒng)金屬引線框封裝后的集成功能性與應(yīng)用性能;
2、由于傳統(tǒng)金屬引線框本身不具備系統(tǒng)功能,只能在引線框正面進(jìn)行芯片及組件的平鋪或者堆疊封裝,而功率器件與控制芯片封裝在同一封裝體內(nèi),功率器件的散熱會(huì)影響控制芯片信號的傳輸;
3、由于傳統(tǒng)金屬引線框本身不具備系統(tǒng)功能,所以多功能系統(tǒng)集成模塊只能在傳統(tǒng)金屬引線框正面通過多芯片及組件的平鋪或堆疊而實(shí)現(xiàn),相應(yīng)地也就增大元器件模塊在PCB上所占用的空間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述不足,提供一種二次先蝕后鍍金屬框減法埋芯片正裝平腳結(jié)構(gòu)及工藝方法,它能夠解決傳統(tǒng)金屬引線框缺乏系統(tǒng)功能的問題。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種二次先蝕后鍍金屬框減法埋芯片正裝平腳結(jié)構(gòu),它包括金屬基板框,所述金屬基板框內(nèi)部設(shè)置有基島和引腳,所述引腳呈臺(tái)階狀,所述基島和引腳的正面與金屬基板框正面齊平,所述引腳的背面與金屬基板框的背面齊平,所述基島背面與引腳的臺(tái)階面齊平,所述引腳的臺(tái)階面上設(shè)置有金屬層,所述基島背面通過導(dǎo)電或不導(dǎo)電粘結(jié)物質(zhì)正裝有芯片,所述芯片表面與金屬層表面之間通過金屬線相連接,所述金屬基板框內(nèi)部區(qū)域填充有塑封料,所述塑封料正面與引腳臺(tái)階面齊平,所述塑封料背面與金屬基板框背面齊平,所述基島正面、引腳的正面和背面以及金屬基板框的正面和背面設(shè)置有金屬抗氧化層或是披覆抗氧化劑(OSP)。
所述芯片與基島背面之間設(shè)置有金屬層。
一種二次先蝕后鍍金屬框減法埋芯片正裝平腳結(jié)構(gòu)的工藝方法,所述方法包括以下步驟:
步驟一、取金屬基板
步驟二、貼光阻膜作業(yè)
在金屬基板正面及背面分別貼上可進(jìn)行曝光顯影的光阻膜;
步驟三、金屬基板背面去除部分光阻膜
利用曝光顯影設(shè)備將步驟二完成貼光阻膜作業(yè)的金屬基板背面進(jìn)行圖形曝光、顯影與去除部分圖形光阻膜,以露出金屬基板背面后續(xù)需要進(jìn)行蝕刻的區(qū)域;
步驟四、蝕刻
在步驟三中金屬基板背面去除部分光阻膜的區(qū)域進(jìn)行化學(xué)蝕刻;
步驟五、去除光阻膜
去除金屬基板表面的光阻膜;
步驟六、貼光阻膜作業(yè)
在步驟四完成蝕刻的金屬基板正面及背面貼上可進(jìn)行曝光顯影的光阻膜;
步驟七、金屬基板背面去除部分光阻膜
利用曝光顯影設(shè)備將步驟六完成貼光阻膜作業(yè)的金屬基板背面蝕刻區(qū)域進(jìn)行圖形曝光、顯影與去除部分圖形光阻膜,以露出金屬基板背面蝕刻區(qū)域后續(xù)需要進(jìn)行電鍍的區(qū)域;
步驟八、電鍍金屬線路層
在步驟七中金屬基板背面蝕刻區(qū)域去除部分光阻膜的區(qū)域內(nèi)電鍍上金屬線路層,金屬線路層電鍍完成后即在金屬基板背面形成相應(yīng)的基島和引腳;
步驟九、去除光阻膜
去除金屬基板表面的光阻膜;
步驟十、裝片
在步驟八形成的基島背面通過導(dǎo)電或不導(dǎo)電粘結(jié)物質(zhì)植入芯片;
步驟十一、金屬線鍵合
在芯片正面與步驟八形成的引腳之間進(jìn)行鍵合金屬線作業(yè);
步驟十二、環(huán)氧樹脂塑封
在完成裝片打線后的金屬基板背面蝕刻區(qū)域進(jìn)行環(huán)氧樹脂塑封保護(hù);
步驟十三、貼光阻膜作業(yè)
在步驟十二完成環(huán)氧樹脂塑封后的金屬基板正面及背面貼上可進(jìn)行曝光顯影的光阻膜;
步驟十四、金屬基板正面去除部分光阻膜
利用曝光顯影設(shè)備將步驟十三完成貼光阻膜作業(yè)的金屬基板正面進(jìn)行圖形曝光、顯影與去除部分圖形光阻膜,以露出金屬基板正面后續(xù)需要進(jìn)行蝕刻的區(qū)域;
步驟十五、蝕刻
在步驟十四中金屬基板正面去除部分光阻膜的區(qū)域進(jìn)行化學(xué)蝕刻;
步驟十六、去除光阻膜
去除金屬基板表面的光阻膜;
步驟十七、電鍍抗氧化金屬層或披覆抗氧化劑(OSP)
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