[發明專利]用于四極質譜儀以便產生超分辨率質譜的指數式掃描模式

有效

• 申請號: 201310635031.X
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN103854955A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: R·A·小格羅瑟
• 申請（專利權）人: 賽默菲尼根有限責任公司
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42;G01N27/62
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 王岳;徐紅燕

1.一種質譜儀，包括：

一個四極桿，該四極桿被配置成使得一個指數式漸變的振蕩(RF)電壓和一個指數式漸變的直流(DC)電壓可以被施加至該裝置的一組電極，所述(RF)和(DC)電壓是相對于時間以指數式來進行施加，并且在該漸變進程中，被維持在相對彼此恒定的比例，因此使得所述四極桿向它的遠端選擇性地傳輸在由所述施加的電壓的幅值決定的一個質荷比值(m/z)范圍內的一個豐度的離子；

一個檢測器，該檢測器被配置在所述四極桿的該遠端的鄰近處，以便在所述施加的指數式漸變的振蕩(RF)和直流(DC)電壓的進程中采集一系列的所述豐度的離子；以及

一個處理器，該處理器被聯接到所述檢測器上并且被配置來使所述采集的系列的所述豐度的離子作為所施加的指數式(RF)和/或(DC)場的函數經受去卷積，以便提供一個質譜。

2.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述施加的指數式漸變的振蕩(RF)電壓和所述施加的指數式漸變的直流(DC)電壓在該漸變進程中不被維持在處于相對彼此恒定的比例。

3.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述檢測器包括一個單一檢測器。

4.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述檢測器包括一個二維陣列。

5.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述處理器被配置成基于如由所述檢測器提供的在時間上分辨的信息和/或在時間和空間上分辨的離子信息，使所述采集的系列的所述豐度的離子經受去卷積。

6.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述處理器被配置成用一個單一參考信號對該系列的離子圖像中的數據進行去卷積，所述參考信號代表在該多極桿的一個具體運行狀態下的一個測量到的單一離子種類。

7.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述處理器被配置成用一組多個參考信號對該系列的離子圖像中的數據進行去卷積，所述多個參考信號各自代表在該多極桿的一個具體運行狀態下一個單一離子種類的一種測量到的或一種預期的空間分布。

8.如權利要求1所述的質譜儀，進一步包括一個碰撞室，該碰撞室在一個離子路徑中相對于所述四極桿的一個入口端定位在上游。

9.如權利要求1所述的質譜儀，其中該振蕩電壓和該DC電壓的這些幅值被選擇成設定這些所傳輸的離子的在1與300AMU之間的一個m/z范圍。

10.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述四極桿被配置為一個離子阱。

11.一種質譜儀方法，包括：

通過一個四極桿來測量一個參考信號，該參考信號代表一個單一離子種類的一個測量到的或預期的在時間上的分布和/或在時間和空間上的分布，與此同時將隨時間而變化的RF和DC電壓施加至所述四極桿；

對所述四極桿施加一個指數式漸變的振蕩(RF)電壓和一個指數式漸變的直流(DC)電壓，其中在該漸變進程中所述RF和DC電壓被維持在相對彼此恒定的比例，以便向所述四極桿的遠端選擇性地傳輸有待在由所述施加的(RF)和(DC)電壓的幅值決定的一個質荷比值(m/z)范圍內測量的一個豐度的離子；

從所述四極桿的該遠端采集該豐度的離子的在時間上的或在時間與空間兩者上的測量值；

通過將所述參考信號從所采集的離子測量值去卷積來重新構建一個質譜，因此提供規則的時間間隔下的離子豐度的估算值；

將其中提供估算值的時間點變換成質荷比，從而形成一個(抽樣的)質譜；并且

并且重新構建具有相異的m/z值和由所去卷積的質譜估算的強度一個列表。

12.如權利要求11所述的方法，其中所述RF和DC電壓的施加步驟包括：在該漸變進程中施加所述RF和DC電壓，但以相對彼此非恒定的比例。

13.如權利要求11所述的方法，其中所述計算步驟進一步包括：從所述參考信號產生一個偏移的自相關向量。

14.如權利要求11所述的方法，其中所述計算步驟進一步包括：使用所述參考信號構造所述原始數據的一個矩陣形式。

15.如權利要求11所述的方法，其中使用傅里葉變換質譜法(FTMS)分析所述矩陣形式。