[發明專利]用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置及其操作方法

無效

• 申請號: 201310632267.8
• 申請日: 2013-12-02
• 公開（公告）號: CN103698245A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 黃濤;董德勝;寧遠濤;劉明;紀曉志
• 申請（專利權）人: 上海衛星裝備研究所
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 郭國中

1.一種用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置，其特征在于，包括恒溫水循環機組2、支撐柜3、真空閥門5、真空測試室6、測控機柜8、抽氣系統；

真空測試室6安裝在支撐柜3上，真空測試室6通過真空閥門5連接抽氣系統，抽氣系統安裝在支撐柜3的內部，恒溫水循環機組2用于使真空測試室6中的收集板維持在一個恒定的溫度A，測控機柜8分別連接恒溫水循環機組2、真空測試室6、抽氣系統，以提供電源和進行控制。

2.根據權利要求1所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置，其特征在于，抽氣系統包括分子泵4、無油渦旋干泵7，真空測試室6通過真空閥門5連接分子泵4、無油渦旋干泵7。

3.根據權利要求1或2所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置，其特征在于，還包括加熱系統，其中，加熱系統用于使測控機柜8的試樣室維持在一個恒定的溫度B。

4.根據權利要求1所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置，其特征在于，真空測試室6的上部為球形蓋子，下部為圓柱形腔體。

5.根據權利要求4所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置，其特征在于，還包括渦輪減速裝置，球形蓋子與渦輪減速裝置連接以實現任意位置自鎖。

6.根據權利要求3所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置，其特征在于，溫度A為25℃，溫度B為125℃。

7.一種權利要求3所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置的操作方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟(1)：將試樣放入真空測試室6，關閉真空測試室6的大門；

步驟(2)：依次開啟真空閥門5、無油渦旋干泵7，當真空測試室6內的真空度小于5Pa時開啟分子泵4；

步驟(3)：開啟恒溫水循環機組2及加熱系統，分別使真空測試室6的收集板和測控機柜8的試樣室各維持一個恒定的溫度，真空測試室6的真空度優于1×10^-4Pa；

步驟(4)：24小時后，依次關真空閥門5、分子泵4、無油渦旋干泵7，將收集板及試樣用石英晶體微量天平1測量，保存測量數據記錄；

步驟(5)：關閉石英晶體微量天平1、恒溫水循環機組2，將所述異位裝置回復到初始的狀態。

8.根據權利要求7所述的用于檢測航天器材料出氣污染的異位裝置的操作方法，其特征在于，石英晶體微量天平精度為0.01μg。