[發明專利]X波段天線的跨頻段電磁特性測量裝置及測量方法有效
| 申請號： | 201310631717.1 | 申請日： | 2013-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN103605033A | 公開（公告）日： | 2014-02-26 |
| 發明（設計）人： | 張娜;張國華;劉杰;成俊杰;高春彥;陳婷 | 申請（專利權）人： | 北京無線電計量測試研究所 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人： | 張文祎 |
| 地址： | 100854 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 波段 天線 頻段 電磁 特性 測量 裝置 測量方法 | ||
1.X波段天線的跨頻段電磁特性測量方法，其特征在于，該測量方法包括如下步驟：
1）確定X波段天線的口面直徑及端口特性；
2）確定X波段到其他波段的漸變波導段；
3）建立X波段天線電磁特性測試系統；
4）通過所述電磁特性測試系統中的網絡分析儀進行全二端口校準；
5）對所述電磁特性測試系統進行空間校準；
6）通過漸變波導對所述開環電磁特性測試系統在P波段、K波段和R波段進行電磁特性測試。
2.根據權利要求1所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測量方法，其特征在于，所述步驟1中的X波段天線的口面直徑為30cm,端口為標準3cm波導。
3.根據權利要求1所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測量方法，其特征在于，所述步驟2中的漸變波導的駐波比小于1.05，衰減為0.1dB。
4.根據權利要求1所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測量方法，其特征在于，所述步驟3中的電磁特性測試系統包括：分別連接第一和第二X波段天線的測試夾具，所述第一和第二X波段天線分別通過第一和第二X波段波導同軸轉接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網絡分析儀及校準件連接。
5.根據權利要求4所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測量方法，其特征在于，所述電磁特性測試系統還包括第一和第二X波段至其他波段的漸變波導段，所述第一和第二X波段天線分別通過第一和第二X波段至其他波段的漸變波導段與第一和第二其他波段的同軸轉接器連接。
6.X波段天線的跨頻段電磁特性測量裝置，其特征在于，所述電磁特性測試裝置包括：分別連接第一和第二X波段天線的測試夾具，所述第一和第二X波段天線分別通過第一和第二X波段波導同軸轉接器連接第一和第二電纜，所述第一和第二電纜通過網絡分析儀及校準件連接。
7.根據權利要求6所述的X波段天線的跨頻段電磁特性測量裝置，其特征在于，該測量裝置還包括第一和第二X波段至其他波段的漸變波導段，所述第一和第二X波段天線分別通過第一和第二X波段至其他波段的漸變波導段與第一和第二其他波段的同軸轉接器連接。
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