[發(fā)明專利]一種檢測(cè)機(jī)柜配線的裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310637271.3
• 申請(qǐng)日: 2013-12-02
• 公開（公告）號(hào): CN103605034A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 侯艷;孫亮;房海云;葉軻
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京鐵路信號(hào)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電氣領(lǐng)域，更具體的說(shuō)是涉及一種檢測(cè)機(jī)柜配線的裝置。

背景技術(shù)

隨著計(jì)算機(jī)與網(wǎng)絡(luò)技術(shù)及工業(yè)自動(dòng)化集成的發(fā)展，數(shù)據(jù)中心的服務(wù)器、網(wǎng)絡(luò)通信設(shè)備、監(jiān)控系統(tǒng)等IT設(shè)施及工業(yè)系統(tǒng)，正在向著小型化、網(wǎng)絡(luò)化、機(jī)架化的方向發(fā)展。這都給數(shù)據(jù)中心的構(gòu)建模式帶來(lái)了新的變化，而機(jī)柜正在逐漸成為這個(gè)變化中的主角之一。

機(jī)柜是用來(lái)安裝各種IT設(shè)備的框架形柜子，廣泛應(yīng)用于擁有大量IT設(shè)備的通信、電力、工業(yè)控制、廣播電視等行業(yè)的中心機(jī)房?jī)?nèi)。由于機(jī)柜內(nèi)部端子多、接口多且種類不同，所以機(jī)柜配線變得非常復(fù)雜。并且，機(jī)柜上配線的正確性直接影響到機(jī)柜的可靠性和安全性，因此，對(duì)配線的正確性檢測(cè)是保證機(jī)柜產(chǎn)品質(zhì)量過(guò)程中不可缺少的一個(gè)環(huán)節(jié)，現(xiàn)有檢測(cè)機(jī)柜配線的裝置包括上位機(jī)、下位機(jī)、設(shè)置在待測(cè)機(jī)柜上的I/O采集工裝，I/O采集工裝與下位機(jī)通過(guò)測(cè)試電纜連接，由于待測(cè)機(jī)柜的配線多且復(fù)雜，所需的測(cè)試電纜種類和數(shù)量較多，在測(cè)試時(shí)容易出現(xiàn)電纜安裝錯(cuò)誤，造成測(cè)試不正確，另外，測(cè)試電纜的兩端一般是焊接轉(zhuǎn)接插頭，在工作中長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行以及對(duì)測(cè)試電纜拖拽，容易造成測(cè)試電纜與插頭接觸不良、斷線，導(dǎo)致配線檢測(cè)錯(cuò)誤。

因此，現(xiàn)有檢測(cè)機(jī)柜配線裝置的I/O采集工裝和下位機(jī)通過(guò)測(cè)試電纜連接，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)確的缺陷。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，為了解決現(xiàn)有檢測(cè)機(jī)柜配線裝置的I/O采集工裝和下位機(jī)通過(guò)測(cè)試電纜連接，導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)確的缺陷，提供一種檢測(cè)機(jī)柜配線的裝置，技術(shù)方案如下：

一種檢測(cè)機(jī)柜配線的裝置，用于檢驗(yàn)待測(cè)機(jī)柜的配線，包括：

上位機(jī)；

安裝在所述待測(cè)機(jī)柜上、與所述待測(cè)機(jī)柜的測(cè)試點(diǎn)連接，采集所述待測(cè)機(jī)柜配線信息的I/O采集工裝；

所述I/O采集工裝包括供電單元、無(wú)線收發(fā)單元；

所述供電單元用于給所述無(wú)線收發(fā)單元供電；

所述上位機(jī)包括無(wú)線通信單元；

所述無(wú)線通信單元通過(guò)無(wú)線信號(hào)向所述無(wú)線收發(fā)單元發(fā)送測(cè)試指令，接收所述無(wú)線收發(fā)單元傳輸?shù)乃雠渚€信息。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述無(wú)線收發(fā)單元為基于Wi-Fi的數(shù)字IO接口模塊。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述接口模塊包括數(shù)字接口單元以及基于Wi-Fi的模塊機(jī)箱。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述上位機(jī)還包括：

對(duì)所述測(cè)試信息進(jìn)行分析處理，得到測(cè)試結(jié)果，將所述測(cè)試結(jié)果傳輸至顯示單元的數(shù)據(jù)處理單元；

顯示所述測(cè)試結(jié)果的顯示單元；

保存所述測(cè)試結(jié)果的存儲(chǔ)單元。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述無(wú)線收發(fā)單元的個(gè)數(shù)至少為一個(gè)。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種檢測(cè)機(jī)柜配線的裝置，用于檢驗(yàn)待測(cè)機(jī)柜的配線，包括：

上位機(jī)；

與所述上位機(jī)連接的下位機(jī)；

安裝在所述待測(cè)機(jī)柜上、與所述待測(cè)機(jī)柜的測(cè)試點(diǎn)連接，采集所述待測(cè)機(jī)柜配線信息的I/O采集工裝；

所述下位機(jī)設(shè)置有第一無(wú)線收發(fā)單元以及第一供電單元，所述第一供電單元用于給所述第一無(wú)線收發(fā)單元供電；

所述I/O采集工裝包括第二供電單元、第二無(wú)線收發(fā)單元，所述第二供電單元用于給所述第二無(wú)線收發(fā)單元供電；

其中，所述上位機(jī)通過(guò)串行線向所述第一無(wú)線收發(fā)單元發(fā)送測(cè)試指令，所述第一無(wú)線收發(fā)單元通過(guò)無(wú)線向所述第二無(wú)線收發(fā)單元發(fā)送所述測(cè)試指令，所述第一無(wú)線收發(fā)單元接收所述第二無(wú)線收發(fā)單元傳輸?shù)乃雠渚€信息，所述第一無(wú)線收發(fā)單元將所述配線信息傳輸至所述上位機(jī)。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述第二無(wú)線收發(fā)單元包括：

第二CPU板，所述第二CPU板設(shè)置有第二MCU數(shù)字信號(hào)處理器、分別與所述第二MCU數(shù)字信號(hào)處理器連接的第二無(wú)線收發(fā)芯片、輸入電路、輸出電路；

所述輸出電路與所述待測(cè)機(jī)柜測(cè)試點(diǎn)配線的第一端連接，所述輸入電路與所述待測(cè)機(jī)柜測(cè)試點(diǎn)配線的第二端連接，所述輸出電路輸出一個(gè)高電平，通過(guò)所述待測(cè)機(jī)柜測(cè)試點(diǎn)配線后，所述輸入電路進(jìn)行采樣，將采樣后的配線信息傳輸至所述第二MCU數(shù)字信號(hào)處理器，所述第二MCU數(shù)字信號(hào)處理器將采所述配線信息通過(guò)所述第二無(wú)線收發(fā)芯片發(fā)送。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述第一無(wú)線收發(fā)單元包括：

第一CPU板，所述第一CPU板設(shè)置有第一MCU數(shù)字信號(hào)處理器、與所述第一MCU數(shù)字信號(hào)處理器連接的第一無(wú)線收發(fā)芯片。

優(yōu)選的，在上述的裝置中，所述上位機(jī)還包括：