[發明專利]太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 201310636311.2
• 申請日: 2013-12-03
• 公開（公告）號: CN103604829A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 譚卓鵬;沈劍山;周福云;鄧金雁;賀冬枚
• 申請（專利權）人: 康達新能源設備股份有限公司
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 譚一兵;曾云騰

1.?一種太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，包括：

真空加熱機構，用于提供真空環境，并對待測樣品進行加熱；

黑體，所述黑體為圓柱空腔式結構，所述黑體的空腔內設有第一熱電偶；

溫控機構，用于控制所述真空加熱機構和第一熱電偶運作；

測量機構，用于測量待測樣品和所述黑體的能量，并將所測的能量轉換成電壓信號；

驅動機構，用于驅動所述測量機構運作；

計算機處理機構，用于顯示和處理測量數據，并將處理結果存儲；

所述真空加熱機構和第一熱電偶均電性連接于所述溫控機構；所述測量機構設于所述真空加熱機構的上方位置，所述黑體位于所述測量機構的側部；所述驅動機構和計算機處理機構均電性連接于所述測量機構；所述溫控機構控制所述真空加熱機構運作，所述驅動機構驅動所述測量機構運作，所述測量機構分別對待測樣品和黑體的能量進行探測，并將探測的能量轉換成電壓信號后傳送至所述計算機處理機構。

2.根據權利要求1所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述真空加熱機構包括真空室及設于所述真空室內的加熱臺，所述真空室設有真空接口和電氣接口，所述真空室經所述真空接口連接有真空抽氣機組，所述加熱臺經電氣接口連接于所述溫控機構。

3.根據權利要求2所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述真空室的室壁為水冷結構，所述室壁上開設有循環水入口、循環水出口和氟化鈣窗口；所述加熱臺中設有第二熱電偶。

4.根據權利要求1所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述溫控機構包括PID溫度控制器和繼電器，所述PID溫度控制器電性連接于所述計算機處理機構，所述繼電器電性連接于所述PID溫度控制器。

5.根據權利要求1所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述測量機構包括探測器、鎖相放大器和數據采集卡，所述探測器位于所述真空加熱機構的正上方，所述鎖相放大器電性連接于所述探測器，所述數據采集卡電性連接于所述鎖相放大器。

6.根據權利要求5所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述探測器連接有步進電機，所述步進電機電性連接于所述驅動機構，所述驅動機構帶動步進電機轉動。

7.根據權利要求5所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述探測器的探測端外設有水冷光柵。

8.根據權利要求1所述的太陽能選擇性涂層法向發射率測試系統，其特征在于，所述計算機處理機構包括顯示模塊、處理模塊和存儲模塊，所述顯示模塊用于顯示測試數據并可進行參數輸入，所述處理模塊用于對測試數據進行處理，所述存儲模塊用于存儲處理后的數據。

9.一種太陽能選擇性涂層法向發射率的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

①、校準測試；

②、將待測樣品置于所述加熱臺上，并關閉真空室門；

③、開始抽真空，待真空室內的壓強達到10^-3Pa時，開啟真空室的室壁內的循環冷卻水，通過計算機處理機構設定好加熱溫度并開始加熱至黑體和待測樣品的溫度與設定的溫度相同；

④、所述探測器先探測出待測樣品的能量，并經所述鎖相放大器的轉換成電壓信號V_s，由所述數據采集卡將電壓信號V_s采集后傳送至所述計算機處理機構并經所述顯示模塊顯示出來；同時，所述數據采集卡控制所述驅動機構驅動所述步進電進運作，進而帶動所述探測器旋轉，并對所述黑體的能量進行探測，所探測的能量經所述鎖相放大器的轉換成電壓信號V_b，由所述數據采集卡將電壓信號V_b采集后傳送至所述計算機處理機構并經所述顯示模塊顯示出來；?

⑤、所述處理模塊對V_s和V_b進行處理，即可得到法向發射率ε=V_s/V_b；

⑥、對V_s和V_b數值測量三次以上，得出不同的ε值，取平均值即可得到待測樣品的波段法向發射率；

⑦、停止加熱，同時停止所述真空抽氣機組，取出待測樣品，完成測試。

10.根據權利要求9所述的太陽能選擇性涂層法向發射率的測試方法，其特征在于，步驟①具體包括以下步驟：

將真空抽氣機組連接于所述真空室的真空接口，將標準白板置于所述加熱臺上，關閉真空室門；

開啟真空抽氣機組與計算機處理機構，在常溫下待真空室內的壓強達到10^-3Pa，對標準白板進行測量，通過計算機處理機構實現校準及背景噪音扣除；

關閉真空抽氣機組，取出標準白板，完成校準。